Термоэлектрическое устройство для контроля толщины слоев двухслойных проводящих материалов
Изобретение относится к измерительной технике. Устройство снабжено тепловым экраном, окружающим электрически изолированный от него горячий измерительный термощуп с нагревателем и представляющим собой полый толстостенный металлический цилиндр, выполненный из материала с высокой теплопроводностью, создающий тепловое поле с плоскими изотермическими поверхностями, одна из которых совпадает с границей раздела слоев. В теле экрана расположены дополнительный нагреватель и вспомогательный термощуп, также электрически изолированный от теплового экрана. Технический результат - устройство уменьшает погрешность измерения толщины за счет тепловой защиты измерительного канала. 2 ил.
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам контроля толщины слоев двухслойных проводящих материалов термоэлектрическим методом, и может быть использовано для контроля гальванических и других покрытий, поверхностных слоев металлических изделий, подвергнутых механическим, термическим и другим воздействиям, а также для контроля толщины слоев биметаллических материалов.Известно термоэлектрическое устройство измерения толщины проводящих покрытий на проводящей основе, содержащее измерительные термощупы, холодный и горячий с нагревателем, приваренную к нерабочему торцу горячего термощупа термопару, являющуюся источником термоЭДС для установки прибора на “нуль” с помощью потенциометра, и соединенный с ним и регулятором чувствительности гальванометр. При контактном подводе тепла от горячего термощупа к поверхности контролируемого материала в нем устанавливается тепловое поле, определяющее температуру в каждой точке материала. Толщина покрытия определяется по термоэлектродвижущей силе, возникающей на границе раздела покрытия и основы, зависящей от температуры этой границы и являющейся функцией толщины измеряемого покрытия [1].Недостатками указанного устройства являются низкая точность измерения толщины покрытия из-за несовпадения изотермических поверхностей теплового поля с нижней границей покрытия в зонах, близких к боковым граням горячего термощупа, и, следовательно, различия температур в разных точках рассматриваемой границы, а также невозможность измерения относительно больших толщин верхних слоев двухслойных материалов, так как по мере увеличения измеряемой толщины неравномерность температуры на границе раздела слоев тоже возрастает. При полусферическом тепловом поле относительное изменение температуры вдоль границы раздела слоев можно описать выражением



Формула изобретения
Термоэлектрическое устройство для контроля толщины слоев двуслойных проводящих материалов, содержащее измерительные термощупы, холодный и горячий с нагревателем, приваренную к нерабочему торцу горячего термощупа термопару, являющуюся источником термоЭДС для установки прибора на "нуль" с помощью потенциометра, и соединенный с ним и регулятором чувствительности гальванометр, отличающееся тем, что оно снабжено тепловым экраном, окружающим электрически изолированный от него горячий измерительный термощуп с нагревателем и представляющим собой полый толстостенный металлический цилиндр, выполненный из материала с высокой теплопроводностью, создающий плоское тепловое поле с плоскими изотермическими поверхностями, одна из которых совпадает с границей раздела слоев, в теле экрана расположены дополнительный нагреватель и вспомогательный термощуп, также электрически изолированный от теплового экрана, вспомогательный термощуп контактирует с контролируемой поверхностью и создает вместе с ней и горячим измерительным термощупом дифференциальную термопару, блок управления током дополнительного нагревателя, вход которого подключен к нерабочим торцам горячего измерительного и вспомогательного термощупов.РИСУНКИ
Рисунок 1, Рисунок 2
Похожие патенты:
Изобретение относится к области неразрушающего контроля металлов и сплавов
Изобретение относится к области неразрушающего контроля и может быть использовано в металлургической и машиностроительной промышленности для контроля различных свойств металлических материалов, коррелирующих с их абсолютной дифференциальной термоЭДС
Термоэлектрический способ контроля толщины электропроводящих покрытий на электропроводящей основе // 2227909
Изобретение относится к измерительной технике
Изобретение относится к измерительной технике
Изобретение относится к теплотехнике и может быть использовано в энергетике
Изобретение относится к области теплофизики
Изобретение относится к области неразрушающего контроля металлов и сплавов, а именно к термоэлектрическим методам определения химического состава и структуроскопии, контроля качества химико-термической обработки, и может быть использовано в металлургической, металлообрабатывающей и машиностроительной промышленности для контроля качества продукции
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано на трубопрокатных и других предприятиях при нанесении защитного изоляционного покрытия на трубы в производственном потоке
Изобретение относится к измерительной технике
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для непрерывной толщинометрии слоев листового и рулонного биметалла из электропроводных и ферромагнитных материалов
Изобретение относится к измерительной технике
Датчик шва ткани // 2202018
Изобретение относится к средствам контроля технологических процессов обработки ткани в текстильной промышленности и может быть использовано в отделочном производстве для обнаружения и пропуска шва ткани через рабочие органы на стригальных, мерильно-браковочных и других машинах
Накладной вихретоковый преобразователь // 2200299
Оптический микроинтерферометр // 2198379
Изобретение относится к области оптической микроскопии, а более конкретно к оптическим микроинтерферометрам, которые используются для анализа чистоты обработки поверхности, и может быть использовано в микроэлектронике и других областях техники для контроля и измерений геометрических размеров элементов технологических структур микросхем, измерения толщины и глубины залегания пленок в многослойных пленочных структурах
Изобретение относится к способу по принципу токовихревого контроля, а также к устройству для определения толщины (dr) электрически проводящего защитного слоя, нанесенного на электрически проводящий основной материал
Изобретение относится к цветной металлургии, а именно, к устройствам для электролитического получения цветных металлов в электролизерах с плоскими или пластинообразными электродами, в частности, к устройствам для автоматического контроля массы осаждаемого цинка на катодах электролизной ванны при управлении процессом электролиза