Способ измерения относительных деформаций конструкций при подключении тензорезисторов к тензометрической системе
Изобретение относится к измерительной технике и может применяться при экспериментальных исследованиях напряженно-деформированного состояния конструкций при нормальных температурах. Способ заключается в том, что кабели датчиков подсоединяют к разъемам коммутатора измерительной системы по четырехпроводной схеме, измеряют отклонения сопротивлений тензорезисторов от величины сопротивления опорного резистора измерительного устройства, проводят метрологическую поверку системы, определяют коэффициент преобразования и измеряют величину сопротивления опорного резистора, при этом кабели датчиков подсоединяют к тензорезисторам по двухпроводной схеме, измеряют сопротивление соединительных проводов, устанавливают величину опорного резистора, равную сумме номинального сопротивления тензорезистора и сопротивления соединительных проводов от тензорезистора до коммутатора. По измеренным значениям на каждой ступени нагружения конструкции определяют величину относительной деформации. Изобретение позволяет снизить затраты на изготовление измерительной системы и повышает ее точность. 1 ил.
Изобретение относится к измерительной технике и может применяться при экспериментальных исследованиях напряженно-деформированного состояния конструкций при нормальных температурах.
Одной из основных задач, которые необходимо решать при разработке многоточечных измерительных систем с целью уменьшения погрешностей измерения относительных деформаций, является учет влияния сопротивления линий связи от датчика до коммутатора и измерительного устройства и коммутирующих ключей, с помощью которых датчик через коммутатор подключается к измерительному устройству. Ранее разрабатывались приборы и системы, в которых на входе измерительного устройства ставили тензометрический мост, в одно из плеч которого через линии связи подключался тензорезистор. Потом были разработаны другие типы входных цепей. Погрешность из-за влияния ключевых элементов, с помощью которых тензорезистор подсоединялся к измерительному устройству, удалось значительно уменьшить в мостовых схемах для релейных ключевых элементов, а в четырехпроводных схемах - даже для ключевых элементов на микросхемах. Влияние линий связи также удалось значительно снизить при четырехпроводном подключении тензорезисторов. При трехпроводном подсоединении тензорезисторов уменьшается погрешность от изменения сопротивлений линий связи при испытаниях конструкций с нагревом, но систематическая погрешность из-за наличия линий связи не исключается. При проведении статических испытаний без нагревания конструкции температура окружающей среды за время проведения испытаний остается неизменной, поэтому сопротивление линий связи остается неизменным и можно применять подсоединение тензорезисторов к коммутаторам датчиков по двухпроводной схеме. Известен способ измерения относительных деформаций конструкций при подключении тензорезисторов к тензометрической системе, реализуемый в измерительной системе СИД (Т)-ЦВС (см. Баранов А.Н., Белозеров Л.Г., Ильин Ю.С., Кутьинов В.Ф. Статические испытания на прочность сверхзвуковых самолетов. М., Машиностроение, 1974 г., стр. 313-315). В системе одиночные тензорезисторы подсоединяют по двух- или трехпроводной схеме к тензометрическим мостам, которые располагают в коммутаторах датчиков первой ступени. Выходы коммутаторов первой ступени соединяют со входами коммутатора второй ступени, выходы которого соединяют со входом усилителя на несущей частоте. Питание датчиков осуществляют синусоидальным напряжением частотой 5кГц. Аналоговый сигнал после усиления и демодуляции преобразуют в цифровую форму в аналого-цифровом преобразователе и передают на ЭВМ. В системе предусмотрена автоматическая балансировка начального разбаланса моста из-за технологического разброса сопротивлений тензорезисторов относительно номинального значения 120 Ом. Для того чтобы при двухпроводном подсоединении тензорезисторов показания не выходили за шкалу измерительного устройства в смежное с тензорезистором плечо моста, устанавливали резистор, сопротивление которого равно номинальному сопротивлению линий связи от тензорезистора до коммутатора. Недостаток известного способа двухпроводного подсоединения тензорезисторов состоит в том, что не исключается погрешность из-за наличия линий связи, из-за которой измеренная относительная деформация была занижена. Кроме того, при отклонении сопротивления линий связи от номинального значения появляется дополнительная погрешность, обусловленная применением линий связи от коммутатора до датчика, отличающихся в пределах технологических допусков на изготовление от номинальной длины 20 м. Известен способ измерения относительных деформаций конструкций при подключении тензорезисторов к тензометрической системе, реализуемый в измерительной системе СИИТ-3 (см. 1. Система измерительная тензометрическая СИИТ-3. Руководство по эксплуатации 4Т2.739004РЭ. Краснодарский завод тензометрических приборов; 2. М.Л. Датчик, Н.И. Пригоровский, Г.Х. Хуршудов. Методы и средства натурной тензометрии. Справочник. М., Машиностроение, 1989 г., стр. 61-62). В системе единичные тензорезисторы подсоединяют по двух- и трехпроводной схеме к тензометрическому мосту. При двухпроводном подсоединении тензорезисторов предусмотрена возможность подключения одного компенсационного тензорезистора на 10 или 100 активных. Тензорезисторы подсоединяют к измерительному устройству через коммутатор. С помощью измерительного устройства преобразуют выходной сигнал тензорезисторов в электрическое напряжение, которое затем усиливают и преобразуют в цифровую форму. Цифровую информацию выводят на цифропечатающее устройство или с помощью интерфейсной платы выводят на ЭВМ. Питание датчиков осуществляют прямоугольными импульсами частотой 2,5 кГц. Недостаток известного способа двухпроводного подключения заключается в том, что систематическая погрешность от влияния сопротивлений линий связи, хотя и уменьшается в два раза по сравнению со способом подключения тензорезисторов в системе СИД(Т)-ЦВС, но полностью не исключается. Кроме того, применение выносимого к тензорезисторам компенсационного тензорезистора, предназначенного для уменьшения рассматриваемой погрешности, приводит к необходимости применения дополнительных тензорезисторов и проводов при монтаже тензорезисторов на конструкции и повышает трудоемкость монтажа. Известен способ измерения относительных деформаций конструкций при подключении тензорезисторов к тензометрической системе, реализуемый в измерительной системе К742 (см. 1. Система измерительная информационная К742. Техническое описание и инструкция по эксплуатации. ЗПИ.487.059ТО, 1983 г., ВНИИЭП.; 2. М.Л. Датчик, Н.И. Пригоровский, Г.Х. Хуршудов. Методы и средства натурной тензометрии. Справочник. М., Машиностроение, 1989 г., стр. 64-65). Система разработана ВНИИЭП и выпускалась на Омском заводе "Электроточприбор". В системе тензорезисторы подсоединяют к коммутаторам датчиков по четырехпроводной схеме. Коммутаторы датчиков также соединяют с измерительным устройством по четырехпроводной схеме. Питание датчиков осуществляют импульсами тока прямоугольной формы. В системе измеряют отклонение сопротивления каждого тензорезистора относительно величины сопротивления опорного резистора. Далее путем вычисления определяют величину относительной деформации на каждом i-м этапе нагружения конструкции при проведении статических испытаний по формуле:







No - то же, при величине нагрузки, равной нулю;
S - тензочувствительность тензорезистора;
А - коэффициент преобразования - тангенс угла наклона линейной зависимости показаний системы к оси приращения сопротивлений;
Rк - сопротивление опорного резистора, оно выбирается равным номинальному сопротивлению тензорезисторов, подключенных к коммутаторам датчиков. Недостатком четырехпроводного подключения тензорезисторов по сравнению с двухпроводным в условиях неизменяющихся комнатных температур является избыточность жил в кабелях от датчиков до коммутаторов не менее чем в 2 раза. Кроме того, избыточный вес кабелей датчиков утяжеляет исследуемую конструкцию (например, самолет) и требует дополнительных мер по уравновешиванию конструкции при проведении статических испытаний. Кроме того, если использовать при двухпроводном подсоединении тензорезисторов формулу вычисления относительной деформации для четырехпроводного подсоединения, то из-за неучета сопротивления линий связи появится погрешность, равная

где 2rл - сопротивления двух проходов от тензорезистора до коммутатора датчиков, Rgo - начальное сопротивление тензорезистора при нагрузке, равной нулю. Задачей изобретения является повышение точности и уменьшение не менее чем в 2 раза количества жил в кабелях датчиков при двухпроводном вместо четырехпроводного подключения тензорезисторов к коммутаторам датчиков тензометрических систем, измеряющих отклонения сопротивлений тензорезисторов от величины сопротивления опорного резистора. Техническим результатом изобретения является исключение влияния сопротивлений линий связи не величину относительной деформации конструкции при двухпроводном подсоединении тензорезисторов к коммутаторам датчиков тензометрических систем, измеряющих отклонения сопротивлений тензорезисторов от величины сопротивления опорного резистора. Технический результат достигается тем, что в способе измерения относительных деформаций конструкций при подключении к тензометрической системе, заключающемся в том, что кабели датчиков подсоединяют к разъемам коммутатора по четырехпроводной схеме, измеряют отклонения сопротивлений тензорезисторов от величины сопротивления опорного резистора, проводят метрологическую поверку системы, определяют коэффициент преобразования и измеряют величину сопротивления опорного резистора, в измерительной системе кабели датчиков подсоединяют к тензорезисторам по двухпроводной схеме, измеряют сопротивление соединительных проводов, устанавливают величину опорного резистора, равную сумме номинального сопротивления тензорезистора и сопротивления соединительных проводов от тензорезистора до коммутатора, по измеренным значениям на каждой ступени нагружения конструкции определяют величину относительной деформации по формуле

где Ni - измеренное значение отклонения сопротивления тензорезистора от величины сопротивления опорного резистора на i-й ступени нагружения конструкции;
No - то же, при величине нагрузки, равной нулю;
S - тензочувствительность тензорезистора,
A - коэффициент преобразования, определенный по результатам метрологической поверки системы;
rл - величина сопротивления одного соединительного провода от тензорезистора до коммутатора датчиков. На чертеже представлена блок-схема тензометрической системы для осуществления способа. В состав системы вводят тензорезисторы 1-3, магазин сопротивлений 4, тензокалибратор 5, коммутатор датчиков 6, модуль измерительный системный 7, ЭВМ 8. Тензорезисторы 1-3 подсоединяют к коммутатору датчиков 6 по двухпроводной схеме. Величина сопротивления каждого провода равна rл. В разъемах соединительные линии распаивают по четырехпроводной схеме, как показано на чертеже. Коммутатор 6 предназначен для четырехпроводного подсоединения тензорезисторов. Коммутатор 6 может быть многоступенчатым и конструктивно состоять из отдельных блоков. Выход коммутатора 6 соединен со входом модуля измерительного системного 7 кабелем по четырехпроводной схеме. Управление коммутатором 6 для поочередного подключения тензорезисторов к модулю 7 осуществляется модулем 7 по программе, реализуемой ЭВМ 8. Тензокалибратор 5 подсоединяют по четырехпроводной схеме к коммутатору 6 вместо тензорезисторов 1-3. Тензокалибратор 5 должен обеспечивать автоматическое ступенчатое изменение сопротивлений резисторов в пределах
(Rн+2rл)


где Rн - номинальное значение сопротивлений тензорезисторов, подключаемых к системе;
rл - величина сопротивления одного провода при двухпроводном подсоединении тензорезисторов к коммутатору датчиков;


Вывод формулы приведен в приложении 1. Например, если Rgo=100 Ом; номинальная длина кабеля датчиков 20 м; сопротивление 2rл=2 Ом, то величина 2



Формула изобретения

где Ni - измеренное значение отклонения суммарного сопротивления тензорезистора и соединительных проводов от величины сопротивления опорного резистора Rк на i-й ступени нагружения конструкции;
No - измеренное значение отклонения суммарного сопротивления тензорезистора и соединительных проводов от величины сопротивления опорного резистора Rк при величине нагрузки на конструкцию равной нулю;
S - тензочувствительность тензорезистора;
rл - величина сопротивления одного соединительного провода от тензорезистора до коммутатора датчиков;
А - коэффициент преобразования - тангенс угла наклона линейной зависимости показаний системы к оси приращения сопротивлений.
РИСУНКИ
Рисунок 1