Способ получения стекол gex s1-x (x=0,1-0,5)
Изобретение относится к области химии и может быть использовано для синтеза стекол GexS1-x(X= 0,1-0,5) особой чистоты. Задачей изобретения является снижение температуры синтеза и увеличение прозрачности стекол GexS1-x(X= 0,1-0,5) в диапазоне частот 1500-4000 см-1. В способе получения стекол GexS1-x(X= 0,1-0,5), включающем загрузку элементарных Ge и S в реакционную камеру, вакуумирование, нагревание и закалку, реакционную камеру выполняют в виде двух сообщающихся сосудов, вводят дополнительно Вr в герметичном сосуде. Затем вскрывают в ней сосуд с Вг, проводят взаимодействие компонентов шихты с Br при Тmax 550oС. Образовавшийся GeBr4 и легколетучие примеси конденсируют во втором сосуде и отпаивают его. Способ позволяет получать стекла, целевые свойства которых чувствительны к примесям.
Изобретение относится к области химии и может быть использовано для синтеза стекол GexS1-x(X=0,1-0,5) особой чистоты.
Известен способ получения халькогенидного стекла GeS2 [Ананичев В.А., Печерицин И.М., Крылов Н.И., Байдаков Л.А. Способ получения халькогенидного стекла GeS2. Патент Российской Федерации 2021218. 15.10.94. Бюл. 19.], включающий загрузку Gе2S3Вr2 в реакционную камеру, нагрев при 500-550oС в двухкамерном сосуде с обеспечением градиента температур от температуры синтеза в одной камере до комнатной температуры в другой камере, закаливание на воздухе. В аналоге использование в качестве шихты сплава Gе2S3Вr2, разлагающегося при температуре 500-550oС обеспечивает получение стекла состава GeS2. Однако способ не позволяет вводить в состав шихты Ge и S в любых соотношениях и, следовательно, получать стекла GexS1-x(X=0,1-0,5) с различными оптическими, электрическими, термическими и другими характеристиками. Способ не учитывает также возможность растворения примесей в стеклующемся расплаве в результате нарушения фазового равновесия в реакционной камере двухкамерного сосуда в процессе закалки (ликвидации градиента температур от температуры синтеза в одной камере до комнатной температуры в другой камере). Наиболее близким изобретением по технической сущности является способ получения стекол GexS1-x(X=0,1-0,5) [Борисова З.У. Халькогенидные полупроводниковые стекла. Л.: Изд. ЛГУ, 1983. 344 с.], включающий загрузку элементарных Ge и S в реакционную камеру, выполненную из кварцевого стекла, вакуумирование, нагревание до температур 900-950oС, выдержку и закалку. Степень чистоты стекол, получаемых этим способом, определяется содержанием примесей в исходных веществах Ge и S и температурно-временными условиями синтеза. Способ не позволяет удалять химически связанные с сеткой стекла легколетучие примеси водорода, кислорода и углерода, находящиеся в стекле в виде Ge-H, S-H, ОН групп и растворенные в ней молекулы Н2О, CS2, COS, вызывающие селективное поглощение в области высокой прозрачности стекол. Способ не учитывает также большую скорость поступления примесей из стенок кварцевого сосуда в расплав стекла, синтезируемого при высокой температуре, и не исключает появление в нем гетерофазных включений, рассеивающих и поглощающих излучение. Задачей изобретения является снижение температуры синтеза, увеличение прозрачности стекол GexS1-x(X=0,1-0,5) в диапазоне частот 1500-4000 см-1. Поставленная цель достигается тем, что в известном способе получения стекол GexS1-x(X=0,1-0,5), включающем загрузку Ge и S в реакционную камеру, вакуумирование, нагревание и закалку, реакционную камеру выполняют в виде двух сообщающихся сосудов, вводят дополнительно Вr в герметичном сосуде, вскрывают в ней сосуд с Вr, проводят взаимодействие компонентов шихты с Вr при Тmax

Формула изобретения
Способ получения стекол GexS1-x (x=0,1-0,5), включающий загрузку Ge и S в реакционную камеру, вакуумирование, нагревание и закалку, отличающийся тем, что реакционную камеру выполняют в виде двух сообщающихся сосудов, вводят дополнительно Вr в герметичном сосуде, вскрывают в ней сосуд с Вr, проводят взаимодействие компонентов шихты с Вr при Тmax