Способ радиационного контроля весового содержания компонентов в изделии
Использование: в области неразрушающего контроля при радиационной томографии промышленных объектов для увеличения точности получения весового распределения содержания каждого из компонентов в изделии. Сущность изобретения: облучают изделие потоком ионизирующего излучения при относительном перемещении объекта и системы измерений, регистрируют прошедшее через изделие излучение, получают с ЭВМ томограммы и выделяют области интереса, определяют средние значений линейных коэффициентов ослабления, входящих в зоны томограммы, размеры которых соответствуют выделенным областям интереса, регистрируют дополнительно сформированный сигнал, соответствующий внешней границе изделия, координаты которой используют для определения площади части изделия, входящего в область интереса, после чего производят вычисление весового содержания компонента по предлагаемой формуле. 1 ил.
Предлагаемое изобретение относится к области неразрушающего контроля внутреннего строения объектов радиационными методами.
Известен способ контроля неравномерности распределения компонентов в изделии, заключающийся в разрезке компонентов на части и химическом выделении исследуемого компонента в каждой части. Этот метод позволяет довольно точно определять вес компонентов в каждой части, но при этом происходит разрушение изделия. Известен способ неразрушающего контроля распределения поглотителя при сканировании объекта коллимированным потоком гамма-излучения и вычислении распределения величин поглощения в направлении просвечивания [1]. Недостаток этого метода- невозможность получения количественной оценки. Он позволяет получить только относительное весовое содержание компонентов, коррелированное с объемом объекта. Наиболее близким техническим решением является способ радиационной вычислительной томографии, заключающийся в том, что исследуемый объект облучают потоком проникающего излучения при относительном перемещении исследуемого объекта и системы измерений, регистрируют проходящее через исследуемый объект по заданным совокупностям траекторий излучение, получают в ЭВМ томограмму и выделяют области интереса томограммы [2]. Недостатком этого способа является получение распределения суммарной плотности всех компонентов; входящих в изделие или область интереса, а не веса каждого из компонентов. Цель предполагаемого изобретения заключается в том, чтобы увеличить точность получения весового распределения содержания каждого из компонентов в изделии. Поставленная цель достигается тем, что в способе радиационного контроля изделий, заключающемся в облучении изделия потоком проникающего излучения при относительном перемещении объекта и системы измерения, регистрации прошедшего через объект излучения, получении в ЭВМ томограммы и выделении областей интереса определяют средние значения линейных коэффициентов ослабления областей, входящих в зоны томограммы, размеры которых соответствуют выделенным областям интереса, но не превышают размера томограммы, определяют внешнюю границу изделия, входящего в эту область, по дополнительно сформированному сигналу, после чего в выделенной области по формуле вычисляют весовое содержание компонента





Формула изобретения
Способ радиационного контроля весового содержания компонентов в изделии, заключающийся в облучении изделия потоком проникающего излучения при относительном перемещении объекта и системы измерений, регистрации прошедшего через изделие излучения, получении в ЭВМ томограммы и выделении областей интереса, отличающийся тем, что для увеличения точности получения распределения весового содержания каждого из компонентов в изделии или его областях определяют средние значения линейных коэффициентов ослабления, входящих в зоны томограммы, размеры которых соответствуют выделенным областям интереса, регистрируют дополнительно сформированный сигнал, соответствующий внешней границе изделия, координаты которой используют для определения площади части изделия, входящего в область интереса, после чего производят вычисление весового содержания компонента по формуле
где

So - площадь области интереса;
Sи - площадь части изделия, входящего в область интереса;



h - толщина контролируемого слоя.
РИСУНКИ
Рисунок 1