Устройство для неразрушающего контроля поверхности объекта
Использование: предназначено для измерения физических параметров и состояния поверхности объекта. Сущность изобретения: устройство содержит источник электромагнитного излучения с цилиндрической формирующей оптической системой, выполненной в виде цилиндрической линзы, приемник оптического излучения с фокусирующей оптической системой, выполненной в виде цилиндрической линзы, подключенный к блоку обработки информации, блок сканирования - систему линейного перемещения в направлении, перпендикулярном осям цилиндрических линз. Источник оптически связан с поверхностью объекта, а приемник оптически связан через фокусирующую систему с участком поверхности, расположенным по ходу линейного перемещения перед зоной взаимодействия источника с поверхностью объекта, причем продольная ось участка параллельна оси цилиндрической формирующей оптической системы. В качестве приемника использован матричный приемник с осью расположения элементов, параллельной осям цилиндрических линз. 1 з.п. ф-лы, 1 ил.
Изобретение относится к метрологии измерению физических параметров и состояния объекта.
Известно устройство для неразрушающего контроля поверхности объекта, содержащее источник лазерного излучения с формирующей оптической системой и приемник оптического (теплового) излучения с фокусирующей оптической системой, оптически связанные с поверхностью объекта и устройство обработки информации, соединенные с выходом приемника [1] Недостатками данного устройства являются низкий контраст теплового изображения дефектов, например, трещин, не превышающий 2 и относительно большое время изменения (для одной точки не менее 0,1 c, что связано с постоянной интегрирования) и как следствие малое пространственное разрешение приблизительно 0,5 мм. Известно также устройство для неразрушающего контроля поверхности объекта, содержащее источник лазерного излучения с формирующей оптической системой, приемник оптического излучения с фокусирующей оптической системой, оптически связанные с поверхностью объекта, сканирующую систему и устройство обработки информации, соединенные с выходом (прототип) приемника [2] Недостатком данного устройства является низкая пространственная разрешающая способность приблизительно 0,4 мм из-за того, что регистрация теплового поля (температуры) производится последовательно во времени со скоростью, существенно меньшей скорости движения тепловой волны (ТВ), при этом тепловое поле вследствие термодиффузии имеет симметричное распределение, что приводит к уширению пространственного спектра теплового поля и ухудшению пространственного разрешения. Целью изобретения является увеличение пространственной разрешающей способности. Существенными признаками, общими с наиболее близкими аналогом, являются: источник электромагнитного излучения, формирующая оптическая система, приемник оптического излучения с фокусирующей оптической системой, оптически связанный с поверхностью объекта, блок обработки информации, соединенный с выходом приемника, и блок сканирования, механически связанный с объектом. Цель достигается расположением осей формирующей и фокусирующей систем перпендикулярно по направлению оси перемещения сканирующего устройства, использованием в качестве формирующей оптической системы цилиндрической линзы и выполнения блока сканирования в виде системы линейного перемещения объекта в направлении, перпендикулярном оси формирующей оптической системы, оптической связью приемника измерения через фокусирующую оптическую систему с участком поверхности объекта, расположенным по ходу линейного перемещения перед зоной взаимодействия источника излучения с поверхностью объекта, при этом ось участка параллельна оси цилиндрической линзы, а также тем, что в качестве приемника использован матричный приемник, ось расположения элементов которого параллельна оси цилиндрической линзы. На чертеже приведено предлагаемое устройство. Предлагаемое устройство содержит источник электромагнитного, в том числе оптического излучения 1, формирующую оптическую систему 2, выполненную в виде цилиндрической линзы, приемник оптического (инфракрасного ИК) излучения 3, фокусирующую оптическую систему 4, блок сканирования, состоящий из привода перемещения 7 и блока управления сканированием 8, а также блок обработки информации, состоящий из многоканального аналого-цифрового преобразователя 5 и компьютера 6. Приемник 3 оптического ИК-излучения может быть выполнен в виде матричного приемника с осью расположения элементов параллельной оси цилиндрической линзы 2. Ось цилиндрической линзы 2 расположена перпендикулярно вектору скорости V перемещения объекта 9. Источник оптического излучения 1 оптически связан через формирующую оптическую систему 2 с поверхностью объекта 9. Приемник оптического излучения 3 оптически связан через фокусирующую оптическую систему 4 с поверхностью объекта 9, ее участком, расположенным по ходу линейного перемещения перед зоной взаимодействия источника 1 с поверхностью объекта 9, на расстоянии d C2



где C0 константа, определяемая коэффициентом излучательной способности поверхности и спектральным пропусканием электронно-оптического тракта;
T стационарная температура объекта. Расстояние d между осями II-II и III-III выбирают из условий достижения максимального температурного контраста при оптимальной чувствительности
d C2

где C2 коэффициент, лежащий в диапазоне 1-2. В процессе сканирования производят считывание сигналов с элементов приемника 3 через аналого-цифровой преобразователь 5 и регистрацию их в компьютере 6 в его памяти. При этом должны выполняться условия
dt1 <a/V
dt2 <a

при последовательном считывании,
где N число элементов приемника;
dt1, dt2 интервалы времени, требуемые для считывания значения сигнала с отдельного элемента. Считывание последовательности серии измерений производят одновременно со всех элементов циклически при линейной матрице приемника и одновременно при двумерной матрице, занося при этом в память компьютера трехмерную картину распределения температур на поверхности объекта, по которой судят об изменении по поверхности объекта температуропроводности, наличии дефектов (трещин, микропор, неоднородностей). Авторами был изготовлен и испытан образец предлагаемого устройства, выполненного в соответствии со схемой, показанной на чертеже и изложенным выше описанием. В качестве источника использован лазер типа ЛТН-502. В качестве приемника приемник типа ФД-286. Аналого-цифровой преобразователь типа L-205. Привод сканирования двигатель типа ШДА-3Ф с редуктором. Компьютер типа АТ/286. При испытаниях образца из материала сталь Ст40 с использованием предлагаемого устройства получено пространственное разрешение 60 мкм, для прототипа полученное пространственное разрешение составило 400 мкм. Предлагаемое устройство может быть использовано в технологических процессах, требующих контроля характеристик поверхности объекта.
Формула изобретения

РИСУНКИ
Рисунок 1