Плазменный ионный источник
Использование: электронная техника и аналитическая химия. Задача: повышение чувствительности анализа жидкостей и газов с одновременным упрощением и улучшением аппаратурного оформления. Сущность изобретения: плазменный ионный источник содержит разрядную камеру с входной щелью, по центральной оси которой через изолятор размещено устройство для подачи рабочего вещества, которое выполнено в виде капилляра. Источник высокого напряжения соединен с капилляром и с камерой. 1 ил.
Изобретение относится к ионным источникам и может быть использовано в масс-спектрометрии для элементного анализа жидкостей и газов, в ионной технологии и т.п.
Известны ионные источники [1] используемые в масс-спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ICP-масс-спектрометрия). В этом источнике анализируемая жидкость по капилляру подается в специальную камеру, в которой она распыляется и потоком аргона подается в специальную горелку, где с помощью специального высокочастотного генератора зажимается разряд, который генерирует ионы. Самый существенный недостаток таких источников заключается в том, что доля жидкости в потоке аргона и соответственно в общем ионном пучке не превышает 1% что ограничивает чувствительность анализа. Кроме того, ввод ионов в масс-анализатор из атмосферы требует вакуумную систему с высокой производительностью. Наиболее близким к изобретению является ионный источник, применяемый в масс-спектрометрии с тлеющим разрядом (D-масс-спектрометрии), содержащий разрядную камеру и устройство для подачи анализируемого образца в виде стержня. В камеру напускается аргон до давления 10 100 Па. Между образцом и разрядной камерой прикладывается напряжение около 1 кВ с отрицательной полярностью на образце. Образец располагается в разряде, атомы ионизируются, а затем анализируются в масс-спектрометре [2] Однако такой источник используется лишь для анализа твердых тел. Задача изобретения повышение чувствительности при анализе жидкости и газов с одновременным упрощением и удешевлением прибора. Задача решается тем, что в известном источнике, содержащем разрядную камеру с выходной цепью, по центральной оси которой через изолятор размещено устройство для подачи рабочего вещества, источник высокого напряжения и систему вытягивания и фокусировки ионов, новым является то, что устройство для подачи рабочего вещества выполнено в виде капилляра. Жидкость непосредственно из атмосферы подается через капилляр в разрядную камеру ионного источника, где между капилляром и разрядной камерой прикладывается высокое напряжение. Вследствие этого у торца капилляра зажигается пламенный факел, из которого вытягивают ионы, при этом чувствительность анализа повышается до 1
Формула изобретения
Плазменный ионный источник, содержащий разрядную камеру с выходной щелью, по центральной оси которой через изолятор размещено устройство для подачи рабочего вещества, соединенное с разрядной камерой источником высокого напряжения, а также систему вытягивания и фокусировки ионов, отличающийся тем, что устройство для подачи рабочего вещества выполнено в виде капилляра.РИСУНКИ
Рисунок 1
Похожие патенты:
Плазменный масс-сепаратор // 2080161
Изобретение относится к физике плазмы, а именно к матодам и устройствам разделения изотопов в плазме
Плазменный масс-сепаратор // 2069084
Изобретение относится к масс-спектрометрии
Изобретение относится к радиационной технике и атомной энергетике и может быть использовано при изучении процессов получения радионуклидов, их паспортизации, а также исследовании отработавшего ядерного топлива
Полевой источник ионов // 2028021
Изобретение относится к аналитическому приборостроению и может быть использовано для высокочувствительного масс-спектрометрического анализа жидкостей
Изобретение относится к физическим методам исследования материалов и используется для анализа микрочастиц, объемных образцов, нелетучих органических соединений, биологических объектов, поверхностных загрязнений и дефектов
Изобретение относится к аналитическому приборостроению, а именно к элементному анализу материалов, основанному на масс-спектрометрии вторичных частиц, распыляемых при ионном облучении поверхности
Изобретение относится к области техники ионных источников и может быть использовано при проектировании ионных источников различного назначения, например, источников отрицательных ионов водорода
Изобретение относится к области электротехники, в частности к электронным и газоразрядным устройствам, и может быть использовано при создании устройств, моделирующих условия ионосферы Земли, в научных исследованиях характеристик элементарных процессов при столкновениях отрицательных ионов с нейтральными и заряженными частицами, а также при генерации атомных пучков
Источник ионов // 2071137
Изобретение относится к электрофизике, в частности к системам, служащим для получения ионов
Изобретение относится к способам управления током плазменных эмиттеров большой площади и может быть использовано в электронных и ионных источниках, генерирующих пучки с большим поперечным сечением
Способ получения пучка ионов // 1829742
Изобретение относится к ионно-пучковой технологии и может быть использовано при электромагнитной сепарации изотопов, в технике ионных ускорителей и в процессах физико-химической обработки конструкционных материалов и материалов микроэлектроники, в научных исследованиях
Ионный источник масс-спектрометра // 1233713
Источник многозарядных ионов для циклотрона // 1143249