Способ изготовления полевых транзисторов с затвором шоттки из арсенида галлия
Использование: изобретение относится к технологии получения полупроводниковых приборов. Сущность: металлизацию электродов (истока, стока и затвора) транзистора осуществляют химическим осаждением из растворов селективно через фоторезистивную контактную маску. В качестве материала затвора используют покрытие, выполненное из аморфного, тугоплавкого сплава никель-палладий-фосфор, который осаждают из никельпалладиевой ванны при температуре 96-99oC и рН 9-10.
Изобретение относится к технологии полупроводниковых приборов, в частности, к технологии изготовления полевых транзисторов с затвором Шоттки (ПТ) из арсенида галлия.
Известны способы изготовления приборов на основе барьера Шоттки из арсенида галлия, например [1] в котором металлизацию полупроводника осуществляют химическим осаждением. Однако этот способ не обеспечивает селективность осаждения металлов, а сам процесс протекает неэффективно, с малой скоростью, а образующееся при этом покрытие из палладия и золота очень тонкое и имеет слабую адгезию к основе. Поэтому этим способом нельзя изготовить ПТ. Большинство отмеченных недостатков устраняют путем металлизации полупроводника вакуумным термическим напылением. Из таких способов наиболее близким по технической сущности и достигаемым результатам к данному изобретению является [2] Способ-прототип характеризуется тем, что изготовление ПТ начинают с металлизации обратной стороны эпитаксальной структуры сплавом золото-германий. Затем с применением контактной фотолитографии и химического травления формируют метаструктуру. Вакуумным напылением сплава индий-золото-германий на фоторезистивную маску и последующим "взрывом" ее формируют омические контакты истока и стока прибора. Для получения омичности проводят кратковременную термообработку и при их температуре 400oC в чистом водороде. Далее травят канал в жидкостном травителе до заданной величины тока насыщения, изготавливают затворную маску, на нее напыляют алюминий толщиной 0,3-0,4 мкм, "взрывом" удаляют лишний металл. На контактную площадку затвора, после формирования соответствующей маски, дополнительно наносят слои хрома и золота. Удаляют лишний металл также методом "взрыва". Недостатком данного способа является, во-первых, то, что вертикальная стенка мезы очень плохо запыляется металлом. Поэтому на этом месте, в частности, между затворной площадкой и электродом затвора, возникает взрыв металлизации. Во-вторых, при "взрыве" маски не полностью удается удалить с поверхности полупроводника лишний металл, часто в местах наиболее ответственных, между омическими контактами истока и стока. С целью снижения процента брака в производстве приборов прибегают к вынужденному приему косого напыления или вращению карусели вакуумной установки; к промежуточной взрывной литографии, что дополнительно осложняет технологию производства приборов. Кроме этого, при вакуумном напылении имеет место большой расход золота с низким коэффициентом его использования (КПД); из всего количества распыляемой навески сплава или чистого драгоценного металла, что оседает непосредственно на омических контактах и затворе, составляет в сумме не более 0,5% (вес). Технический результат увеличение выхода годных приборов без снижения качества, упрощение технологии и удешевление способа за счет сокращения расхода золота достигается благодаря тому, что металлизацию омических контактов и затвора прибора осуществляют химическим методом селективно. При этом в качестве материала затвора используют аморфный сплав никель-палладий-фосфор, который осаждают из раствора, содержащего никель-палладий, при температуре 96-99oC и рН 9,0-10,0. Необходимость ведения процесса при указанных температурах и рН вызвана следующими причинами. Как показывает эксперимент, при субмикронных размерах затвора возникает размерный эффект, выражающийся в том, что затрудняется контакт раствора с поверхностью полупроводника. Особенно усиливается этот эффект, когда процесс ведут при более низких значениях температуры и рН. Это чрезмерно затягивает начало металлизации затвора, что негативным образом отражается на качестве маски. Фоторезист при этом по краям маски расплывается, канал быстро затягивается им, и металлизация раствора становится практически невозможной. Введение процесса при температуре 96-99oC и рН 9,0-10,0 значительно ослабляет этот эффект. При этом, с одной стороны, сокращается заметно инкубированный период, а с другой увеличивается скорость осаждения. Такая интенсификация процесса позволяет сохранить на необходимое время осаждения целостность маски, что обеспечивает в свою очередь высокое качество металлизации затвора. При металлизации омических контактов одновременно параллельно металлизуется и обратная сторона пластины. Но целесообразнее проводить первоначальную металлизацию обратной стороны пластины отдельно, и делать это до формирования омических контактов, а металлизацию затвора осуществлять через маску, изготовленную с наличием в модуле дополнительно омических контактов истока и стока, уменьшенных по сравнению с собственными размерами с одной стороны, со стороны затвора, на 3-7 мкм. Пример реализации способа. I. Химическая очистка и обработка пластины. Структуру арсенида галлия типа САГ-2БК в виде круглой пластины диаметром 40 мм (ее основные электрофизические параметры: подвижность электронов равна 3700см2/в

Формула изобретения
Способ изготовления полевых транзисторов с затвором Шоттки из арсенида галлия, включающий химическую очистку и обработку пластин, формирование на эпитаксиальном слое с помощью фотолитографии меза-структуры, формирование омических контактов и термообработку, формирование канала до заданного тока насыщения и затвора, отличающийся тем, что омические контакты и затвор формируют селективно химическим методом, а в качестве материала затвора используют аморфный сплав никель палладий фосфор, который осаждают из раствора, содержащего никель палладий при температуре 96 99°С и рН 9,0 - 10,0.
Похожие патенты:
Изобретение относится к способам изготовления полупроводниковых приборов, а именно полевых транзисторов с субмикронным затвором Шоттки (ПТШ), и может быть использовано при изготовлении как дискретных ПТШ, так и интегральных микросхем
Изобретение относится к полупроводниковой микроэлектронике и может быть использовано пря изготовлении полевых транзисторов с затвором в виде барьера Шоттки
Изобретение относится к электронной технике, а более конкретно к способам изготовления полупроводниковых приборов на эффекте Ганна с управляющим электродом (типа барьера Шоттки) полевых транзисторов и может быть использовано при создании как дискретных приборов, так и интегральных схем
Изобретение относится к области микро- и наноэлектроники и может быть использовано при производстве как полупроводниковых приборов и интегральных схем, так и приборов функциональной микроэлектроники: магнитоэлектроники, оптоэлектроники, акустоэлектроники, ПЗС и др
Изобретение относится к области микроэлектроники, а именно к способу изготовления полевых транзисторов с затвором типа барьера Шоттки, и может быть использовано для улучшения и стабилизации их параметров и отбраковки потенциально ненадежных приборов
Изобретение относится к области полупроводниковой техники и может быть использовано для изготовления полевых транзисторов с барьером Шоттки
Изобретение относится к электронной технике
Изобретение относится к технологии микро- и наноэлектроники
Изобретение относится к микроэлектронике и может быть использовано при изготовлении полевых транзисторов
Изобретение относится к электронной технике
Использование: в области микро- и наноэлектроники. Сущность изобретения: способ изготовления полевого нанотранзистора с контактами Шоттки на истоке/стоке и с управляющим электродом нанометровой длины включает выделение на полупроводниковой подложке активной области прибора, нанесение на поверхность полупроводниковой подложки контактного слоя истока/стока, состоящего из двух слоев - первого (нижнего), более тонкого, чем второй, стойкого к плазмохимическому травлению (ПХТ), в котором создаются заостренные края контактов Шоттки истока/стока и второго (верхнего), травящегося ПХТ, для увеличения общей толщины контактного слоя, обеспечивающего малое сопротивление контактов истока/стока, затем осаждаются слои вспомогательного слоя, состоящего из слоя диэлектрика и слоя металла, в котором методами литографии, самоформирования, плазмохимического травления формируется нанометровая щель, через которую производится плазмохимическое травление материала второго (верхнего) слоя контактного слоя истока/стока, а для дальнейшего уменьшения длины управляющего электрода и изоляции его от контактов истока/стока в сформированную нанометровую щель осаждается диэлектрик с низким значением диэлектрической проницаемости, плазмохимическим травлением на боковых стенках щели формируются диэлектрические спейсеры и изотропным химическим травлением удаляется металл первого (нижнего) слоя контактного слоя на дне щели, с последующим осаждением в эту углубленную щель подзатворного диэлектрика с высоким значением диэлектрической проницаемости и материала управляющего электрода, и проводится формирование затвора, при этом одновременно с управляющим электродом формируется контактная площадка управляющего электрода, а после удаления вспомогательного слоя с незащищенных участков формируются контактные площадки для истока/стока. Изобретения обеспечивает уменьшение длины управляющего электрода до нескольких нанометров, возможность изготовления элементов полевого нанотранзистора по самосовмещенной технологии, возможность использования металлов и силицидов металлов в качестве контактных слоев. 18 з.п. ф-лы, 12 ил.
Изобретение относится к оксиду р-типа, оксидной композиции р-типа, способу получения оксида р-типа, полупроводниковому прибору, аппаратуре воспроизведения изображения и системе. Оксид р-типа является аморфным соединением и представлен следующей композиционной формулой: xAO∙yCu2O, где x обозначает долю молей AO и y обозначает долю молей Cu2O, x и y удовлетворяют следующим условиям: 0≤x<100 и x+y=100 и А является любым одним из Mg, Са, Sr и Ва или смесью, содержащей, по меньшей мере, два элемента, выбранные из группы, состоящей из Mg, Са, Sr и Ва. Оксид р-типа производится при относительно низкой температуре и в реальных условиях и способен проявлять отличные свойства, то есть достаточную удельную электропроводность. 7 н. и 4 з.п. ф-лы, 36 ил., 8 табл., 52 пр.