Способ нейтрализации положительных ионов
Использование: генерация пучков нейтральных частиц. Сущность изобретения: для повышения эффективности нейтрализации положительных ионов осуществляют резонансную перезарядку ионов на атомах нейтрализующего газа, предварительно переведенных в возбужденное состояние. Возбуждение атомов можно производить путем их облучения лазерным излучением. Нейтрализацию тяжелых положительных ионов для уменьшения расходимости нейтрального пучка осуществляют на легких возбужденных атомах. 2 з. п. ф-лы, 3 табл.
Изобретение относится к генерации пучков нейтральных частиц (ПНЧ), в частности к системам нейтрализации заряженных пучков, и может быть использовано в космической технике, термоядерном синтезе и т.д.
В этих задачах качество систем нейтрализации определяется следующими факторами: эффективностью нейтрализации, равной отношению конечного нейтрализованного потока частиц к падающему потоку заряженных частиц; энергией заряженных частиц, при которой осуществляется нейтрализация; дополнительной угловой расходимостью, обусловленной рассеянием пучка на частицах нейтрализующего газа. Для генерации нейтральных частиц с энергией менее 50 80 кэВ/нуклон традиционно предпочтительной является схема, в которой нейтральный пучок получают из ускоренных положительных ионов путем перезарядки на собственном газе; при большей энергии выгоднее становится применение пучков отрицательных ионов. Это связано с тем, что с ростом энергии сечение перезарядки положительных ионов резко падает, а сечение "обдирки" отрицательных ионов слабо зависит от энергии частиц. Например, сечение перезарядки положительных ионов водорода при



I*o начальный ток положительных ионов в пучке ионов на входе в нейтрализатор;
Noz интегральная толщина мишени;





v* величина, имеющая разномерность скорости и зависящая от атомного номера;
v относительная скорость сталкивающихся частиц. В табл. 1. приведены значения сечений перезарядки в атомных единицах, вычисленные для четырех видов частиц при различных энергиях. При нейтрализации иона на возбужденном атоме процесс перезарядки изменяется существенным образом. У возбужденного атома увеличивается не только его размер (а следовательно, и площадь поперечного сечения), но и появляется возможность надбарьерного перехода электрона /3/. Сечение перезарядки возрастает в этом случае во много раз и описывается выражением

где е заряд электрона,
I потенциал ионизации возбужденного атома;
vo скорость внешнего электрона в основном состоянии;
v относительная скорость движения сталкивающихся частиц;
n главное квантовое число электрона в возбужденном состоянии,
f(z) 1 + 0,8z2/5 + 2,6z
В табл. 2 приведена зависимость сечения перезарядки для ионов калия от главного квантового числа n и кинетической энергии относительного движения частиц. Для данной задачи ионизация является процессом, обратным перезарядке. Как показано в /2/, сечение ионизации высоковозбужденного атома равно сечению упругого рассеяния электрона на атоме, так как в этом случае удаленный слабосвязанный электрон может рассматриваться как свободный. Поскольку энергии атома и электрона относятся, как их массы, то сечение упругого рассеяния электрона следует определять для соответствующего значения энергии электрона. В табл. 3 представлены характерные сечения упругого рассеяния электронов на атомах, примерно равные сечениям ионизации возбужденных атомов. По формуле (1) можно оценить эффективность предлагаемого способа нейтрализации, подставляя в нее значения сечений перезарядки и ионизации из табл. 2 и 3. Например, для калия при энергии МэВ и n 5, Noz



Следовательно, при указанных условиях возможна эффективность нейтрализации на уровне 76
Используя табл. 1 и 3, можно оценить эффективность нейтрализации для той же энергии (10 МэВ) для калия

Таким образом, эффективность нейтрализации для калия при энергии 10 МэВ благодаря перезарядке на возбужденных атомах увеличилась в 30 раз. Наиболее эффективным методом создания газа из высоковозбужденных частиц является лазерная накачка на резонансных длинах волн /4/. Для этого нейтрализующий газ облучается двумя или более лазерами с длинами волн, подобранными таким образом, что атом с высокой вероятностью оказывается в нужном возбужденном состоянии. Условия подбора длин волн и соотношений между интенсивностями лазерного излучения приведены в /4/. При высоких энергиях и больших сечениях перезарядки влияние рассеяния становится незначительным, так как при столь больших сечениях перезарядки концентрация частиц в среде распространения может быть низкой. Влияние рассеяния может быть уменьшено еще и путем нейтрализации тяжелых положительных ионов на легких возбужденных атомах за счет случайных резонансов (например, Cs+ на Rb* /3/). При таком способе импульс поперечной отдачи будет еще меньше, чем в случае перезарядки Cs+ на Cs*. Источники информации, использованные при составлении заявки
1.Семашко Н. Н. и др. Инжекторы быстрых атомов водорода. М. Энергоиздат, 1981. 2. Галицкий В. М. Никитин Е. Е. Смирнов Б. М. Теория столкновения атомных частиц. М. Наука, 1981. 3. Смирнов Б. М. Асимптотические методы в теории атомных столкновений. М. Атомиздат, 1973. 4. Летохов В. С. Лазерная фотоионизационная спектроскопия. М. Наука, 1987.
Формула изобретения
РИСУНКИ
Рисунок 1, Рисунок 2
Похожие патенты:
Источник быстрых тяжелых атомов // 2004081
Способ получения атомарного пучка водорода // 1688468
Изобретение относится к усьорнтельнон технике, и частности к способам получения атомарных ПУЧКОН, и может быть использовано для создания источников поляризованных ионных и лектронных пучков
Изобретение относится к физической электронике, физике плазмы и физической химии и может быть использовано при исследованиях процессов взаимодействия атомов водорода с поверхностью материалов
Устройство для получения молекулярного пучка // 1598227
Изобретение относится к устройствам для формирования молекулярных пучков атомов некоторых металлов, радикалов и молекул с энергией частиц молекулярного пучка в диапазоне 1-1000 эВ
Источник молекулярного пучка // 1594710
Изобретение относится к технике физического эксперимента, в частности к источникам молекулярных пучков
Способ получения замедленных частиц // 1288944
Изобретение относится к технике формирования и управления распределения ча стиц, в частности атомов и молекул , по скоростям и может быть использовано , например, в спектроскот ПИИ
Импульсный нейтронный генератор // 1158023
Изобретение относится к области физического приборостроения и может быть использовано при конструировании нейтронных и рентгеновских генераторов
Генератор нейтронов // 1061687
Изобретение относится к области генераторов нейтронов, применяемых для контроля состава вещества в металлургии , атомной энергетике, медицине и для научных исследований
Способ получения пучка ускоренных ионов // 2054831
Изобретение относится к ускорительной технике, а более конкретно к методам формирования пучков заряженных частиц с заданными параметрами
Дуоплазмотрон // 2045103
Изобретение относится к источникам ионов, применяемым на ускорителях заряженных частиц, и может использоваться во всех областях техники, где требуются пучки ионов
Плазменный эмиттер ионов // 2045102
Изобретение относится к технике получения плазмы и генерации интенсивных ионных пучков с большим поперечным сечением
Способ генерирования ионного пучка // 2038643
Электрогидродинамический источник ионов // 2036531
Изобретение относится к устройствам для получения пучков заряженных частиц, в частности ионов, заряженных кластеров и микрокапель, и может быть использовано для получения с последующим формированием субмикронных ионных пучков, находящих все более широкое применение при микрообработке распылением; микроанализе и растровой ионной микроскопии; прямом безмасочном легировании полупроводников; в ионной литографии, а также для нанесения тонких пленок и покрытий кластерными и микрокапельными пучками
Электрогидродинамический источник ионов // 2036531
Изобретение относится к устройствам для получения пучков заряженных частиц, в частности ионов, заряженных кластеров и микрокапель, и может быть использовано для получения с последующим формированием субмикронных ионных пучков, находящих все более широкое применение при микрообработке распылением; микроанализе и растровой ионной микроскопии; прямом безмасочном легировании полупроводников; в ионной литографии, а также для нанесения тонких пленок и покрытий кластерными и микрокапельными пучками
Полый катод плазменного эмиттера ионов // 2035790
Изобретение относится к газоразрядным генераторам плазмы, в том числе к генераторам эмитирующей ионы плазмы устройств для ионно-плазменной обработки изделий и источников ионов для обработки изделий ионным пучком
Изобретение относится к технике получения пучков ускоренных частиц, в том числе к технологии обработки изделий пучком большого сечения ускоренных частиц в вакууме с целью очистки и нагрева изделий для повышения адгезии наносимых покрытий, с целью упрочнения и модификации поверхности имплантацией ускоренных частиц, а также для полировки поверхности и распыления материалов
Источник ионов // 2034356
Изобретение относится к источникам ионов, может быть использовано в технологических целях для имплантации ионов, электромагнитного разделения изотопов и в других приложениях
Изобретение относится к методам получения нейтрализованных пучков заряженных частиц, их формирования, транспортировки и сепарации и может быть использовано в ионно-пучковых технологиях для ионной имплантации, обработки и модификации поверхностей, нанесения покрытий, для разделения изотопов, нагрева плазмы в ловушках для управляемого термоядерного синтеза и др