Электронно-проекционный способ измерения формы и перемещений поверхности объекта
Использование: в измерительной технике для измерения формы и перемещений поверхности объекта. Сущность изобретения: с целью повышения объективности контроля, сетку проектируют так, чтобы темная линия пересекала главную оптическую ось проектора, изображение сетки сканируют телекамерой так, чтобы главные оптические оси проектора и телекамеры пересекались в точке на поверхности объекта, параметры (координаты) полученного таким образом контрольного растра сравнивают в ЭВМ с заранее введенными в нее параметрами "мнимого растра". 1 з.п.ф-лы, 4 ил.
Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения формы и перемещений поверхности объекта.
Известны интерференционные способы [1] измерения поверхности, использующие интерферометры высокой точности измеряющие небольшую площадь поверхности. Недостатками способов являются жесткие требования виброизоляции, ограничение верхнего предела измерений и малая площадь исследования. Известны методы голографической интерферометрии [2] использующие высокоразрешающие фоторегистрирующие средства. Известны муаровые методы (отражательной, теневой, проекционной) [3, 4, 5, 6] позволяющие исследовать топографию поверхности. Методы включают фотографический процесс. Обработка картин полос может быть выполнена и на устройствах типа микроденситометра [3] Известен способ преобразования муаровой картины в электрический сигнал [7] обработка которого позволяет преобразовать разность уровней измеряемой поверхности в электрический сигнал. Наиболее близким техническим решением является муаровый метод [3] заключающийся в том, что на поверхность объекта проецируют со слайда изображение сетки. Затем это изображение сканируют телевизионным преобразователем. Полученные видеосигналы контрольного растра вводят в ЭВМ, причем предварительно вводят мнимый растp, сравнивают его с введенным контрольным растром. Затем по результатам сравнивая определяют состояние формы поверхности объекта или ее перемещение. Однако известный способ получения измерения формы и перемещения поверхности объекта очень трудоемок и сложен для автоматизации процесса. Для того, чтобы объективизировать контроль необходимо, чтобы положение главных оптических осей проектора и телевизионного преобразователя были установлены так, чтобы они пересекались в одной точке поверхности объекта, а ось проектора пересекала темную линию сетки. Форма поверхности объекта определяется с помощью ЭВМ как расстояние двух соседних точек на "мнимых" муаровых полосах до контрольной плоскости. Для описания предлагаемого способа приводятся фиг. 1, 2, 3, 4. На фиг. 1 представлена структурная схема предлагаемого способа. На фиг. 2 структурная схема системы регенерации и обработки муаровых картин. На фиг. 3 оптическая схема способа. На фиг. 4 схема определения углов освещения и наблюдения. Структурная схема (фиг. 1) для реализации предлагаемого способа содержит: проектор 2 и телекамеру 3, устройство ввода и вывода видеоинформации 4, а также ЭВМ 5, видеоконтроллер 6, дисплей 7 и растр 8. Предлагаемый метод реализуется следующим образом. На исследуемую поверхность 1 проектором 2 проецируется линейчатая сетка, состоящая из темных и светлых линий. Изображение сетки, содержащее информацию о геометрии поверхности воспринимается телекамерой 2. Проектор 2 и телекамера 3 установлены на площадке так, чтобы оптические центры О' и О" их объективов и точка С пересечения главных оптических осей находились в одной плоскости. Видеоинформация с телевизионной камеры 3 поступает в устройство ввода и вывода видеоинформации 4. На устройство ввода и вывода видеоинформации возложены функции кодирования, определения координат линий сетки и посылки их в память ЭВМ, вывод изображения муаровых полос на дисплей 7. В ЭВМ 5 вводится контрольная сетка в виде координат центров темных линий, которые являются функцией шага сетки на слайде в проекторе, расстояния от базовой плоскости К1C, угла между оптическими осями объектов
















где С1О" О"C CC1. (7)
Из прямоугольного треугольника О"L1К1 следует

т.к. K1О' О"L1, K1L1 О'О". Согласно теореме синусов из треугольника К2K1C1 имеем

где




Изображение т. К1 (начало координат в системе ХY) в системе координат Х1Y1 определяется геометрическим законом оптики для объективов, т.е.

где К3C1 по формуле (9);
mк масштаб изображения объективом телекамеры. Масштаб изображения вычисляется по известной формуле

Здесь С1О" соответствует формулам (7) и (5), fк главное фокусное расстояние для объектива телекамеры. Изображение точки М1л, находящейся в плоскости XY на середине темной линии слева от т. К1, в координатной системе X1Y1 соответствует т. М'1л, а ее координата вдоль оси Х1 расстоянию С2M'1л. Построим координатную плоскость Х2Y2 нормально к оси Z1 с началом координат в точке С1. Тогда координата

где

K1C1 по формуле (4),
p amg шаг "мнимого" растра;
а шаг линий сетки на слайде АВ (фиг. 3);

fg -> главное фокусное расстояние для объектива телекамеры

M1лL1 О'О" + p,




После подстановки получим координату точки М'1л в координатной плоскости Х1Y1 получим

Для точки М2л на (фиг. 3 не показана), находящейся на соседней темной линии аналогично получим

где





Для любой i-й точки, находящейся на середине темной линии и положительно полуоси Х1, имеем

где i 1, 2, 3,





Для координат изображений центров темных линий, находящихся между точками К1 и С1 в системе XY, выполняя аналогичные выкладки0 получим:

где





i 1, 2, 3 отсчет вправо от т. К1. Обобщая результаты запишем функцию координат сетки, записываемой в память ЭВМ:

i 0, 1, 2, 3, при Х1

i 0, -1, -2, -3, при Х1


i 0, 1, 2, 3, при

i 0, -1, -2, -3, при

где









K1О расстояние от оптического центра объектива проектора до "мнимого" растра, С1О" расстояние от оптического центра объектива телекамеры до точки пересечения главных оптических осей;

fg, fк главные фокусные расстояния для объективов проектора и телекамеры;
K1C расстояние от "мнимого" растра до точки на исследуемой поверхности вдоль главной оптической оси проектора;
а шаг сетки на слайде в проекторе. Для образования муаровых полос производится построчное сканирование изображения проекции сетки на исследуемой поверхности в приемной плоскости видикона, т. е. в координатной плоскости Х1Y1 и через блок ввода и вывода видеоинформации координаты светлых линий засылаются в ЭВМ. В ЭВМ производится поиск точек, где выполняется условие:
X1pX1п (18)
Здесь Х1p определяется формулой (17), а Х1п координата светлой линии проекции сетки. Изменение расстояния от базовой плоскости ("мнимого" растра) до исследуемой поверхности для двух соседних муаровых полос определяется также как и для теневого муарового метода [3]

a шаг линий сетки на слайде;
mg масштаб проекции в плоскости "мнимого" растра;





Здесь (см. фиг. 4):















Z1 оптическая ось телекамеры,
Z оптическая ось диапроектора,
X ось, лежащая в плоскости "мнимого" растра,
AB сетка на слайде в диапроекторе,
A1B1 проекция сетки на исследуемой поверхности,
A2B2 изображение проекции сетки на приемной поверхности видикона телекамеры,
X1 ось, лежащая в приемной плоскости видикона,
X2 ось, нормальная к оси Z1 и проходящая пересечение осей Х и Z1,
О точка на оси вращения площадки с диапроектором и телекамерой,
О' оптический центр объектива диапроектора,
О" оптический центр объектива телекамеры,
C точка пересечения осей Z и Z1 на исследуемой поверхности,
C1 точка пересечения осей Х и Z1,
M1 точка посередине темной линии на "мнимом" растре",
M2 изобретение точки М1 на приемной плоскости видикона,
K1 точка пересечения осей Х и Z,
K2 изображение точки К1 на приемной плоскости видикона,
C2 изображение точек С и С1 на приемной плоскости видикона,
D середина светлой полосы на проекции сетки на исследуемой поверхности,
D2 изображение точки D на приемной плоскости видикона,
О"L1 нормаль к оси Х. 1. Оптические приборы в машиностроении. Справочник. М. Машиностроение, 1974, 238 с. 2. Островский Ю.И. Бутусов М.М. Островская Г.В. Голографическая интерферометрия. М. Наука, 1977, 336 с. 3. Теокарис Т. Муаровые полосы при исследовании деформаций. М. Мир, 1972, 236 с. 4. Новицкий В. В. Андреева Е.Н. Исследование изгиба пластинок методом муаров. В кн, Расчет пространственных конструкций, вып. 9. М. Стройиздат, 1964, 201-242 с. 5. Новицкий В. В. Новые исследования по методу муаров. В кн. Расчет пространственных конструкций, вып. 11. М. Стройиздат, 1968, с. 13-30. 6. Денисов П.И. Некит В.А. Заикин А.В. и др. Авт.свид. N 623598. "Бюлл. Открытия, Изобретен, Пром. образцы, Тов. знаки". 1978, N 38, 18 c. 7. Заякин В.В. Кучерюк В.И. Гребенщикова М.А. Муравина В.М. Об определении прогибов методами голографии и муаровых полос. Киев: Проблемы прочности N 3, 1979, 70-73 c.
Формула изобретения

где i 0, 1, 2, 3, при

i 0, -1, -2, -3, при

fk, fg главные фокусные расстояния для объективов телекамеры и проектора;
K101 расстояние от оптического центра объектива проектора до "мнимого" растра;
C10" расстояние от оптического центра объектива телекамеры до точки пересечения главных оптических осей;











K1C расстояние от "мнимого" растра до точки на исследуемой поверхности вдоль главной оптической оси проектора;
а шаг сетки на слайде в проекторе;
x1 расстояние от главной оптической оси телекамеры до проекции точки пересечения главной оптической оси проектора и "мнимого" растра на приемную плоскость телекамеры; "мнимый" растр плоскость, перпендикулярная к главной оптической оси проектора, располагаемая на задаваемом расстоянии до точки пересечения главной оптической оси проектора и поверхности объекта. 2. Способ по п.1, отличающийся тем, что форма поверхности объекта определяется с помощью ЭВМ как расстояние ее точек для двух соседних "мнимых" муаровых полос до контрольной плоскости согласно выражению:

где а шаг линий сетки на слайде;
mg масштаб проекции сетки;


РИСУНКИ
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3, Рисунок 4
Похожие патенты:
Устройство для измерения перемещений // 2059198
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, в частности к устройствам для неразрушающего контроля (напряжения и деформации) элементов конструкций (насосов , сосудов и т
Устройство для контроля формы поверхности // 2058523
Изобретение относится к технике измерения отклонений формы и радиуса кривизны сложных поверхностей и, в частности, к устройствам автоматического измерения формы параболических антенн СВЧ-диапазона бесконтактным методом
Изобретение относится к измерительной технике
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для измерения геометрических параметров обечаек - основных базовых деталей химнефтеаппаратуры
Изобретение относится к оптическим устройствам для измерения и контроля крупногабаритных деталей
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, техническим результатом при использовании изобретения является повышение быстродействия
Изобретение относится к области оптических измерений, а именно к интерферометрам перемещений
Изобретение относится к устройству для измерения размера периодически перемещающегося объекта, содержащему оптоэлектронный измерительный прибор, включающий в себя приемопередающие элементы, расположенные не менее чем в одной плоскости изменения, перпендикулярной продольной оси объекта, а также блок обработки, причем плоскость измерения измерительного портала ограничена не менее чем двумя измерительными балками, расположенными под заданным углом друг к другу
Способ измерения поперечного размера проката // 2104483
Изобретение относится к измерительной технике
Устройство для контроля линейных размеров // 2106599
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении, черной и цветной металлургии при производстве проката, в резино-технической и химической промышленности при производстве трубчатых изделий без остановки технологического процесса
Устройство для контроля линейных размеров // 2106599
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении, черной и цветной металлургии при производстве проката, в резино-технической и химической промышленности при производстве трубчатых изделий без остановки технологического процесса
Фотобарьерный датчик // 2107258
Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано в системах АСУ ТП промышленных предприятий
Фотобарьерный датчик // 2107258
Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано в системах АСУ ТП промышленных предприятий
Фотобарьерный датчик // 2107258
Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано в системах АСУ ТП промышленных предприятий