Способ отбора прохождения двух частиц через детектор
Авторы патента:
Сущность изобретения: в способе отбора прохождения двух частиц через детектор в N пропорциональных камерах сигнальные проволоки объединяют (в каждой камере). Сигнал с каждой камеры подают на усилитель-формирователь. Напряжение на высоковольтных электродах камер устанавливают таким пониженным, что суммарная эффективность регистрации одиночной частицы и двух частиц отличались на заданную величину. 2 ил.
Изобретение относится к физике высоких энергий и может быть использовано везде, где нужно отбирать случаи прохождения через детектор двух частиц.
Известны способы отбора событий прохождения двух частиц через детектор по числу сработавших сцинтилляторов сцинтилляционного годоскопа [1] Однако из-за конечной вероятности одной частице пройти одновременно через два соседних сцинтиллятора отбор двух частиц находится на низком уровне (не лучше 90%). Кроме того, этот способ предполагает достаточно большое пространственное разделение частиц равное ширине сцинтилляционных пластин. Наиболее близким к изобретению является способ отбора событий прохождения двух частиц через детектор по ионизационным потерям в сцинтилляционном счетчике [2] Однако из-за распределения Ландау амплитуд сигналов отбор двух частиц находится на низком уровне (не лучше 70%). Сущность изобретения заключается в том, что в N пропорциональных камерах устанавливается пониженное напряжение, соответствующее эффективности регистрации частицы в одной камере


















На фиг.2 показан пример таких распределений со средними значениями n1 и n2. Коэффициентом разделения событий с 1 и 2 частицами можно считать отношение заштрихованной части распределения (где невозможно определить, связано ли срабатывание с прохождением 1 частицы или 2) к полному распределению, площадь которого по определению равна 1. Точка пересечения распределений nx определяется из условия P(n1,N) P(n2,N):


Отсюда находим:
nx=

Подставляя значения n1 и n2, имеем:
x nx=

Таким образом, если отбирать события с числом сработавших камер большим или равным х, то коэффициент разделения частиц (площадь заштрихованной части распределения)
S


Формула изобретения



РИСУНКИ
Рисунок 1, Рисунок 2
Похожие патенты:
Способ определения ядерно-физических характеристик ядерных частиц и устройство для его осуществления // 1752078
Изобретение относится к способам определения ядерно-физических констант в экспериментах по спонтанному делению, вынужденному делению на тепловых и быстрых нейтронах, в спектрометрии
Способ определения асимметрии вылета заряженных частиц в бета-распаде поляризованных нейтронов // 1601594
Изобретение относится к физике элементарных частиц и может быть Использовано при исследовании нейтро,псгп - повьппение точ- , которая достигается использомнием нейтронов заданного э ргеГоТоГ магнитного по- ° :обого вида
Изобретение относится к экспериментальной физике частиц высоких энергий, преимущественно к устройствам для идентификации быстрых заряженных частиц по рентгеновскому переходному излучению (РПИ)
Способ определения массы нейтрино // 1396104
Изобретение относится к области распознавания элементарных частиц, более конкретно к определению массы нейтрино
Устройство для идентификации частиц // 1382210
Ливневый детектор электронов // 1176724
Способ регистрации тяжелых ядерных частиц // 1156484
Детектор заряженных частиц // 1050382
Изобретение относится к области экспериментальной ядерной физики и может быть использовано для повышения точности определения таких параметров распада свободного нейтрона как коэффициент асимметрии вылета из нейтрона заряженных частиц и время жизни нейтрона
Изобретение относится к области космической технике, в частности для регистрации микрометеороидов и частиц космического мусора