Способ неразрушающего определения пробивного напряжения волоконно-оптических пластин
Изобретение относится к области неразрушающего контроля и может быть использовано для контроля электрической дефектности волоконнооптических пластин (ВОП). На контролируемую ВОП подают монотонно увеличивающееся испытательное напряжение, регистрируют значения испытательного напряжения, при которых в контролируемой ВОП происходят первый и n-й частичный разряды U1, Un , где 2 n
10 , а значение пробивного напряжения контролируемой ВОП определяют из соотношения, приведенного в описании изобретения.
Изобретение касается неразрушающего контроля электрической дефектности волоконно-оптических пластин (ВОП) и может быть использовано для контроля дефектности других видов изоляционных материалов и конструкций с протяженными дефектами.
Известен способ контроля волоконно-оптических пластин по электрической прочности, состоящий в подаче на волоконно-оптическую пластину испытательного напряжения заданной величины и выдержке в течение некоторого времени при этом напряжении. Тогда пробитыми окажутся образцы, имеющие пробивное напряжение меньше испытательного, а образцы волоконно-оптических пластин с пробивным напряжением, большим испытательного, считают выдержавшими испытание. Такой способ применяют при массовом контроле для всех образцов. Недостатком этого способа является то, что запас электрической прочности каждого образца, выдержавшего испытание неизвестен, а также разрушение части образцов, которые могли бы быть использованы при пониженных рабочих напряжениях [1]. Известен также способ неразрушающего контроля электрической дефектности волоконно-оптических пластин, при котором на образец подают заданное испытательное напряжение постоянного тока и регистрируют отклик образца на воздействие электрического поля в виде сцинцилляционных вспышек света, т.е. световое проявление импульсов частичных разрядов в дефектах волоконно-оптических пластин на фотографической пленке через полупрозрачный электрод или при помещении фотографической пленки между волоконно-оптической пластиной и одним из электродов, а о дефектности судят по максимальной оптической плотности почернений на фотопленке. Этот способ принят за прототип. Недостатком его является оценивание дефектности на качественном уровне без количественных оценок по величине пробивного напряжения [2]. Целью изобретения является обеспечение возможности количественной оценки величины пробивного напряжения волоконно-оптических пластин. Предлагаемый способ включает регистрацию частичных разрядов в контролируемой волоконно-оптической пластине при подаче на нее испытательного напряжения постоянного тока. Значение испытательного напряжения монотонно увеличивают, подсчитывают возникающие частичные разряды, регистрируют значение испытательного напряжения, при котором происходит первый частичный разряд, и значение испытательного напряжения, при котором происходит n-й частичный разряд, при этом число n выбирают из соотношения 2






Формула изобретения
СПОСОБ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПРОБИВНОГО НАПРЯЖЕНИЯ ВОЛОКОННО-ОПТИЧЕСКИХ ПЛАСТИН, включающий регистрацию частичных разрядов в контролируемой волоконно-оптической пластине при подаче на нее испытательного напряжения постоянного тока, отличающийся тем, что значение испытательного напряжения монотонно увеличивают, подсчитывают возникающие частичные разряды, регистрируют значение испытательного напряжения, при котором происходит первый частичный разряд, и значение испытательного напряжения, при котором происходит n-й частичный разряд, при этом число n выбирают из соотношения2


а значение пробивного напряжения Uпр определяют из соотношения:
Uпр = b

где U1, Un - значения испытательного напряжения, при которых происходит соответственно первый и n-й частичные разряды, кВ;
b и c - постоянные коэффициенты, определяемые экспериментально.