Способ визуального количественного спектрального определения углерода в токопроводящих сплавах
Использование - изобретение относится к спектральному анализу. Сущность изобретения: в способе воздействия на пробу низковольтного разряда производят с железным противоэлектродом при емкости разрядного контура 40 0,40 мкФ, индуктивности 3 + 0,3 мкГ. Определение массовой доли проводят по аналитическим парам линий CII 657,805 - FeII659,669 нм и СII 658,285 - FeII 658,669 нм по истечении 15 - 20 с с момента включения разряда. 1 табл. , 1 ил.
Изобретение относится к спектральному анализу, а конкретно к анализу токопроводящих материалов путем определения их химических или физических свойств, и может быть использовано при разработке и назначении технологических процессов.
Известен [1] способ полуколичественного спектрального определения углерода на стилоскопе, включающий оценку интенсивностей спектральных линий в красной области спектра по группе С2 : 1 C2 П 657,895 нм и 2 С2П658,285 нм. Линией сравнения служит Fe1 659,292 нм. Спектр возбуждает низковольтной искрой от генератора ПС-39 с индуктивностью разрядного контура, уменьшенной до одного витка диаметром 120 мм, емкостью батареи конденсаторов до 1200 мкФ, зарядный ток 8, , , 10 А, медный противоэлектрод, межэлектродный промежуток 1,0. . . 1,5 мм. К недостаткам способа следует отнести необходимость сравнения ионных линий углерода группы С2 (16,33 эв) с атомной линией железа, имеющей энергию возбуждения верхнего уровня 4,61 эв. Наиболее близким по технической сущности к изобретению является способ [2] количественного спектрального анализа сталей и сплавов на стилоскопе "Спектр", включающий механическую обработку, воздействие на пробу низковольтного искрового разряда, разлож ение свечения в спектр и последующее определение массовой доли углерода из ее зависимости от отсчета перемещения фотометрического клина. К недостаткам способа следует отнести, во-первых, низкую чувствительность определения, связанную с уменьшением длительности разряда и, как следствие, уменьшение общей яркости спектра; во-вторых, использование для оценки интенсивностей негомологичной аналитической пары. Целью изобретения является повышение чувствительности анализа углерода в токопроводящих сплавах. Это достигается тем, что увеличивают длительность воздействия на пробу низковольтного искрового одиночного разряда до 68,8








Формула изобретения
СПОСОБ ВИЗУАЛЬНОГО КОЛИЧЕСТВЕННОГО СПЕКТРАЛЬНОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ УГЛЕРОДА В ТОКОПРОВОДЯЩИХ СПЛАВАХ, включающий механическую обработку анализируемой пробы, воздействие на нее низковольтным искровым разрядом, разложение свечения в спектр посредством стилоскопа, уравнивание интенсивностей линии углерода и линии сравнения в аналитической паре путем перемещения фотометрического клина и определение массовой доли углерода в пробе по ее зависимости от величины перемещения фотометрического клина, отличающийся тем, что при воздействии на пробу низковольтным искровым разрядом используют железный стандартный противоэлектрод при емкости разрядного контура (40

РИСУНКИ
Рисунок 1, Рисунок 2
Похожие патенты:
Устройство для спектрального анализа // 2011966
Изобретение относится к физико-химическим способам анализа, а именно к способам пробоподготовки при определении примесей металлов в арсине, и может быть использовано в производстве эпитаксиальных структур арсенида галлия
Способ эмиссионного спектрального анализа // 1822947
Изобретение относится к спектральному анализу
Устройство для спектрального анализа // 2107283
Изобретение относится к спектральному анализу
Способ спектрального анализа порошковых проб // 2129267
Изобретение относится к области исследования химических и физических свойств веществ, в частности к эмиссионному спектральному анализу минеральных порошковых проб, и может быть использовано при геологических, экологических и технологических исследованиях природных и техногенных объектов
Изобретение относится к области металлургии, в частности к спектральному анализу металлических сплавов на квантометрах
Способ спектрального анализа // 2172949
Изобретение относится к спектральному анализу
Изобретение относится к атомно-эмиссионному спектральному анализу
Изобретение относится к области аналитической химии