Способ полирования полупроводниковых пластин
Использование: изобретение относится к полупроводниковой технике. Сущность изобретения: способ включает воздействие на наклеенные пластины вращающегося полировальника и абразивного состава с вязкостью 4 - 8 сП при нагружении пластин. В качестве полировальника используют лавсановую ткань. Обработку пластин ведут при линейной скорости точки полировальника, совпадающей с положением центра кассет, равной 0,75 - 1,40 м/с, при расходе абразивного состава не менее 1,2 мл/с на 1м2 полировальника и давлении на пластины 2,5 - 5,0 кПа. 1 табл.
Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано в производстве полированных пластин кремния, арсенида галлия и других полупроводниковых материалов.
Известен способ полирования пластин арсенида галлия. Пластины обрабатывают при воздействии на них полировальника и абразивного состава, содержащего цеолит типа А, перманганат калия и воду. Количественный состав компонентов подбирается из условия обеспечения высокого качества поверхности, отсутствия травления поверхности, рисок, ямок. Скорость съема 0,8-0,9 мкм/мин. После химико-механического полирования (ХМП) на поверхности пластин арсенида галлия образуется пленка, состоящая в основном из диоксида марганца и неудаляемая моющим составом. Для ее удаления необходимо проводить суперфинишное ХМП в течение 8-10 мин. Данный способ полирования и другие для многих полупроводниковых материалов не решают вопрос о повышении точности обработки по геометрии пластин (по плоскостности, разбросу толщины по пластине) и не устанавливают взаимодействия режимов ХМП, композиции абразивного состава с геометрическими параметрами получаемых пластин. Пластины в процессе ХМП наклеивают на кассету диаметром 180 мм и более. Разброс толщины по пластине не превышает 20 мкм. Прототипом изобретения является способ полирования полупроводниковых пластин, в котором в качестве полировальника используют поливел или искусственную замшу. ХМП осуществляют путем воздействия на приклеенные на кассету пластины вращающимся полировальником и абразивным составом при нагружении пластин. Способ полирования не позволяет достичь высокой геометрии пластин, так как применение указанных выше мягких полировальников чаше всего приводит к образованию завалов по краям пластин и не учитывает свойств абразивного состава и кинетических особенностей выполняемого процесса. Целью изобретения является повышение точности обработки пластин. Цель достигается тем, что в способе полирования полупроводниковых пластин, включающем воздействие на приклеенные на кассеты пластины вращающимся по- лировальником и абразивным составом при нагружении пластин, отличающийся тем, что в качестве полировальника используют безворсовую лавсановую ткань, а обработку ведут при линейной скорости точки полировальника, совпадающей с положением центра кассет, равной 0,75-1,4 м/с, при расходе абразивного состава имеющего вязкость 4-8 сП, не менее 1,2 мл/с на 1 м2 полировальника и давлении на пластины 2,5-5,0 кПа. При давлении на пластины менее р < <2,5 кПа и линейной скорости точки полировальника, совпадающей с положением центра кассеты V


















Формула изобретения
СПОСОБ ПОЛИРОВАНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЛАСТИН, включающий воздействие на приклеенные на кассеты пластины вращающимся полировальником и абразивным составом при нагружении пластин, отличающийся тем, что, с целью повышения точности обработки пластин, в качестве полировальника используют безворсовую лавсановую ткань, а обработку ведут при линейной скорости точки полировальника, совпадающей с положением центра кассет, равной 0,75 - 1,40 м/с, при расходе абразивного состава, имеющего вязкость 4 - 8 сП, не менее 1,2 мл/с на 1 м2 полировальника и давлении на пластины 2,5 - 5,0 кПа.РИСУНКИ
Рисунок 1
Похожие патенты:
Способ полирования пластин кремния // 2001465
Изобретение относится к полупроводниковой технике, а точнее, к односторонней шлифовке полупроводниковых пластин
Изобретение относится к технологии производства полупроводниковых приборов и интегральных схем и может быть использовано в электронной промышленности для утонения полупроводниковых кристаллов без повреждения годных активных и пассивных элементов
Способ утонения полупроводниковых структур // 1766212
Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано в производстве высокочастотных интегральных схем и приборов на стадии утонения подложки с нерабочей стороны до толщины 30 мкм и более
Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано при механическом утонении полупроводниковых структур при производстве полупроводниковых приборов
Изобретение относится к полупроводниковой технике и направлено на расширение области применения способа для кремния с содержанием кислорода 51015-91017 см-3 Цель достигается тем, что данный способ изготовления кремниевых пластин с геттерирующими центрами в объеме пластины включает проведение двухступенчатого отжига при 650 750°С и 950 1000°С в течение 3 4 ч на каждой стадии
Устройство для обработки кромок пластин // 2109370
Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано при изготовлении полированных пластин из полупроводниковых материалов
Изобретение относится к абразиву из оксида церия и способу полирования подложек
Изобретение относится к технологии электронного приборостроения
Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано в технологиях изготовления как дискретных полупроводниковых приборов, так и интегральных микросхем в процессе позиционирования исходных полупроводниковых пластин-подложек (например, на основе монокристаллического кремния) перед операцией их разделения на отдельные структуры ("ЧИП"ы)
Изобретение относится к микроэлектронике
Изобретение относится к области полупроводниковых преобразователей солнечной энергии, в частности к получению пластин из мультикристаллического кремния для изготовления солнечных элементов (СЭ)