Пдткнтно- •»iи

ОПИСАНИЕ

ИЗОЬЕЕтЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

I8I337

Союа Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 13Л 11.1964 (№ 911710/26-10) с присоединением заявки ¹ 911709/26-10

Приоритет 13.VI1,1964.

Опубликовано 15,1Ч.1966. Бюллетень № 9

Кл, 4211, 14/01

МПК С 02d

УДК 535.822.17(088.8) Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

Дата опубликования описания 28 (/.1966

Автор изобретения

H. И. Поляков

Заявитель

МИКРОСКОП ДЛЯ НАБЛЮДЕНИЯ МАЛОКОНТРАСТНЬ!Х

ОБ ЬЕКТОВ

Известные микроскопы, применяемые для исследования малоконтрастных объектов, как правило, работают на основе использования свойств поляризованного света и требуют поэтому применения специальной оптики (объективов, конденсоров, предметных стекол и т. д.) ..

Предлагаемый микроскоп дает возмо>кность исследовать малоконтрастные объекты в любой области спектра с помощью оптики, применяемой в обычных микроскопах, а также получать переменный фазовый контраст или интерференционный контраст с идеальной волной сравнения в неполяризованном свете.

Кроме того, обеспечивается возможность измерения оптической разности хода лучей, вносимой излучаемым объектом.

Эти преимущества достигаются тем, что между объективом с вынесенным при помощи дополнительной линзовой системы зрачком

Выхода Ооъектива и окуляром микроскопа установлен интерферометр, например, типа Маха-Цендера, в ветви которого введены устройства для изменения фаз и амплитуд интерферпрующих пучков — соответствующие диафрагмы и компенсационные пластинки в зависимости от поставленной задачи.

На фиг. 1 и 2 представлены принципиальные схемы микроскопа для получения переменного фазового контраста и интерференционного контраста с идеальной волной сравнения, Между оптической системой линз 1, служащей для переноса зрачка выхода объектива

5 микроскопа (объектив на чертежах не показан), установлен интерферометр, например, типа Маха-Цендера, состоящий из зеркал 2, 8, 4, 5. Зеркала 2 и 5 полупрозрачные, а 8 и

4 алюминированные.

10 Пучок лучей, выходящий из системы линз 1, делится зеркалом 2 на два, один из которых идет по направлению к зеркалу 8, а другой— к зеркалу 4. После отражения от зеркал 8, 4 эти пучки снова соединяются в один зерка15 лом 5, интерферируя друг с другом.

Для изменения разности хода в интерферирующих пучках в одной из ветвей интерферометра установлена стеклянная пластинка б, а для регулировки интенсивности этих пучков

20 предусмотрена пластинка 7, установленная в другой ветви интерферометра. На одной из поверхностей пластинки 7 нанесен фотометрический клин.

Изображение объекта, даваемое объекти25 вом и оптической системой линз 1, получается в плоскости 8 и рассматривается с помощью окуляра 9.

При работе микроскопа по схеме переменного фазового контраста в обе ветви интер30 ферометра, в плоскость вынесенного выходно181337 го зрачка объектива, вводятся апертурные диафрагмы 10 и 11. Форма диафрагмы 10 подобна форме фазового кольца фазовых объективов, а диафрагма 11 является ее дополнением, т. е. прозрачным местам первой соответствуют непрозрачные места второй и наоборот. Если диафрагмы 10 и 11 соответственно совмегцены с пзобра>копием диасррагмы, находящейся в фокальпой плоскости конденсатора (на чертежах не покà"-ап) и имеющей форму диафрагмы (О, то в одной ветви пнтерферометра световой пучок состоит только из прямо прошедшего света, а в другой — пз диафрагмированпого. Соединяясь, пучки интерфсрируют и совместно с объективом микроскопа дают фазовокоптрастнос изобра>кение исследуемого объекта. Контраст в изображении может быть положительным или отрицательным в зависимости от величины и знака разности хода в интерферирующих пучках.

При работе микроскопа по схеме интерференционного контраста в одну из ветвей интерферометра, в плоскость вынесенного выходного зрачка об ьсктива, помещается диафрагма 12 (см. фиг. 2) в виде малого круглого отверстия, или прозрачного кольца, или любого другого вида. В случае совмещения диафрагмы 12 с изображением диафрагмы, находящейся и фокальной плоскости конденсора и имеющей такую же форму, диафрагма 12 при определенных размерах будет центром дифракционной волны. В этом случае по одной ветви интерферометра будет распространяться дифракционная волна, т. е. волна сравнения, а по другой — реальная, искаженная изучаемым объектом. Соединяясь, эти две волны интерфериругот, и изображение изучаемого ооъекта наблюдается в интерференционном контрасте.

В обеих схемах микроскопа изменение разности хода в интерферирующих пучках обеспечивается наклоном стеклянной пластинки

6, а регулировка интенсивностей — пластинкой

7, на одной из поверхностей которой нанесен фотометрический клин.

Оптическая разность хода, вводимая изучаемым объектом, оценивается по величине наклона пластинки б относительно падающих на нее лучей.

Объединение фазовоконтрастной и интерференционной схем в одном микроскопе дает возможность переходить от одного метода к другому при наблюдении одного и того же участка об.ьекта, 5 Предмет изобретения

1. Микроскоп для наблюдения малоконтрастпых объектов, содер>кащий объектив, окуляр, конденсор, дополнительнуго линзовую сис10 тему для переноса выходного зрачка объекти ва и устройство для получения фазового или иптсрференцпонного контраста, отлссчасосцгсссся тем, что, с целью наблюдения малоконтрастных объектов в переменном фазовом или ин15 терферснционпом контрасте в любой области спектра неполяризованного света с помощью оптики, применяемой в обычных микроскопах, в пем между объективом с дополнительной линзовой системой для переноса зрачка выхо20 да объектива и окуляром установлен интерферометр, например типа Маха-LIeíäåðà, в ветви которого введены устройства в виде апертурных диафрагм и компенсационных пластинок для изменения фаз и амплитуд интер25 ферирующих пучков.

2. Микроскоп по п. 1, отлгсчаюссгггйсс:г тем, что, с целью изменения в широком диапазоне соотношений интенсивности прямо прошедшего и диафрагмированного пучков лучей, обеЗО спечивающих получение переменного фазового контраста в необходимой области спектра неполяризованпого света, апертурная диафрагма в одной ветви интерферометра установлена в плоскости вынесенного зрачка объекти35 ва между пластинкой, па одной и поверхностей которой нанесен фотомстрический клин, и отражающим зеркалом, а апертурная диафрагма в другой ветви между отражающим зеркалом и компенсационной пластинкой, при40 чем непрозрачным местам одной из диафрагм соответствуют прозрачные места другой.

3. Микроскоп по п. 1, отлссчаюцссссся тем, что, с целью наблюдения объектов в интерференционном контрасте с идеальной волной

45 сравнения, в нем апертурная диафрагма в виде, например, отверстия установлена в одной из ветвей пптерферометра в плоскости вынесенного зрачка обьектива между полупрозрачным зеркалом и пластинкой, на одной из по5Q верхностей которой нанесен фотометрический клин. юг /

g

Ф;, 7

Составитель М. И. Илленко

Редактор Л. В. Калашникова Техред A. А. Камышникова Корректоры: Л. Е. Марисич и Т. Н. Костикова

:аказ 1287/12 Тираж 900 Формат бум. 60+90 /s Объем 0,3 изд. л. Подписное

Ц11ИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров ССС1з

Москва, Центр. пр. Серова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, 2