Способ фотометрической сортировки изделий

 

Способ фотометрической сортировки изделий заключается в последовательном их облучении источниками излучения, измерении уровней обращенных от изделий излучений , причем источники излучений имеют длины волн 0,95; 0,32; 0,45 мкм, сравнении обращенных излучений с заданными и сортировке изделий по результатам сравнений .

союз советских

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (si)s В 07 С 5/10, н, Д

ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОЕ

ВЕДОМСТВО СССР (ГОСПАТЕНТ СССР) К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4681287/12 (22) 20.04,89 (46) 28.02.93. Бюл. N. 8 (71) Рыбинский авиационный технологический институт (72) 1О.Д.Жаботинский (56) Патент США N. 4204950, кл. В 07 С 5/342, 1980.

Изобретение относится к способам сортировки и может быть использовано в автоматических линиях, Целью изобретения является повышение эффективности сортировки путем обеспечения возможности распознавания типа материала, из которого выполнено изделие.

Это достигается тем, что источники излучения имеют длины волн 0,95; 0,32; 0,45 м км соответственно.

По предлагаемому способу изделия при сортировке облучают последовательно источниками с длинами волн 0,95; 0,32; 0,45 мкм соответственно. Для различных длин волн излучения значительно изменяется коэффициент отражения от поверхности изделия в зависимости от его материала. По разнице отраженных сигналов принимают решение о типе материала, из которого изготовлено изделие.

Пусть, например, необходимо различать изделия, выполненные на основе одного из четырех материалов: алюминий, серебро, золото, медь, Длину волны первого источника излучения целесообразно выбрать такой, чтобы независимо от типа материала обеспечивалось хорошее отражение от поверхности (для обеспече. Ж „„1798019 А1 (54) СПОСОБ ФОТОМЕТРИЧЕСКОЙ СОРТИРОВКИ ИЗДЕЛИЙ (57) Способ фотометрической сортировки изделий заключается в последовательном их облучении источниками излучения, измерении уровней обращенных от изделий излучений, причем источники излучений имеютдлины волн 0,95: 0,32; 0,45 мкм, сравнении обращенных излучений с заданными и сортировке изделий по результатам сравнений. ния надежного определения наличия изделия в рабочей зоне устройства). Например, ф при длине волны А = 0,95 мкм коэффициенты отражения от поверхностей вышеперечисленных металлов равны соответственно — 91,8; 98,8; 98,1; 98,4%.

Используя второй источник излучения с длиной волны 0.32 мкм, осуществим различие алюминия от серебра и алюминия и серебра от золота и меди (коэффициенты отражения от поверхности данных металлов для волны длиной 0,32 мкм равны 92,4; 8,9;

37,1; 36,3% соответственно). Для различения золота от меди можно воспользоваться третьим источником излучения с длиной. волны 0,45 мкм (при этом коэффициенты отражения вышеперечисленных металлов будут равны 92,2; 96,6; 38,7; 55,2%) Примем световой поток источника излучения за 10, а принимаемый отраженный сигнал будем квантовать на 10 уровней. Тогда от второго источника может быть принят один из следующих сигналов: 9, 1, 4, 4, а от третьего 9,.

10, 4, 6, По парам чисел (9,9); (1,10); (4,4); (4,6) осуществляется определение типа материала, из которого выполнен обьект, От первого источника будут сигналы (9, 10, 10, 10}, 1798019

Формула изобретения

Составитель IO, Жаботинский

Техред М.МОргентал Корректор М, Керецман

Редактор

Заказ 735 Тираж Подписное

ВНИИГ1И Государственного комитета по изобретениям и oTKpbiièqì при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб„4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101

Способ фотометрической соотировки изделий, закл1очающийся в последовательном их облучении NcTo Hé é 13ng, измерении уровней отраженных от изделий излучений, сравнении их с заданными и сорт тировке изделий по результатам сравнений, о т л и ч а ю щ и Й с я тем, что, с целью повышения эффективности сортировки путем обеспечения распознавания типа материала, из которого выполнено изделие, источники излучения имеют длины волн

0,95; 0,32 и 0,45 мкм соответственно.