Способ лазерного контроля качества поверхности материалов
Изобретение относится к неразрушающему контролю материалов и может быть использовано для контроля качества поверхностной материалов. Цель изобретения - повышение точности. Цель достигается тем, что качество поверхностей материалов определяется в дистиллированной воде одновременно по интенсивности отраженного от контролируемой поверхности лазерного луча и по величине его светового пятна. 1 ил.
СОЮЗ СОВЕТСКИХ
СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ
РЕСПУБЛИК (si)s 6 01 N 29/00
ГОСУДАР СТВЕ ННЫ Й КОМИТЕТ
ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКР э!ТИЯМ
ПРИ ГКНТ СССР
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4798074/28 (22) 16.01.90 (46) 07,09.92. Б1ол. N. 33 (75) А.К.Бровцын, Л.Г.Здесенко и А.Г.Акимов (56) Патент США М 4715709, кл. 6 01 И 21/88, 1985.
Заявка Японии М 63285450, кл. G 01 N 21/88, 1987. (54) СПОСОБ ЛАЗЕРНОГО КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТИ МАТЕРИАЛОВ
Изобретение относится к неразрушающему контролю материалов и может быть использовано для контроля качества поверхностей материалов.
Известен оптический метод обнаружения поверхностных дефектов (1).
Способ заключается в том, что на контролируемую поверхность от лазерного источника излучения под определенным углом направляется расходящийся плоский пучок, который под действием дефектов поверхности рассеивается и, отражаясь, падает на фотоприемную линейку, состоящую иэ 2048 элементов, выходной сигнал которой зависит от состояния поверхности, Наиболее близким к заявляемому является способ контроля качества поверхностей материалов, реализуемый с помощью лазерного устройства (2), заключающийся в сравнении интенсивности света, генерируемого лазером и отраженного от контролируемой поверхности, с интенсивностью света, отраженного от эталонной поверхности, по которому и судят о наличии поверхностных дефектов.
„„ Ж,„, 1760441 Al (57) Изобретение относится к неразрушающему контролю материалов и может быть использовано для контроля качества поверхностной материалов. Цель изобретения— повышение точности. Цель достигается тем, что качество поверхностей материалов определяется в дистиллированной воде одновременно по интенсивности отраженного от контролируемой поверхности лазерного луча и по величине его светового пятна.1 ил.
Недостатками этих способов является сложность создания идентичных условий в воздушной среде при измерении интенсивности лазерного луча, отраженного от контролируемой и эталонной поверхностей, а также невозможность измерения величины светового пятна от отраженного лазерного луча, по которой определяется характер дефектов поверхности в способе.
Целью изобретения является повышение точности контроля качества nosepxxoстей материалов.
Указанная цель достигается тем, что качество поверхностей материалов определяют в дистиллированной воде, обладающей более стабильными характеристиками по сравнению с воздушной средой, одновременно по интенсивности отраженного от контролируемой поверхности лазерного луча и по величине его светового пятна, На чертеже представлено устройство, реализующее способ.
Устройство состоит из емкости 1, заполненной дистиллированной водой 2, в которую помещен кронштейн 3 с закрепленным на нем образцом поверхности 4, лазера 5
1760441
2 (мощностью 10-100 Вт), жестко закрепленного на кронштейне преобразователя 6, источника 7 энергии мерной линейки 8, установленной на прозрачной стенке емкости, лйнзы 9 и фотокамеры 10. 5
Работа устройства осуществляется следующим образом.
На кронштейн 3 помещается контролируемый образец поверхности 4. Емкость 1 заполняется дистиллированной водой. На 10 контролируемую поверхность направляется под углом 45 генерируемым лазером 5 луч. Отраженный от поверхности лазерный луч фокусируется линзой 9 и регистрируется фотокамерой 10. а величина светового пят- 15 на от отраженного лазерного луча замеряется на мерной линейке 8.
По интенсивности отраженного лазерного луча и величине светового пятна опре20 деляют качество контролируемых поверхностей материалов.
Формула изобретения
Способ лазерного контроля качества поверхности материалов, заключающийся в том, что на контролируемую поверхность под определенным углом направляют лазерный луч, измеряют интенсивность и величину светового пятна, отраженного от поверхности луча, и по ним определяют качество поверхности, отличающийся тем, что, с целью повышения точности путем обеспечения возможности одновременного измерения интенсивности и величины светового пятна отраженного лазерного луча, контролируемую поверхность помещают в дистиллированную воду.

