Способ испытания токонесущей способности провода из высокотемпературного сверхпроводника

 

Изобретение относится к электроизмерениям, в частности к испытанию токонесущей способности сверхпроводящих кабелей и проводов. Цель изобретения - расширение области применения за счет возможности испытания проводов разных типов и повышение производительности за счет бесконтактного метода измерения - достигнута благодаря тому, что переход провода 1 из сверхпроводящего состояния в нормальное (резистивное) регистрируется по увеличению индуктивности катушки 2, в магнитном поле которой протягивается охлажденный в жидком азоте 5 участок провода 1. Индуктивность катушки 2 измеряется измерителем 3 индуктивности на переменном токе. Предлагаемый способ позволит исключить трудоемкую операцию нанесения контактов по всей длине провода. 1 ил.

союз советских

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (l9) (11) (51)5 G 01 R 31/00

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4686553/21 (22) 26.04,89 (46) 23.07.91, Бюл. М 27 (71) Институт теплофизики Уральского отделения АН СССР (72) Б.М.Смоляк, Е.В,Пострехин и Г,В.Ермаков (53) 621.317.31 (088,8) (56) Дэугутов В.М.Фишер Л,M. Пространственное распределение индукции в сверхпроводящей керамике. Физика твердого тела, 1988, т.30, вып.7, с.2150, Соаегу L„Jones H„Dew-Hughes D.

Technique for short sample testing of hldh—

Тс superconducting wire. -Cryogenics, 1988, ч.28, М 3, р.181. (54) СПОСОБ ИСПЫТАНИЯ ТОКОНЕСУЩЕЙ СПОСОБНОСТИ ПРОВОДА ИЗ ВЫСОКОТЕМ П Е PATYP НОГО

СВЕРХПРОВОДНИКА (57) Изобретение относится к электроизмерениям, в частности к испытанию токонесущей способности сверхпроводящих кабелей и проводов, Цель изобретения— расширение области применения за счет возможности испытания проводов разных типов и повышение производительности эа счет бесконтактного метода измерения— достигнута благодаря тому, что переход провода 1 из сверхпроводящего состояния в нормальное (резистивное) регистрируется по увеличению индуктивности катушки 2, в магнитном поле которой протягивается в жидком азоте 5 участок провода 1, Индуктивность катушки 2 измеряется измерителем 3 индуктивности на переменном токе. . Предлагаемый способ позволил исключить трудоемкую операцию нанесения контактов по всей длине провода. 1 ил.

1665318

Изобретение относится к электроизмерениям, в частности к испытанию токонесущей способности сверхпроводящих кабелей и проводов.

Цель изобретения — расширение области применения за счет возможности испытания проводов разных типов и повышение производительности за сче бесконтактного метода измерения.

На чертеже приведена схема устройства, реализующего способ.

Устройство содержит провод (обьект контроля) 1, катушку 2, измеритель 3 индуктивности, сосуд 4 Дьюара, наполненный жидким азотом 5, причем провод 1 пропущен через отверстие катушки 2, вывод которой подключен к входам измерителя 3 индуктивности, катушка 2 вместе с участком провода 1 погружена в жидкий азот 5.

Способ поясняется тем; что идеальный электромагнитный экран, размещенный внутри или вне катушки, питаемый переменным током, изменяет ее индуктивность, так как магнитное поле катушки не проникает в область, занятую экраном, Сверхпроводяшая жила провода является идеальным экраном и индуктивность катушки, в поле которой перемещают провод, одинакова на всех участках провода, находящихся в сверхпроводящем состоянии, При пропускании по проводу тока индуктивность катушки не меняется (т.е. имеет некоторое фоновое значение для всех сверхпроводящих участков) до тех пор, пока в поле катушки не окажется участок провода, на котором

11ри данном токе появилось сопротивление„ а следовательно, уменьшились его экранирующие свойства. В реэультате геометрия поля изменится и индуктивность катушки на этом участке провода увеличится, т.е. будет отмечен участок с пониженной токонесущей способностью.

Испытание провода круглого сечения ведут следующим образом.

Провод 1 продергивают через отверстие катушки 2, погружают часть провода с катушкой в жидкий азот 5, пропускают через провод 1 ток I и протягивают провод через катушку 2, непрерывно измеряя ее индуктивность. Длина охлаждаемой части провода 2 и скорость V подачи провода 1 подбираются так, чтобы участки, поступающие в катушку 2, успевали охладиться до

35 ток заданной величины, а о результатах ис40 пытания судят по тому, перешел при этом

30 температуры ниже критической. При этом индуктивность катушки 2 на участках провода 1, находящихся при заданном токе в сверхпроводящем состоянии, имеет некоторое минимальное фоновое значение, т.е. токонесущая способность этих участков не ниже задаваемой данным током. Увеличение индуктивности катушки по сравнению с фоновым значением на каком-либо участке означает, что ток здесь превысил критическое значение (участок провода 1 перешел в резистивное или нормальное состояние), т.е. токонесущая способность данного участка провода 1 не соответствует заданным при испытании требованиям.

Испытание ленточного провода ведут на том же устройстве с помощью плоской катушки, перемещая провод не в полости, а над торцовой поверхностью катушки.

Предложенный способ в отличие от известного позволяет испытывать провода в изоляции и кабели с экранирующим покрытием изолированным от центральной сверхпроводящей жилы. Способ также позволяет по крайней мере на порядок повысить производительность при испытании токонесущей способности за счет исключения трудоемкой операции нанесения контактов по всей длине провода, что дает возможность проводить испытания больших партий провода в промышленных условиях.

Формула изобретения

Способ испытания токонесущей способности.провода из высокотемпературноro сверхпроводника, заключающийся в том, что участки испытуемого провода охлаждают, переводя его в сверхпроводящее состояние, пропускают по нему электрический охлажденный участок испытуемого провода в нормальное (резистивное) состояние или нет, отличающийся тем, что, с целью расширения области применения и повышения производительности, охлаждвемый участок провода протягивают в магнитном поле катушки, индуктивность которой измеряют на переменном токе, а о переходе охлажденного участка испытуемого провода в нормальное (резистивное) состояние судят по превышению измеренной величиной индуктивности катушки заданного порогового значения.

Способ испытания токонесущей способности провода из высокотемпературного сверхпроводника Способ испытания токонесущей способности провода из высокотемпературного сверхпроводника 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к электромашиностроению

Изобретение относится к электротехнике

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля остаточной емкости кислотно-свинцовой аккумуляторной батареи в системе электроснабжения автономных подвижных объектов, имеющих в своем составе бортовую ЭВМ

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в устройствах для обнаружения короткозамкнутых витков в катушках с малым сечением провода

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля правильности монтажа кабелей, жгутов и печатных плат

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано при испытаниях силовых трансформаторов в режиме короткого замыкания (КЗ)

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения таких дефектов проводников, как обрыв, короткое замыкание, а также для определения расстояния до места дефекта

Изобретение относится к области электрических испытаний и может быть использовано для контроля и разбраковки короткозамкнутых роторов асинхронных двигателей

Изобретение относится к измерительной аппаратуре, применяемой в электротехнике, и, в частности, может быть использовано для контроля воздушного зазора синхронной электрической машины, например гидрогенератора

Изобретение относится к электротехнике и может быть использовано в процессе ресурсных испытаний газоразрядных ламп (ГЛ) при их производстве и эксплуатации

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к электротехнике, в частности к контролю электрических параметров аккумуляторных источников питания как отдельных аккумуляторов, так и батарей

Изобретение относится к области высоковольтной техники, в частности к силовым конденсаторным батареям (СКБ) в энергосистемах

Изобретение относится к области высоковольтной техники, в частности к силовым конденсаторным батареям (ОКБ) в энергосистемах
Наверх