Способ определения коэффициента отражения материала

 

Изобретение относится к технике измерений на СВЧ. Цель изобретения - повышение точности измерений коэффициента отражения (КО) материала, КО которого близок к единице. Для этого колебания СВЧ-генератора 1, пройдя первый интерферометр, образованный передающей антенной 2 и образцом 3, одновременно выполняющим роль коллиматора, проходят по образцу 4, имея плоский фронт волны и многочисленные узкие полосы пропускания. Пройдя через второй интерферометр, образованный образцами 3 и 4, к приемной антенне 5 подойдет плоский фронт волны и спектр с большим свободным спектральным интервалом, т.е. с малым числом полос. Этот сигнал поступает на индикатор 6, где производится измерение ширины отфильтрованной интерферометрами полосы пропускания системы, с помощью которой по формуле определяется КО. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (19) (11) 166357о А1

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4620829/09 (22) 28.10.89 (46) 15.07;91. Бюл, N 26 (71) Научно-производственное обьединение

"Сибирский государственный научно-исследовательский институт метрологии" (72) Г,А.Ведюшкин (53) 621.317.343(088.8) (56) Стариков В.Д. Методы измерения на

СВЧ с применением измерительной линии, М,: Сов. радио, 1972, с. 86.

Тишер Ф. Техника измерений на СВЧ, М.: ГИФ МЛ, 1963, с. 126. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ МАТЕРИАЛА (57) Изобретение относится к технике измерений на СВЧ. Цель изобретения — повышение точности измерений коэффициента

Изобретение относится к технике измерений на СВЧ, может использоваться для измерения коэффициента отражения листовых материалов в свободном пространстве и регулярных волноводах, Цель изобретения — повышение точности измерений коэффициента отражения материала, коэффициент отражения которого близок к единице.

На чертеже приведена структурная электрическая схема устройства, реализующего способ определения коэффициента отражения материала.

Устройство содержит генератор 1 СВЧ, сферическую передающую антенну 2, первый плоский образец 3 исследуемого материала, помещенный на половине фокусного расстояния передающей антенны 2, второй плоский образец 4 исследуемого материала, отражения (КО) материала, КО которого близок к единице. Для этого колебания СВЧ-генератора 1, пройдя первый интерферометр, образованный передающей антенной 2 и образцом 3, одновременно выполняющим роль коллиматора, проходят по образцу 4, имея плоский фронт волны и многочисленные узкие полосы пропускания, Пройдя через второй интерферометр, образованный образцами 3 и 4, к приемной антенне 5 подойдет плоский фронт волны и спектр с большим свободным спектральным интервалом, т,е. с малым числом полос. Этот сигнал поступает на индикатор 6, где производится измерение ширины отфильтрованной интерферометрами полосы пропускания системы, с помощью которой по формуле определяется КО. 1 ил.

I приемную антенну 5, индикатор 6, например панорамный рефлектометр.

Способ определения коэффициента отражения материала реализуется следующим образом. о

Колебания генератора 1, пройдя первый (д интерферометр, образованный передаю- . (Я щей антенной 2 и образцом 3, одновременно выполняющим роль коллиматора, О проходят к образцу 4, имея плоский фронт волны и многочисленные узкие полосы пропускания. Пройдя через второй интерферометр, образованный образцами 3 и 4. к приемной антенне 5 подойдет плоский фронт волны и спектр с большим свободным спектральным интервалом (расстоянием между полосами пропускания), т.е, с малым числом полос, например одной полосой в . диапазоне частот рефлектометра.

1663576

Составитель P. Кузнецова

Техред М.Моргентал Корректор О. Кундрик

Редактор Т, Клюкина

Заказ 2265 Тираж 412 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101

Этот сигнал поступит на индикатор 6, где будет произведено измерение ширины

- отфильтрованной интерферометрии полосы пропускания системы, по которой будет определен коэффициент отражения по форму.ле

m BL) д ЯАЯ

1,2 Lz Л4 . где и - X1z при X1,z < 1 — коэффициент отражения по мощности: дЛ = c (- — — ) — полоса пропускания;

1 1

Г 12

f> и fz- частоты на уровне трех децибелл слева и справа от максимума;

d — расстояние между образцами; р-- = 1/й — коэффициент отражения материала по напряжению;

Л-длина волны; с — скорость света.

Система обладает избирательными свойствами, обеспечивая высокую точность измерений.

Формула изобретения

Способ определения коэффициента отражения материала, заключающийся в облучении плоского образца исследуемого материала плоской электромагнитной волной с помощью передающей антенны, o t ли ч а ю шийся тем, что, с целью повышения точности измерений коэффициента отражения материала, коэффициент отражения которого близок к единице. плоский образец 1. 2 исследуемого материала устанавливают на расстоянии, равном половине фокусного расстояния передающей антенны. перемещают плоский, образец исследуемого мате5 риала вдоль оптической оси передающей антенны до получения максимального отно: шения сигнал/шум и минимального числа полос пропускания, затем параллельно плоскому образцу исследуемого материала на

10 расстоянии от него, равном нескольким длинам волн, устанавливают дополнительный плоский образец исследуемого материала. перемещают его вдоль оптической оси передающей антенны до получения максималь15. ного отношения сигнал/шум и . минимального числа полос пропускания, измеряют ширину полосы пропускания по уровню трех децибелл и определяют коэффициент отражения материала по формуле л{д@ а (дА ° а

Л2 . Л4 где R = Х,z, при X>,z < 1 — коэффициент отражения по мощности;

25 дЛ = С(- — — ) — полоса пропускания;

1 1 1 2

f1, fz — частоты на уровне трех децибелл слева и справа от. максимума:

Ре = Ч — коэффициент отражения ма30 териала по.íàïðÿæåíèþ;

d — расстояние между образцами;

Л вЂ” длина волны; с — скорость света.