Прибор контроля оптических поверхностей
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля радиусов кривизны сферических оптических поверхностей и величины их децентрировки. Целью изобретения является расширение функциональных возможностей прибора за счет контроля величины децентрировки. Перед измерением децентрировки контролируемой поверхности 5 устанавливают заданное расстояние D между компонентами 3 и 4 оптической насадки. При этом оптическая система, образованная оптической насадкой 2 и контролируемой поверхностью 5, эквивалентна плоскому зеркалу, наклоненному к оптической оси автоколлиматора 1 на угол α. С помощью автоколлиматора 1 измеряют угол α и рассчитывают величину децентрировки контролируемой поверхности 5. 1 ил.
СОЮЗ СОВЕТСКИХ
СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ
РЕСПУБЛИК (51)5 G 01 В 11/26
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ
ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ
ПРИ ГКНТ СССР
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4676866/28 (22) 11.04.89 (46) 15.07,91. Бюл. hk 26 (71) МГТУ им. Н. Э. Баумана (72) В. А. Перов, А. Б. Семин и В. В. ОдоховСКИЙ (53) 531.747(088.8) (56) Афанасьев В. А. Оптические измерения.
М.: Высшая школа, 1981, с. 229. (54) ПРИБОР КОНТРОЛЯ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть испол ьзовано для контроля радиусов кривизны сферических оптических поверхностей и величины их децентрировки. Целью изобретения является
<19) ъЫ и11 1 66341 7 А 1 расширение функциональных возможностей прибора за счет контроля величины децентрировки. Перед измерением децентрировки контролируемой поверхности 5 устанавливают заданное расстояние d между компонентами 3 и 4 оптической насадки. При этом оптическая система, образованная оптической насадкой 2 и контролируемой поверхностью 5, эквивалентна плоскому зеркалу, наклоненному к оптической оси автоколлиматора 1 на угол а, С помощью автоколлиматора 1 измеряют угол а и рассчитывают величину децентрировки контролируемой поверхности 5. 1 ил.
1663417
Формула изобретения
Прибор контроля оптических поверхностей, содержащий автоколлиматор и оптическую насадку, отлича ющи йсятем. что, с целью расширения функциональных возможностей прибора за счет контроля величины децентрировки, оптическая насадка выполнена в виде двухкомпонентной панкратической системы с подвижным первым компонентом, оптические силы обоих компо; нентов положительны.
8 - радиус кривизны контролируемой поверхности 5.
При атом оптическая система, образованная оптической насадкой 2 и контролиСоставитель А. Заболотский
Редактор K. Крупкина Техред M.Ìîðãåíòàë Корректор M. Демчик
Заказ 2257 Тираж 388 Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР.
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5
Производственно-издательский комбинат "Патент", r. Ужгород, ул.Гагарина. 101
Изобретение относится к измеритель-, ной технике и может быть использовано для контроля радиусов кривизны сферических оптических поверхностей и величины их децентрировки. 5
Целью изобретения является расширение функциональных возможностей прибора эа счет контроля величины децентрировки.
На чертеже представлена функциональ- 10 ная схема прибора.
Прибор содержит автоколлиматор 1 и оптическую насадку 2 к автоколлиматору 1, выполненную в. виде двух компонентов 3 и
4 панкратической системы с подвижным 15 компонентом 3, при этом оптические силы компонентов 3 и 4 положительны.
Контролируемую поверхность 5 устанавливают после компонента 4 на расстояние а от него по ходу пучка лучей автоколлимато- 20 ра.
Прибор работает следующим образом, Перед измерением величины децентрировки расстояние б между компонентами 3 и 4 оптической насадки устанавливают 25 равным 6(R + 8
R+ а -6
30 где f< — фокусное расстояние компонента 3;
6 — фокусное расстояние компонента руемой поверхностью 5, эквивалентна плоскому зеркалу, наклоненному по отношению к оптической оси автоколлиматора 1 на угол а
-6 R
Q дец, 6 (R+a -6) где а диац= — угловая децентрировка контС ролируемой поверхности 5, С вЂ” линейная величина децентрировки.
Величина а измеряется с помощью автоколлиматора 1.
При измерении децентрировки с поверхностей в составе оптической системы иэображение автоколлимационной марки (на чертеже не показано) автоколлиматора 1 последовательно совмещается с автоколлимационными точками каждой из поверхностей контролируемой оптической системы путем изменения расстояния между компонентами 3 и 4 оптической насадки 2, Таким образом, по сравнению с прототипом предлагаемый прибор контроля оптических поверхностей обеспечивает контроль децентрировки.
