Способ контроля теплофизических неоднородностей материалов

 

Изобретение относится к области исследования материалов, а именно к контролю их качества. Цель изобретения - повышение точности контроля. Способ осуществляют следующим образом. Пучком излучения, полученным от источника 1 и пропущенным через оптическую систему, нагревают участок поверхности 5 контролируемого материала. Двумя когеррентными пучками света освещают центр участка нагрева поверхности и ее периферийную область. Отраженные когеррентные пучки света, имеющие разность хода лучей из-за локальной тепловой деформации поверхности материала, попадают на фотоприемник 9, где интерферируют с преобразованием в электрический сигнал, который соответствует разности хода лучей и пропорционален величине тепловой деформации материала, характеризующей его теплофизическую неоднородность. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕ ГЕНИЯ

К ЮтОГС ОМ СВИДЕтЕЛЬСтВ (21) 4612007/33 (22) 05.12,88 (46) 07,07.91. Бюл. М 25 (71) Всесоюзный научно-исследсвательскйй институт "Электростандарт" (72) В.О.Ребони и В.Н.Шалин (53) 536.6 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

N 911382, кл. 6 01 R 31/26, 1982.

Патент США N. 4521118, кл. G 01 N 21/41, 1985. (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ТЕПЛОФИЗИЧЕСКИХ НЕОДНОРОДНОСТЕЙ МАТЕРИАЛОВ (57) Изобретение относится к области исследования материалов, а именно к контролю их качества. Цель изобретения — повышение

Изобретение относится к исследованию материалов, а именно к контролю их качества, Цель изобретения — повышение точности контроля.

На чертеже показана оптическая схема, реализующая предлагаемый способ.

Способ осуществляют следующим образум.

Пучком излучения, полученным от ис точника 1 и проходящим через формирующую оптику 2, светоделитель 3 и фокусирующую ситему 4, нагревают участок поверхности 5 контролируемого материала.

При наличии теплофизической неоднород, ности на поверхности 5 возникаетдеформация из-за локального теплового расширения материала. Одновременно с нагревом от ис Ы 1661636 А1 (ю5 G 01 N 25/72 (" g(i Д1 ;;5 ц1

1 у<, точности контроля. Способ осуществляют следующим образом. Пучком излучения, по,ó÷åííûì от источника и пропущенным часез оптическую систему, нагревают участо поверхности контролируемого материала, Двумя когеррентными пучками света освещают центр участка нагрева поверхности и "e периферийную область. Отраженные когеррентные пучки света, имеющие разность хода лучей иэ-за локальной тепловой деформации поверхности материала, попадают ka фотоприемник. где интерферируют с преобразованием в электрический сигнал, который соответствувт разности хода лучей и пропорционален величине тепловой деформации материала, характеризующей его теплофизическую неоднородность. 1 ил. точника б получают световой пучок, который пропускают через светоделитель 7 и преобразуют формирователем 8 в два когеррентных пучка, проходящих через светоделитель

3 и фокусирующую систему 4 таким образом, что один из них сфокусирован в центре участка нагрева, а другой — вне центра на периферийном расстоянии, определяемом длиной тепловой диффузии материала. Отражаемые от поверхности 5 когеррентные пучки света, имеющие разность хода лучей, проходят в обратном направлении через формирователь 8 и светоделитель 7 и попадают на фотоприемник 9, где интерферируют с преобразованием разности хода лучей в электрический сигнал, поступающий на регистратор 10, Электрический сигнал пропорционален разности высот центра участ1661636 ка нагрева и периферии поверхности материала, причем о наличии и характере теплофизических неоднородностей судят по величине этого сигнала.

Составитель А.Дудаков

Техред M.Ìoðãåíòàë Корректор Н.Король

Редактор Н.Яцола

Заказ 2118 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101

Формула изобретения

Способ контроля теплофизических неоднородностей материалов, включающий нагревание участка поверхности материала, освещение участка нагрева излучением, сфокусированным в точке, размещенной вне центра участка нагрева и регистрацию излучения, отраженного от поверхности материала, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля, поверхность материала дополнительно освещают излучением, сфокусированным в

5 центре участка нагрева и когеррентным по отношению к излучению, сфокусированному вне центра участка нагрева. в процессе нагрева участка поверхности материала регистрируют разность хода лучей, отражен10 ных от поверхности материала в центре и вне центра участка нагрева, а о наличии и характере теплофизических неоднородностей судят по величине разности хода лучей.