Способ определения диэлектрической проницаемости

 

Изобретение откосится к радиотехническим измерениям параметров диэлектриков с помощью микрополосковой линии и может быть использовано при исследовании свойств диэлектриков. Целью изобретения является повышение точности и увеличение частотного диапазона измерений. Способ определения диэлектрической проницаемости заключается в возбуждении электромагнитных колебаний в исследуемом образце, определении скорости распространения этих колебаний с дальнейшим вычислением диэлектрической проницаемости. Возбуждая электромагнитные колебания путем облучения ультракоротким оптическим импульсом исследуемый образец с предварительно нанесенными на него формирующими и зондирующими фотопроводниками, определяют диэлектрическую проницаемость с высокой точностью в децимиллиметровом диапазоне длин волн. 1 ил. if®3 ЧВЕВЭ 3

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РеспуБлин (Я)5 G 01 К 27 04

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н *ВТОРСНОМУ Celgg=TElaCTa Y

З:ИМИ НйЯЮВЮВВ: (21) 4696299/2 (22) 21.02.89 (/,6) 23 05 1 Б;а . 9 (71) Вильнюсский государственный университет им. В.Капсукаса (72) Ю.Ю,Вайткус, Й.Й.Кутра,.

Р.С.Мастейка, В.N.Мединис„ М.Б.Пятраускас и Р.Г.Томашюнас (53) 621.3l7.73 (088.8) (56) Автсрское свидетельство СССР

Ф 1385091, кл. G 01 R 27/26, 1985.

Авторское свидетельство СССР

Ф 1218343„ кл. G 01 R 27/26, 1984, (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ (57) Изобретение относится к радиотехническим измерениям параметров диэлектриков с помощью микрополосковой линии и может быть использовано при

Изобретение относится к радиотехническим измерениям параметров диэлектриков с помощью микрополосковой линии.

Целью изобретения является повышение точности и увеличение частотного диапазона измерений.

На чертеже приведена конструкция устройства, реализующая. предлагаемый способ.

Устройство содержит исследуемый образец 1, формирующий фотопровод2, 3oHpHp éé фотопро водник 3 металлизированные полоски 4-7, Способ определения диэлектрической прож цаемости осуществляют следующим образом..,ЯО„„1651237 A 1

2 исследовании свойств диэлектриков.

Целью изобретения является повышение точности и увеличение частотного диапазона измерений. Способ определения диэлектрической проницаемости заключается в возбуждении электромагнитных колебаний в исследуемом образце, определении скорости распространения этих колебаний с дальнейшим вычислением диэлектрической проницаемости. Возбуждая электромагнитные колебания путем облучения ультракоротким оптическим импульсом исследуемый образец с предварительно нанесенными на него формирующими и зондирующими фотопроводниками, oIIределяют диэлектрическую проницаемость с высокой точностью в децимил-лиметровом диапазоне длин волн. l ил.

На исследуемый образец 1 наноситСЬ ся формирующий 2 и зондирующий 3 фотопроводники, например поликристаллические CdSe, металлизированные полоски 4 - 7, например алюминиевые.

Металлизированные полоски 4 и 6 об- 4 разуют микрополосковую линию, закороченную на противоположном от формирующего фотопроводника 2 конце. Металлизированные полоски 5 и 7 с общей шиной б являются контактными площадками для зондирующего и формирую- Ь щего фотопроводников соответственно..

К металлизированным полоскам 7 и 6 подключается постоянное напряжение величиной 100В.. Формирующий фотопроводник 2 облучается ультракорот165 1237 ким Оптическим импульсом (длительоп(2еделяется i ребуемь(м wacTO 1— ным,циапазоном), вследствие чего в микрополосковую линию посылается г электромагнитный импульс, который,, .О.дя мимо зондирующего фотопроводНИКЯ 3> ДОСтИГаЕт ЗаКОРОЧЕННЫй Кот линии, отражается от него и возвря(1(ается обратно, Для считывания элек--. 1О т-;..Омагнитпо го импульса. проходяще го ми (о зондирующего фотопроводника 3, осуществляется Облучение фотопровод".".Ит(Я З УЛЬTPЯKОDОтт(и(ОПтИЧЕ(КИМ HN— пульсом, Измерение времени ряспрос-—

15 р яп ения электромагнитного импульса oò

3OН.тHpушщЕГО (j20тOT1pOВОдНИКЯ до

:(OHUB Л(1НИИ И OOP D 1 НО П120ИЗ ВО, титСЛ

КОРРЕГ(21Ц11ОННтт1;1 МЕТОДОМ С ПОМОЩЬЮ СИС-.

1 . JI I,т1(рявт(ен "Iя (. регист12яцптi 1 я Ос

:.т -. î IFIIIP03l5" 1 По -т (т1 лн111

;! времени ряспрсстряле .ия .:..Октро— ,:я- нитного импулт,ся i(извес..: (ой длин= (.2езкя микрополосковой липHH опреде i, (е т с я ф Я 3 О в Я Н с к О р О с.т Ь Ч(р т П О 42 O p M 2 Ë 11 и 7 Q

С С: (=1 + ((1 +

22 — -т 9 тЗ

l1 1

10 --) -- -„, (где с — скорость светя тз свободном пространстве I ° - эфl З " " - gg г „-:.К-тИВНЯЯ ДИЭЛЕК 1Рт(ЧCC I BFò т(РОт111ЦЯЕмость. ((.1, — диэлектрическая проницяе. Ость„(1 — толщина образца 11 --,(FlpH

МИКРОПОЛОС KOBOII ЛИНИИ) Втв1ЧИСЛт(Е;— ся диэлектрическая проницаемость

Об рязця-, .

Преимуществом предлаг",ñ(1oão спос,-"2я определения. диэлектрической роницяемости является увеличение точности, обусловленное независимостью от ширины и длины исследуемого образца, а увеличение частотного диапазона в сторону уменьшения длины волны (децимиллиметровый диапазон длин волн) обусловлено возможностью применения электромагнитных колебаний с длиной волны менее 1 мм. Таким образом, способ позволяет технически легко осуществить исследования температурной и частотной зависимости диэлектрической проницаемости образца. формула изобретения

Способ определения диэлектричес((ой проницаемости, заключающийся в том„. что возбужда(от в исследуемом образце электромагнитные колебания, определяют скорости их распространения и гто результатам измерений диэлектрическую проницаемость, о т л и ч à ю— шийся тем, что, с целью повьш(ения точности и увеличения частотного диапазона измерений, в исследуемом образце с предварительно нанесенными формирующим и зондирующим электромагнитные колебания ф((2топроводниками

Осуществляют возбуждение электромаг= нитных колебаний посредством облучения ультракоротким оптическим импульсом формирующий фотопроводник, а определение времени распространения электромагнитных колебаний осуществляют от зондирующего фотопроводника до конца исследуемого образца и об" ратно.