Стереоскопический однообъективный микроскоп

 

Изобретение относится к приборостроению, а именно к стереоскопическим микроскопам. Цель изобретения - обеспечение контроля микроструктур с малорельефными элементами. В устройство введены съемные полупрозрачные отражатели, установленные между объективом и элементами блока изменения увеличения. Отражатели установлены друг за другом и пересекаются с осью блока изменения увеличения под углом 45. Для наблюдения объектов с разными свойствами съемные отражатели образуют комплексы с соответствующими соотношениями коэффициентов отражения. Приведены соотношения. 4 п. ф-лы, 1 ил.

Изобретение относится к приборостроению, а именно к стереоскопическим микроскопам. Одним из применений стереомикроскопов является контроль микросхем. Цель изобретения - обеспечение контроля микроструктур с малорельефными элементами. На чертеже показана принципиальная схема микроскопа. Микроскоп имеет: 1 - наблюдаемый объект, 2 - объектив, 3 - дополнительные линзы, 4 - оборачивающая призменная система, 5 - окуляры, 6, 7 - системы Галилея устройства изменения увеличения, 8 - первый съемный полупрозрачный элемент, 9 - второй съемный полупрозрачный элемент, 10 - источник света, 11 - конденсор. Элементы 10 и 11 образуют переставной осветитель, который в штатном состоянии микроскопа позволяет осуществлять наблюдение в проходящем свете и при косом освещении. Полупрозрачные отражатели 8 и 9 пересекаются с осями Галилея под одинаковыми углами, преимущественно равными 45^о. Световые размеры этих отражателей согласованы с максимальными световыми размерами обращенных к ним элементов систем Галилея. В зависимости от характера индикатриссы рассеяния наблюдаемых структур полупрозрачные отражатели 8 и 9 имеют коэффициенты отражения, находящиеся в одном из соотношений ₁= ₂-²₂ (1) ₂= ₁/(1-₁+²₁) (2) В случае соотношения (1) ₁ = 0,25, ₂ = 0,5, а при соотношении (2) ₁= 0,36, ₂ = 0,46 обеспечивают максимальную освещенность. Микроскоп работает следующим образом. Свет от осветителя (10, 11) попадает на первый полупрозрачный отражатель 8. Часть ₁ этого света отражается в сторону объектива 2 и фокусируется им на наблюдаемом объекте 1. Вторая часть (1-₁) света проходит сквозь отражатель 8, попадает на второй полупрозрачный отражатель 9, частично ( ₂) отражается им в сторону объектива 2 и тоже фокусируется им на наблюдаемом объекте 1. Если индикатрисса рассеиваемого наблюдаемым объектом света имеет направленность в сторону падающего на объект света, то использование отражателей с коэффициентами отражения по соотношению (1) обеспечивает одинаковую освещенность изображений в обоих каналах наблюдения 3, 4, 5, 6 (или 7), причем эта освещенность будет максимальной, если ₁ = 0,25, а ₂ = 0,5. В случае, когда индикатрисса рассеиваемого наблюдаемым объектом света направлена под углом отражения (угол отражения равен углу падения света на объект), то для получения одинаковой освещенности изображений в обоих каналах наблюдения используют отражатели с коэффициентами отражения по соотношению (2). Освещенность будет максимальной в этом случае при ₁ = 0,36 и ₂ = 0,46. (56) Бабушкин С. Г. и др. Оптико-механические приборы, Машиностроение, 1965, с. 26-29. Чуриловский В. Н. Теория оптических приборов. Машиностроение, 1966, с. 445.

Формула изобретения

1. СТЕРЕОСКОПИЧЕСКИЙ ОДНООБЪЕКТИВНЫЙ МИКРОСКОП, содержащий переставной осветитель, объектив и два оптических канала, в каждом из которых последовательно установлены блок изменения увеличения, ахроматическая линза и оборачивающая призма, а также окуляр, отличающийся тем, что, с целью обеспечения возможности контроля микроструктур с малорельефными элементами, в оптические каналы между объективом и блоком изменения увеличения введены съемные полупрозрачные отражатели, плоскость установки которых находится под одинаковым углом к оси блока изменения увеличения, преимущественно равным 45^o. 2. Микроскоп по п. 1, отличающийся тем, что, с целью контроля микроструктур, полученных травлением, коэффициенты отражения первого и второго полупрозрачных отражателей находятся в соотношении ₁= ₂-₂² 3. Микроскоп по п. 2, отличающийся тем, что, с целью получения максимальной освещенности, коэффициенты отражения первого и второго полупрозрачных отражателей равны 0,25 и 0,5 соответственно. 4. Микроскоп по п. 1, отличающийся тем, что, с целью контроля микроструктур, полученных резанием, он снабжен комплектом съемных полупрозрачных отражателей, коэффициенты отражения которых находятся в соотношении ₂= 5. Микроскоп по п. 4, отличающийся тем, что, с целью получения максимальной освещенности, коэффициенты отражения первого и второго отражателей равны 0,36 и 0,46 соответственно.

РИСУНКИ

Рисунок 1

MM4A Досрочное прекращение действия патента Российской Федерации на изобретение из-за неуплаты в установленный срок пошлины за поддержание патента в силе

Номер и год публикации бюллетеня: 8-2000

Извещение опубликовано: 20.03.2000        

---