Способ измерения наклона оптической оси одноосного кристалла

 

Изобретение позволяет определять угол наклона оптической оси одноосного кристалла при микроструктурном анализе минералов. С целью расширения диапазона измерений и повышения точности направляют пучки линейно поляризованного света, идущие под углом один к другому, на контролируемый кристалл. Пространственно совмещают пучки в фокальной плоскости микрообъектива после кристалла. Наблюдают коноскопическую фигуру совмещенных пучков через скрещенный поляризатор (анализатор) и окуляр - микрометр. Совмещают одну из изогир коноскопической фигуры с одной из нитей шкалы - перекрестья окуляр - микрометра и снимают при этом отсчет по шкале лимба столика микроскопа, на котором расположен кристалл. Поворачивают столик с кристаллом, вновь снимают отсчет по лимбу столика и одновременно определяют величину линейного смещения изогира по шкале - перекрестию окуляр - микрометра. Находят разность углов по лимбу для двух его положений. По найденному значению и величине линейного смещения коноскопической фигуры вычисляют угол наклона оптической оси одноосного кристалла. 3 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (51) 5

< с

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ . ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР (21) 4486911/24-28 (22) 26, 09. 88 (46) 23.05.90. Бюл. У 19 (71) Институт геологических наук им. К.И; Сатпаева (72) В.П.Компанейцев (53) 531.74 (088.8) (56) Шишловский A.À, Прикладная физическая оптика, Х,: Физматгиэ> 1961, с. 80!-803. (54) СПОСОБ ИЗИЕРЕ1»11Я НАКЛОНА ОПТИЧЕСКОИ ОСИ ОДНООСНОГО КРИСТАЛЛА (57) Изобретение позволяет определять угол наклона оптической оси одноосного кристалэпа при микроструктурном анализе»янералов. С целью расширения диапазона измерений и повышения точности направляют пучки линейно поляризованного света, идущие под углом один к другому, на контролируемый кристалл, Пространственно совмещают пучки в фоИзобретение относится к измерительной технике и может использоваться при опр ед елении ориентировки к рист алла и при жкроструктурном анализе горных пород .

Целью изобрете»»ия является расширение диапазона измГ»рен»»й и повышение точности за счет измерения линейных смеще»»ий изогиры коноскопической фигуpbI при двух угловьIх азимуталъюз»х поло же»п»ях исследуемого кристалла.

На фиг, 1 показано измерение ориентировки оптической оси минсрала (кристалла) в косых сече»в»ях, В исходном положении (а) и после поворота на упор -»>Г (б); на фиг. 2 - измерение.80 Щ»6291 А1

2 кгльной плоскости микрообъектива после крист алла. Наблюдают коноскопическую фигуру совмещенных пучков через скрещенный поляризarop (анализатор) и окуляр-микрометр. Совмещают одну из изогир коноскопической фигуры с одной из нитей шкалы-перекрестья окуляр-микрометра и снимают »три этом отсчет по шкале лимба столика микроскопа, на котором расположен кристалл, Поворачивают столик с кристаллом. вновь снимают отсчет по лимбу столика и одновременно определяют ве»в»чину линейного смещения изогира по шкале-перекрестию окуляр-микрометра. Находят разность углов по лимбу для двух его положений. По найденному зна — Б чению и величине линейного смешения коноскопической фигуры вычисляют угол наклона оптической оси одноосного С: кристалла, 3 ил. ориентировки оптической оси м»»нерала ф в умеренно косых сечениях (выход опти- Щ ческой оси А расположен в поле зре»в»я коноскопа) в исходном положении (а) у) и после поворота столика с минералом на угол 4 (б); на фиг. 3 — измерение ориентировки оптической о "и в сеченн— ях, в которых ось почти параллельна шл»фа B HC XOp»HO M IIOJIOIKL HI»II e .коноскопическая фигура в виде толсто- «1» го креста (а) и после поворота столика с м»нералом на угол w (б), В исходном положении (зерно погаш»вЂ”

H0) коноскопической фигуры рНоосНо го м»нерала> оптическая och А находl .òся за пределами поля зрения коносксп1а.

1566208

Изогира совмещена с вертикальной нитью перекрестия окулярного. Тонкий конец иэогиры обращен в сторону выхода оптической оси., 5

После поворота на угол о(коноскопической фигуры одноосного плнерала оптическая ось А, описав окружность вокруг центра окуляра О, занимает новое положение, Изогира смещена вправо и пересекает шкалу окуляр-микрометра в точке Н на расстоянии D от его центра,.

После поворота столика с минералом на угол с (фиг. Зб) . !(рест распадается на дв е изогиры, одна из которых пе- f 5 ресекает шкалу окуляр-микрометра и точке Н на расстоянии D от центра коноскопа, Измерения проводят следующим образомм. 20

Направляют коллимиронанные световые пучки па контролируемый кристалл под углом относительно друг друга, одновремецпо их линейно поляризуют с помощью поляриз атор а, 25

I oñsiе прохождения пучков через контролируемый кристапл их совмещают н фокальной плоскости микрообьектина.

Hэ аимодействие пучков Й фокальнои плоскости дает сложную интерференционную картину в виде коноскоиической фигуры, которую через скрещенный анализатор с помощью линзы .Бертрана проектируют B увеличенном виде в фокальную плоскость окуляр-микрометра. С помощью последнего н;.блюдают исследуемую коноскопическую фигуру пучков света, прошедших через соседние участки кристалла, Центрируют шкалу-перекрестие окуляр-микрометра параллельно световым колебаниям одного из поляризаторов, совмещая одну пз изогир (темная полоса, все точки которой соответствуют тем направлениям в кристалле, по которым распространя.отся лучи с колебаниями, параллелью|ми плоскостям пропускания в скрещенных поляризаторах) с оцной иэ нитей шкалы-перекрестия окуляр-микрометра (фиг, l а), При несовпадении иэогиры с нитью перекрес-,. тия враща;от окуляр-микрометр н тубусе микроскопа до их совмещения, Снимают отсчет М по лимбу предм тного столи1 ка микроскопа, После этого BpBIUaþò столик микроскопа с крчсталлом на уго в результате чего смещается коноскопическая фигура (фиг. 16, 26 и 36), Снимают при = òîì второй отсчет по лимбу предметного столика микроскопа, равный o(и величину линейного перемещения D характерно точки изогиры по шкале-перекрестив окуляра, Определяют разность углов понорота

1= 1 —, кристалла дпя двух положений столика микроскопа и соответстнующее .ему смещение изогиры в поле зрения окуляра, которое находится в функциональной зависимости от угла наклона оптической оси, что дает воэможность измерять его и в тех случаях, когда выход оптической оси кристалла (крест коноскопической фигуры) находится нне поля зрения коноскопа (фиг, 16), По измеренным и найденным значениям

D u Q вычисляют угол наклона ср оптической оси к плоскости шлифа:

co3 (g = где D — линейное расстояние от центра поля зрения окуляра до точки пересечения изогирой шкалыперекрестия окуляра;

K — константа Малляра; п — показатель преломления кристалла;

ы - угол поворота столика микроскопа от положения погасания зерна н проходящем свете (изогира проходит перекрестие нитей окуляр-микрометра) до положения, при котором изогира пересекает шкалу окуляр-микрометра на расстоянии D от центра коноскопа.

Предлагаемый способ позволяет проводить измерения как при наличии креста коноскопической фигуры в поле зрения микроскопа, так и при его выходе из него, что обеспечивает расширение диапазона измерений угла наклона оптической оси, Проведение измерений не по центру расплывчатого креста коноскопической фигуры, а по протяженной иэогире позволяет уменьшить погрешности в определении угла наклона оптической оси, Формула изобретения

Способ измерения наклона оптической оси одноосного кристалла, заключающийся в том, что поляризуют коллимиронанные пучки излучения, преобраэу— ют их в сходящиеся относительно друг друга, пропускают сходящиеся пучки через кристалл, совмеш"-.þò пучки н фокальной плоскости микрообъектива и од5 1566?08 6 новрейенно формируют из них коноскопи- гуры относительно перекрести-i ».ipe- „ ческую фигуру, наблюдают сформирован" деляют при повороте кристалпа па э дданную картину через скрещенный с поля- угол, измеряют при этом линейное ризатором анализатор и окуляр-микро5 смещение иэогиры относительно пегтрч метр, определяют положение иэогиры перекрестия окуляр-микрометра if Bbfноскопической фигуры относительно числяют угол наклона оптической оси микрометра кристалл иэ з висимо по которому судят об ориентировке îси / р кристалла, отличающийся соэ ! и зin +О соз о( тем, что, с целью расширения диапазона измерения и повышения точности, где D — линейное смещение. изогиры; предварительно ориентируют одно из К вЂ” константа Иалляра; перекрестий шкалы окуляр-микрометра п — показ атель преломления крисвдоль плоскости пропускания анализа- талла; тора и положение коноскопической фи- о(— угол поворота кристалла.

l566208

Составитель Н. Солоухин

Техред Л.Олийнык

Корректор Н, Ревская

Редактор Н,Бобкова

Заказ 12 I5

Под пи с ное

Тираж 488

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб,, д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 101