Способ оценки качества кристаллов кварца

 

Изобретение относится к области определения качества кристаллов кварца, применяющихся для изготовления кварцевых резонаторов и фильтров. Целью изобретения является повышение достоверности, чувствительности и расширение диапазона измерений добротности кристаллов кварца. Кристалл подвергают гамма-облучению дозой не менее 2<SP POS="POST">.</SP>10<SP POS="POST">7</SP> Р и оценку его качества проводят по разности коэффициентов поглощения в полосе, наиболее чувствительной к радиационному воздействию и выбранной для контроля, и в базовой полосе 3800 см<SP POS="POST">-1</SP>. По приведенной формуле определяют добротность кристаллов. 1 з.п. ф-лы, 1 табл.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН

ОЛИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н A BTGPCHGMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГННТ СССР (21) 4395535/24-25 (22) 25 ° 01,88 (46) 07 05 90. Бюл. !! 17 (72) А.П. Погребняк (53) 543,422.4(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

М !462984, кл. С 01 N 21/33, 1987.

Авторское свидетельство СССР (769415, кл, С 01 Ь 21/17, l980. (54) СПОСОЬ ОЦКНКИ КАЧКСТВА КРИСТАЛЛОВ КВАРЦА (57) Изобретение относится к области определения качества кристаллов кварца, применяющихся для изготовления

Изобретение относится к определению качества кристаллов кварца, применяющихся для изготовления кварце-. вых резонаторов и фильтров.

Цель изобретения - повышение достоверности, чувствительности и расширения диапазона измерений добротности кристаллов кварца.

Пример 1 . Из кристалла кварца изготавливается образец у-сре. за по принятой технологии. После полировки толщина пластины составляет

10 мм, Пластина облучается -излу60 чением дозой 2.10 Р от изотопа Со

С помощью спетрофотометра записывают спектр поглощения в области волновых чисел 3900-3000 см для пирамиды роста (1120) .

По спектру определяют пропускание для волновых чисел 3800 и 3 196 см,, рассчитывают разность коэффициентов поглощения и определяют добротность

„„su „„ 562790 А 1 д,) С 01 N 2!/35

2 кварцевых резонаторов и фильтров. Цель изобретения - повышение достоверности, чувствительности и расширение диа-. пазона измерений добротности кристаллов кварца. Кристалл подвергают гамма-облучению дозой не менее 2 10 Р и оценку его качества проводят по разности коэффициентов поглощения в полосе, наиболее чувствительной к радиационному воздействию и выбранной для контроля, и в базовой полосе

3800 см . По приведенной формуле определяют добротность кристаллов.

1 з.п, ф-лы, 1 табл. материала пирамиды роста (0001) по формуле

10 (!) 0,542 К +0,0136 где Ц вЂ” добротность кварца для пирамиды (0001) на частоте 1 ИГц;

К вЂ” разность коэффициентов поглощения, определяемая по формуле

1g тe8oo 1g ть196 (2)

1 где Т 8 и Т,19 пропуска ние для

38оо волновых чисел 3800 и 3196 см соответственно; - толщина образца в

СМ.

Пример 2. Для определения радиационной стойкости образца его подготовку и запись спектра проводят как в примере 1. Затем определяют

1562790

IR Т5Soo — 1g Т 3196

У

rye Т Ьоо и Т, 6 - пропускание для волновых чисел

3800 и 3196 см соответственно, — толщина образ-. ца, см. т

Коэффициент поглощения для пирамиды роста (1120-) Величина добротности для пьезоэлементов, изготовленных из ма,териала пирамиды (0001) на частоте

1 МГц до облучения после облучения

3385 cM 3196 см

3385 см 3196 см

0,6-77 о 537

0,408

0,259

0,250.2 7 10

3 6 10

4,7 10

7,0 106

7 3" 10

0,745

0,657

0 523

0,275

0,328

О, 155

0,444

0,290

0,152

0,327

0,137

0,337

0,276

О, 130

0,230

Составитель Е; Петросян

Редактор Н. Лазоренко Техред N,дрык Корректор Т. Малец

Ф J

Заказ 1059 Тираж 508 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская .наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", r.Óæãoðîä, ул.Гагарина, 101 разность коэффициентов йоглощения при волновых числах 3800 и 3385 см, Ес" ли разность коэффициентов поглощения меньше 0,3 см, изменение частоты будет не более 1,5, ° 10 Гц.

В таблице приведены зависимости . коэффициентов поглощения s полосах

3385 и 3196 см для пирамиды (1120) в образцах различной добротности ч до и после. -облучения дозой 2 ° 10 P.

Обе полосы 3196 и 3385 см чувст- вительны к радиационному воздействию.

:Однако при оценке добротности нерадиационностойких сортов кварца погло- 15 щение в полосе 3385 см может достигать 100, поэтому для оценки добротности целесообразно выбирать полосу

3196 см-

Формула изобретения. 1. СпЬсоб оценки качества кристал;лов кварца в основной пирамиде роста пинакоида:(0001), заключающийся в 25 том, что измеряют коэффициент поглощения электромагнитного излучения в кристаллах кварца в неосновной пирамиде роста, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности, чувствительности и расширения диапазона измерений добротности, предварительно кристалл подвергают (-облучению дозой не менее 2 1От рентген, а оценку качества кристалла производят по разности коэффициентов поглощения К в полосе, наиболее чувствительной к радиационному воздействию, и в базовой полосе 3800 см

2. Способ по и. 1, о т л и ч а юшийся тем, что измеряют коэффициенты поглощения электромагнитного излучения в пирамиде роста (1120) в полосе 3196 см и в базовой полосе 3800 см, а добротность кварца в основной пирамиде роста для частоты 1 МГц определяют по формуле

Я вЂ” — -- — — — — ——

0,542< +0,0136