Способ обнаружения дефектов сегнетоэлектрического носителя информации
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для контроля однородности сегнетоэлектрических пластин при изготовлении носителей информации. Цель изобретения - повышение достоверности способа. Способ основан на регистрации формы интерференционных полос прошедшего через монодоменизированную сегнетоэлектрическую пластину монохраматического излучения до и после переполяризации сегнетоэлектрика и идентификации дефектов с деформацией формы интерференционных полос, что позволяет выявить дефекты сегнетоэлектрика различной физической природы. 2 ил.
СОЮЗ СОВЕТСНИХ
СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ
РЕСПУБЛИН (19) (1И
А1 (51)5 G 11 С 11/22
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ
К А ВТОРСКОМ,Ф СВИДЕТЕЛЬСТВУ
4й 4
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ
ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМ
ПРИ ГКНТ СССР
1 (21) 3835874/3 1-24 (22) 04.01.85 (46) 15.04.90. Бюл, В 14 .(71) Уральский государственный университет им. А.M.Ãoðüêoão (72) В.Я.Шур, Н.В.Коровина и А.Л.Груверман (53) 681.327(088.8) (56) ФТТ, 1977, т.19, В 8, с.1238—
1244.
J. of Appl. Plys, 41, В 6, 1970, р.2321-2325. (54) СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ
СЕГНЕТОЭЛЕКТРИЧЕСКОГО НОСИТЕЛЯ ИНФОРМАЦИИ (57) Изобретение относится к вычисИзобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для контроля однородности сегнетоэлектрических пластин при изготовлении носителей информации на их основе.
Цель изобретения — повышение достоверности способа обнаружения дефектов сегнетоэлектрического носителя информации.
На фиг.! и 2 приведены графики.
Физическая сущность способа основана на том, что при монодоменизации сегнетоэлектрической пластины вблизи областей, имеющих дефекты электрической природы, возникают объемные заряды, создающие при переключении поляризации связанные внутренние поля, вызывающие, в свою очередь, локальные изменения двулуче2 лительной технике и может быть использовано для контроля однородности сегнетоэлектрических пластин при изготовлении носителей информации. Цель изобретения — повышение достоверности способа. Способ основан на регистрации формы интерференционных полос прошедшего через монодоменизированную сегнетоэлектрическую пластину монохроматического излучения до и после переполяризации сегнетоэлектрика и идентификации дефектов с деформацией формы интерференционных полос, что позволяет выявить дефекты сегнетоэлектрика различной физической природы. 2 ил. преломления и, как следствие, деформацию интерференционных полос прошедшего через носитель монохроматического излучения.
Монодоменизацию пластины осуществляют электрическим полем с напряженностью, достаточной для переключения поляризации во всем объеме, после чего регистрируют форму и положение интерференционных полос. 3атем к пластине прикладывают электрическое поле противоположного направления и повторно регистрируют форму и положение полос. Деформация полос свидетельствует о наличии дефектов в исследуемом объеме сегнетоэлектрика.
Предложенный способ обладает боль.rueA достоверностью по сравнению с известными, так как позволяет выяв1557587 лять дефекты носителя информации различной природы.. формула изобретения
Способ обнаружения дефектов сегнетоэлектрического носителя информации, включающий регистрацию формы интерференционных полос прошедшего через монодоменизированную сегнетоэлектрическую пластину монохроматического излучения, о т л и ч а ю— шийся тем, что, с целью повышения его достоверности, монодоменизированную сегнетоэлектрическую пла5 стиву переполяриэуют, а наличие дефектов идентифицируют с деформацией формы интерференционных полос прошедшего через пластину монохроматического излучения до и после переполяриэации.
1557587 дб,яка
ХОО
Составитель В.Костин
:Редактор Т.Федотов Техред М;Ходанич Корректор М. Шароши
Заказ 719 Тираж 485 Подписно
ВНИИПИ Государственного комитета о изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР
113035 Москва, %-35, Рауаская наб., д. 4/5Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 101


