Способ определения параметров носителей заряда в полупроводниках
Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для определения параметров носителей заряда в полупроводниках. Целью изобретения является обеспечение определения Холловской подвижности, дрейфовой подвижности и времени жизни неосновных носителей заряда. На образец, имеющий выпрямляющий контакт, воздействуют магнитным полем и монохроматическим излучением. Измеряют зависимости фототока от длины волны монохроматического излучения в длинноволновой области спектральной чувствительности образца при отсутствии и при наличии воздействия магнитным полем. Строят графики зависимостей обратного фототока от обратного коэффициента поглощения. По этим графикам определяют диффузионные длины неосновных носителей заряда при отсутствии и наличии воздействия магнитным полем и по полученным значениям вычисляют Холловскую и дрейфовую подвижности, а также время жизни неосновных носителей заряда. Способ может быть использован для определения параметров неосновных носителей заряда, генерируемых при облучении полупроводника поглощаемым светом. 1 ил.
Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для определения параметров носителей заряда в полупроводниках. Цель изобретения обеспечение определения Холловской подвижности, дрейфовой подвижности и времени жизни неосновных носителей заряда. На чертеже приведена схема устройства для реализации предлагаемого способа. На схеме обозначены образец 1, полюса электромагнита 2, источник 3 монохроматического света, выпрямляющий контакт 4 и измеритель фототока 5. П р и м е р. Определяют параметры неосновных носителей заряда в кремниевой пластине n-типа проводимости с удельным сопротивлением 250 Омсм. Выпрямляющий контакт получают в виде p+-слоя на поверхности образца путем диффузии глубиной порядка 0,2 мкм. Другой контакт осуществляют с противоположной стороны. Образец помещают в зазор между полюсами электромагнита постоянного тока, освещают монохроматическим светом в длинноволновой области спектральной чувствительности и измеряют фототок при различных значениях длины волны света. Результаты измерений приведены в таблице (В индукция магнитного поля). По данным, приведенным в таблице, строят зависимости 1/I=f(1/K) и
f
сглаживая их по методу наименьших квадратов. По точкам пересечения этих зависимостей с отрицательной полуосью 1/K определяют диффузионные длины неосновных носителей заряда в отсутствие магнитного поля L= 252,80847 мкм и при наличии магнитного поля с индукцией В= 1,606 Тл, Lв=251,60833 мкм. Холловскую подвижность
неосновных носителей заряда вычисляют по формуле
1
Зная величину Холловской подвижности, вычисляют дрейфовую подвижность неосновных носителей заряда для данного образца по формуле
др=
/
и время жизни
неосновных носителей заряда вычисляют по формуле:
L2/
др= 53,5 мкс где К постоянная Больцмана; Т температура образца; q заряд электрона.
Формула изобретения
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ПОЛУПРОВОДНИКАХ, основанный на измерении тока через образец, имеющий выпрямляющий контакт при отсутствии и при наличии воздействия на образец магнитным полем, вектор индукции которого параллелен поверхности образца, отличающийся тем, что, с целью обеспечения определения Холловской подвижности, дрейфовой подвижности и времени жизни неосновных носителей заряда, образец освещают монохроматическим светом в длинноволновой области спектральной чувствительности, изменяют длину волны света и определяют зависимости коэффициента поглощения и фототока от длины волны света при наличии и отсутствии воздействия на образец магнитным полем, строят графики зависимостей обратного фототока от обратного значения коэффициента поглощения, по полученным зависимостям определяют диффузионные длины неосновных носителей заряда и вычисляют Холловскую подвижность

дрейфовую подвижность



время жизни


где B - индукция магнитного поля;
L - диффузионная длина неосновных носителей заряда при отсутствии магнитного поля;
LB - диффузионная длина неосновных носителей заряда при воздействии на образец магнитным полем;
K - постоянная Больцмана;
T - температура образца;
q - заряд электрона;
r - Холл-фактор.
РИСУНКИ
Рисунок 1, Рисунок 2MM4A Досрочное прекращение действия патента Российской Федерации на изобретение из-за неуплаты в установленный срок пошлины за поддержание патента в силе
Номер и год публикации бюллетеня: 36-2000
Извещение опубликовано: 27.12.2000