Устройство для измерения динамических деформаций

 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения высокоскоростных пластических деформаций. Целью изобретения является повышение точности измерений за счет увеличения чувствительности. Устройство для измерения динамических деформаций содержит два тензорезистора 1 и 4, испытывающих одновременно одни и те же динамические деформации, источник 2 отрицательного тока, соединенный параллельно с первым тензорезистором 1 "плюсом"-к общему проводу, "минусом"-к первому выходному проводу 3, источник 5 положительного тока, соединенный параллельно с вторым тензорезистором 4 "минусом"-к общему проводу, "плюсом"-к второму выходному проводу 6.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (!) y G Ol В 7/16

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А ВТОРСКОМУ СВИ4ЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

AO ИЭОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМ !

РИ ГКНТ СССР (2!) 4241769/25-28 (22) 11.05 ° 87 (46) 07.07.89. Бюл. Ф 25 (72) Л.Г.Потапов, Л.И.Колюпанов и В.F..Áîáûëåâ (53) 53!.781.2 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

1 !000743, кл. G 01 В 7/16, 198!.

Полупроводниковые тензодатчики.

/Под ред. М.Дина. — М. — Л.: Энергия, 1965, с, 92. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИНАМИЧЕСКИХ ДЕФОРМАЦИЙ . (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения высокоскорост„.,SU„„1492214 A 1

2 ных пластических деформаций. 11елью изобретения является повышение точности измерений за счет увеличения чувствительности. Устройство для измерения динамических деформаций содержит два тензорезистора l и 4, испытывающих одновременно одни и те же динамические деформации, источник

2 отрицательного тока, соединенный параллельно с первым тензорезистором 1 "плюсом" — к общему проводу, "минусом" — к первому выходному проводу 3, источник 5 положительного тока, соединенный параллельно с

11 fl вторым тензорезистором 4 минусом к общему проводу, "плюсом" — к второму выходному проводу 6. 1 ил.

1492214

Изобретение относится к измерительной технике и может быть исполь20 эонано для измерения высокоскоростных пластических деформаций в эле5 ментах конструкций.

Цель изобретения — повышение точности эа счет увеличения чувствительности тенэорезисторон, испытывающих одновременно один нид деформиро- 10 вания.

На чертеже изображена функциональная схема устройства.

Устройство для измерения динамических деформаций содержит первый 15 тензореэистор 1 и параллельно соединенный с ним первый источник 2 отрицательного тока, "минус" которого и первый вывод первого тензорезистора 1 соединены с первым выходным проводом 3, а "плюс" и второй вывод первого тенэорезистора 1 соединены с общим проводом, второй тензорезистор 4 и параллельно соединенный с ним второй источник 5 положительного тока, "плюс" которого и первый вывод второго тензорезистора 4 соединены с вторым выходным проводом 6, а "минус" и нторой вывод второго тензорезистора 4 соединены с общим проводом, два разделительных конденсатора 7 и 8, первые обкладки которых соединены с выходными проводами 3 и

6 соответственно, а вторые обкладки конденсаторов 7 и 8 соединены с нхо- 35 дами дифференциального усилителя (не роказан). Тензорезисторы 1 и 4 установлены в одной измерительной точке исследуемой конструкции и испытывают одновременно один вид деформирова- 40 ния, Устройство работает следующим образом.

В режиме покоя одинаковые по величине токи источников 2 и 5 тока,про- 45 текая через тензорезисторы 1 и 4, создают на них падение напряжения,Ток, вытекающий из источника 5 положительного тока, проходит только через тензорезистор 4 в направлении к общему проводу, а ток источника 2 отрицательного тока проходит только в направлении от общего провода через тензореэистор 1 к перному выходному проводу 3, При такой схеме включения тензореэисторов 1 и 4 каждый источник

2,5 тока создает в соответстнующем ему тензорезисторе рабочий ток I! — Iä = I и падение напряжения

U = !1 = U,a при равенстве сопротивлений тенэореэисторов l и 4 R<

= Rq = R и их приращений АБ, = ERE = ЬВ,получаем !Jgg,g, = I(R +

+ ав,) + Т(я + dR4) = I 2дв, +

+ I 2R.

В связи с тем, что тензорезисторы

1 и 4 установлены на элементах конструкции в одной измерительной тачке рядом, параллельно друг другу н одной плоскости, то динамическое деформирование конструкции вызывает синфазное.изменение их сопротивлений„ Это, в свою очередь, ведет к появлению на них противофазных импульсных напряжений, которые через разделительные конденсаторы 7 и Я подаются на входы дифференциального усилителя.

Формула изобретения

Устройство для измерения динамических деформаций, содержащее два тенэореэистора и два источника тока, параллельно соединенных с соответствующими тенэорезисторами, одни выводы источников тока и тенэорезисторон объединены общей шиной, а другие соединены н первый и второй выходные провода соответственно, о тл и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности эа счет увеличения чувствительности тенэореэисторов, испытывающих одновременно один вид деформирования, первый источник тока соединен с первым тензорезистором "плюсом" — к общему проводу, "минусом" — к первому выходному проводу, а второй источник тока соединен с вторым тензореэистором "минусом" — к общему проноду, "плюсом" — к второму выходному проноду.