Фотоэлектрический способ измерения двупреломления в оптически прозрачных материалах

 

Изобретение относится к оптике и предназначено для измерения поляризационных характеристик веществ. Целью изобретения является повышение точности измерений. Кбмпенсационный способ измерения дв преломления осно ван на преобразовании исходно линейно поляризованного излучения, падающего на объект 5, в эллиптически поляризованное, что достигается при помощи компенсатора 4, При достижении компенсатором состояния поляризации , обеспечивающего исчезновение модуляции, создаваемой вследствие вращения .анализаторов,разность фаз , вносимая объектом 5, и его азимут быстрой оси определяются по формулам cf arccos(sin (n-sin 1Г/4 0,5 arctg(cos ) где разность фаз, вносимая компенсатором , азимут его быстрой оси. 1 ил. « (Л

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (51) 4 G 01 N 21/23

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР (21) 4251359/31-25 (22) 09. 04 ° 87 (46) 30.03.89. Бюл. Р 12 (72) Институт кристаллографии им. A Â. Иубникова (72) В.С. Чудаков (53) 535.8(088.8) (56) Борн М. и Вольф Э. Основы оптики. М.: Наука, 1973.

Чудаков В.С. и др. Модуляционный метод наблюдения двупреломления.

Кристаллография, т. 16 вып.5, стр. 939-943. (54) ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДВУПРЕЛОМЛЕНИЯ В ОПТИЧЕСКИ ПРОЗРАЧНЫХ МАТЕРИАЛАХ (57) Изобретение относится к оптике и предназначено для измерения поляризационных характеристик веществ.

ÄÄSUÄÄ 1469390 А1

Целью изобретения является повьппение точности измерений. Компенсационный способ измерения двупреломления основан на преобразовании исходно линейно поляризованного излучения, падающего на объект 5, в эллиптически поляризованное, что достигается при помощи компенсатора 4. При достижении компенсатором состояния поляризации, обеспечивающего исчезновение модуляции, создаваемой вследствие вращения .анализаторов, разность фаз d,, вносимая объектом 5; и его азимут быстрой оси d, определяются по формулам = arccos(sin д„sin )2d„f), Ы = 7/ /4 + e„— 0,5 arctg(cos d „-tg 2Ы„), где d разность фаз, вносимая ком- ® пенсатором, o(„ — азимут его быстрой оси. 1 ил.

С:

1469390

Изобретение относится к оптике, а именно к измерению поляризационных характеристик веществ.

Цель изобретения — повышение точности измерения.

На фиг. 1 изображена схема устройства для осуществления способа.

Схема содержит источник 1 излучения, светофильтр 2, поляризатор 3, компенсатор 4, исследуемый объект 5, вращающийся анализатор 6, фотоприемник 7, измерительную систему 8 °

Измерения производятся следующим образом. 15

Излучение источника 1 монохроматизируется светофильтром 2 и после прохождения поляризатора 3 становится линейно поляризованным. Компенсатор 4, например типа Солейля, пре- 20 образует линейно поляризованный свет в эллиптически поляризованный.

После прохождения исследуемого объекта 5 в случае его оптической анизотропии изменяется эксцентриситет 25 и азимут осей эллипса поляризацйи. Анализатор 6 вращается с постоянной скоростью, вследствие чего интенсив-. ность излучения содержит постоянную и переменную составляющую, изменяющую-ЗО ся с частотой, равной удвоенной частоте вращения анализатора.

Селективная измерительная система 8 регистрирует только переменную составляющую сигнала с фотоприемника 7. Компенсатор 4 перестраивают таким, образом, чтобы разность хода между компонентаки излучения стала такой, что амплитуда переменной составляющей, регистрируемой иэмери- 4О тельной системой 8, стала равной нулю.

Разность фаз о и азимут быстрой оси исследуемого объекта d, определяют по формулам

E = arccos (sin /f9 sin 2а „() 1

+ o(„- — arctg(cos d tg 2 )

4 " 2 П и у где д,, d„ — разность фаз и азимут быстрой оси компенсатора.

Предлагаемый способ позволяет ис» пользовать поляризационные элементы относительно невысокого качества и обеспечивает повышенную точность измерений, так как исключает ошибку, связанную с нестабильностью интенсивности источника 1 излучения.

Формула и з о б р е т е н и я

Фотоэлектрический способ измерения двупреломления в оптически прозрачных материалах путем направления на него монохроматизированного линейно поляризованного излучения и регистрации прошедшего через него модулированного с помощью вращающегося анализатора излучения, о т л и ч аю шийся тем, что, с целью повышения точности измерений, с помощью компенсатора преобразуют падающее на материал линейно поляризованное излучение в эллиптически поляризованное до устранения модуляции в прошедшем излучении, фиксируют разность фаз (d „ вносимую компенсатором, и азимут быстрой оси компенсатора Ы„, после чего определяют разность фаз сР и азимут быстрой оси d. исследуемого материала по формулам

d, = агссоз(з1п с „ я1п 12m/„() л с(= + о(„- — arctg(cos d„ tg 2Ы„) .

Составитель А. Шепелев

Техред М.Ходанич Корректор Л.Пилипенко

Редактор И. Сегляник

Заказ 1351/48 Тираж 788 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-33, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", r Ужгород, ул. Гагарина, 101