Устройство для деформирования образцов при проведении микроанализа их структуры

 

Изобретение относится к испытательной технике, а именно к исследованию структуры материала образцов в процессе их нагружения. Целью изобретения является повышение точности испытаний. Устройство состоит из основания 1, пассивного захвата 2, активного захвата Т2, тарированной пружины 9, установленной на центрирующих конусных опорах 10 . и 11, одна из которых связана с активным захватом 12, и средства сжатия пружины. Образец деформируется . усилием сжатия или изгиба, пропорциональным измеряемому перемещению сжа тия пружины. 2 ил.

СОЮЭ СОВЕТСКИХ

PECrIYSRHH (l9) И1) А1 (51)4 С 01 И 3 08

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К AST0PCHOMY СВЩ ЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

flPH ГНКТ CCCP (21) 4258421/25-28 (22) 08. 06. 87 (46) 07.03.89. Бюл. Ó 9 . (71) Калининский политехнический институт (72) В.И. Суворов и Н.Л. Соловьев (53) 620.173.24 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

У 322686, кл. G 01 N 3/04,. 1972 . (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ДЕФОРМИРОВАНИЯ

ОБРАЗЦОВ ПРИ ПРОВЕДЕНИИ МИКРОАНАЛИЗА ИХ СТРУКТУРЫ (57) Изобретение относится к испытательной технике, а именно к исследованию структуры материала образцов в процессе их нагружения., Целью изобретения является повышение точности испытаний. Устройство состоит из основания 1, пассивного захвата 2, активного захвата 12 тарированной пружины 9, установленной на центрирующих конусных опорах 10 .и 11, одна из которых связана с активным захватом 12, и средства сжатия пружины. Образец деформируется усилием сжатия или изгиба, пропорциональным измеряемому перемещению ска тия пружины. 2 ил.

1464064

Изобретение относится к испытательной технике, а именно к исследованию структуры материала образцов в процессе их деформирования.

Цель изобретения — повьппение точности испытаний за счет приложения к образцу контролируемых усилий сжатия или изгиба.

На,фиг.1 приведено предлагаемое 1п устройство, общий вид; на фиг.2— фрагмент устройства с закрепленным

1 образцом для испытания при нагружении сжатием. !

Устройство состоит из размещае- 15

1 .мого на предметном столе микроскопа основания 1, на котором жестко закреплены пассивный захват 2 и траверса 3. Пассивный захват выполнен в виде пластины с отверстиями, в кото- 2п рых установлены опоры 4 для образца

5 и ножка измерительного инпикатора

6. Неподвижная траверса 3 соединена с подвижной траверсой 7 колоннами 8, Между траверсами размещена тариро- 25 ванная цилиндрическая пружина 9, центрируемая на конусных опорах 10 и 11, одна из которых закреплена на подвижной траверсе 7, а вторая связана с активным захватом 12 образца

5. Захват 12 и хвостовик конической опоры 11 размещены соосно в направляющей втулке 13, закрепленной в неподвижной траверсе 3. Устройство. снабжено приводом 14 перемещения подвижной траверсы 7 и измерителем 15

35 сжатия пружины.

Устройство работает следующим образом. о Образец 5 устанавливают без зазора между опорами 4 и активным захватсу 12, Подводят ножку индикатора 6 в соприкосновение с образцом и устанавливают индикатор и измеритель 15 на нуль. Перемещая от привода 14 траверсу 7, сжимают пружину 9 на величину, необходимую для создания на образце заданного усилия. При этом прогИб образца фиксируют по показанию индикатора 6. При заданной нагрузке проводят анализ структуры материала образца с помощью микроскопа, на предметном столе которого установлено устройство.

Опоры 4 и захват 12 (фиг.1) могут быть заменены на захваты 16 и 17 для закрепления образца и создания в нем деформации сжатия.

Формула изобретения

Устройство для деформирования образцов при проведении микроанализа их структуры, содержащее предназначенное для размещения на предметном столе микроскопа основание, установленные на нем пассивный и активный захваты и нагружатель, о т л ич ающе ес я тем, что, с целью повышения точности за счет нагружения образца контролируемым усилием сжатия или изгиба, нагружатель выполнен в виде двух соединенных между собой колоннами траверс, одна из которых жестко закреплена на основании, а другая имеет привод ее перемеще- ния вдоль колонн, двух соосных конусных упоров, один из которых установлен на подвижной траверсе, и размещенной между конусными упорами цилиндрической тарированной пружины, устройство снабжено установленной на неподвижной траверсе направляющей втулкой, ось которой совпадает с осью конусных упоров, а активный захват размещен в полости втулки и соединен с вторым конусным упором.

1 i t > б () t i 4

/7

Составитель С. Европин

Редактор И . Горная Техред М.Дидык Корректор А. Обручар

Заказ 818/47

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", r.Óæãîðîä, ул. Гагарина,101

Устройство для деформирования образцов при проведении микроанализа их структуры Устройство для деформирования образцов при проведении микроанализа их структуры Устройство для деформирования образцов при проведении микроанализа их структуры 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к испытательной технике и позволяет испытывать на прочность соединение элементов образца

Изобретение относится к производству изделий сборного бетона и железобетона и позволяет повысить удобство в эксплуатации контрольного оборудования

Изобретение относится к испытательной технике, а именно к стендам для испытания образцов на прочность

Изобретение относится к технике испытаний материалов

Изобретение относится к испытательной технике, а именно к испытанию тонколистовых материалов при двухосном растяжении

Изобретение относится к испытательной технике, а именно к установкам для испытания образцов материалов при двухосном нагружении

Изобретение относится к испытательной технике, в частности к установкам для испытания материалов на длительную прочность

Изобретение относится к механическим испытаниям металлов в контакте с припоем, в частности к иcпытаниям на осевое растяжение

Изобретение относится к определению физико-механических свойств металлов и может применяться в машиностроении, авиастроении и других отраслях промышленности для изучения сопротивления материалов пластическому деформированию Известна схема устройства [1] для испытаний длинномерных образцов на сжатие

Изобретение относится к испытаниям материалов, а именно к образцам для испытания на пластическое одноосное сжатие и растяжение

Изобретение относится к испытательной технике

Изобретение относится к области определения физико - механических характеристик

Изобретение относится к области испытаний, в частности к контролю штампуемости проката из металлов

Изобретение относится к области испытаний

Изобретение относится к обработке металлов давлением и может быть использовано в метизном и машиностроительном производстве при изготовлении холоднотянутой прутковой стали и при ее переработке на стержневые и фасонные детали резанием или холодной штамповкой
Наверх