Эллипсометр, содержащий последовательно установленные и оптически связанные поляризатор, компенсатор и анализатор, а также устройства поворота компенсатора и анализатора, отличающийся тем, что, с целью повышения производительности измерений, он дополнительно содержит определитель измерительных зон, выполненный в виде поступательно установленных и имеющих общую ось вращения панели, диска компенсатора и диска анализатора, причем панель выполнена с двумя окнами в первом и третьем 90°-ных секторах, имеющими форму четверти кольцевой прорези, с двумя окнами во втором и четвертом 90°-ных секторах, имеющими форму четверти круга, с окном лимба анализатора, имеющим форму четверти кольцевой прорези и расположенным симметрично границе первого и четвертого секторов, и с окном лимба компенсатора, выполненным аналогично окну лимба анализатора и расположенным симметрично границе второго и третьего секторов, диск компенсатора выполнен с двумя диаметрально противоположно расположенными окнами, имеющими форму четверти круга, диск анализатора выполнен с двумя расположенными по разные стороны от радиуса указателями, форма одного из которых совпадает с формой окон в панели, расположенных в первом и третьем секторах, а форма другого совпадает с формой окон в панели, расположенных во втором и четвертом секторах, при этом диски компенсатора и анализатора снабжены установленными с возможностью поворота градусными шкалами и кинематически связаны с возможностью синхронного поворота соответственно с устройствами поворота компенсатора и анализатора.
Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может использовано для измерения параметров линейной поляризации светового пучка

Изобретение относится к физической оптике и может быть использовано в технике измерений поляризационных характеристик оптического излучения

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано в поляризационных приборах для исследования напряжений методами фотоупругости

Изобретение относится к об.части оптического ирибо)остр()ения, конк 1етиее к ойт и ко-а,те кт ройным ноляризаинони ьи у стройства.м, и .может Спл 1 исг о:1ьз()15аи() в ана- .титичеекой .химии, 1И1Н1ево1 1 микробиоло1 ичеекои нромыиь 1еиности, а также в медицине

Изобретение относится к области оптики, в частности к устройствам для диагностики плазмы, и мояет быть использовано дпя измерения переменного по времени угла поворота плоскости поляризации в плазме

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к оптико-электронным поляризационным устройствам, предназначенным для анализа состава и строения вещества, и может быть использовано в оптической технологии, аналитической химии, микроэлектронике, пищевой и микробиологической промышленности

Изобретение относится к области аналитического приборостроения и может быть использовано для контроля качества выпускаемой продукции, например, в оптико-механической, микроэлектронной, пищевой, химической, микробиологической промышленности, а также в медицине

Изобретение относится к поляризационной оптике и может использоваться в эллипсометрии

Изобретение относится к технике оптических измерений и может быть использовано в установках по диагностике физических объектов оптическими поляризационными методами

Изобретение относится к горной автоматике и к полярископам и поляриметрам и может быть использовано для определения коэффициента линейной поляризации света при отражении от аморфных полупроводниковых покрытий для создания на этой основе светильников, которые могут быть использованы для наблюдения объектов в условиях пыли и тумана и для исследования и наблюдения деформируемости горных пород в массивах

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для исследования оптической активности жидких и твердых сред

Изобретение относится к созданию методов и аппаратурных средств агромониторинга, а именно к построению систем контроля качества агропромышленной продукции, в частности алкоголя

Изобретение относится к области исследования химических и физических свойств поверхности и может быть использовано для измерения физических постоянных и параметров материалов

Изобретение относится к фотоэлектрическим поляриметрам и может быть использовано для измерения концентраций оптически активных веществ в медицине, химии, биологии, пищевой промышленности

Изобретение относится к методам измерения параметров электромагнитного излучения

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к оптикоэлектронному приборостроению и предназначено для измерения и исследования тонкопленочных структур и оптических констант поверхностей различных материалов путем анализа поляризации отраженного образцом светового пучка

Изобретение относится к методам измерения параметров электромагнитного излучения