Способ оценки адгезионной прочности магнитной пленки к подложке
Изобретение относится к способам испытания материалов и касается оценки адгезии магнитного слоя к подложке. Целью изобретения является повышение точности оценки адгезионной прочности магнитной пленки к подложке Измеряют намагниченность магнитного слоя до механического воздействия . Затем создают напряжения в подложке путем механического воздействия . После этого измеряют намагниченность слоя и по разности измеренных величин судят об адгезии пленки к подложке.
СОЮЗ СОВЕТСКИХ
СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ
РЕСПУБЛИК, (19) (И) 48 А1 (51) 4 С 01 N 19 04
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР
ПО.ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ : Ъ.
:\
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ
К А ВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (2i) 4248338/25-28 (22) 12.01.87 (46) 15 ° 11.88. Бюл. Ф 42 (72) В,Ф.Артемьев (53 ) 620. 178. 162 (088.8 ) .(56) Зимон А.Д. Адгезия пленок и покрытий. M.: Химия, 1977, с.82. (54) СПОСОБ ОЦЕНКИ ЯГЕЗИОННОЙ ПРОЧНОСТИ МАГНИТНОЙ ПЛЕНКИ К ПОДЛОЖКЕ (57) Изобретение относится к способам испытания материалов и касается оценки адгезии магнитного слоя к подложке. Целью изобретения является повьппение точности оценки адгезионной прочности магнитной пленки к подложке. Измеряют намагниченность магнитного слоя до механического воздействия. Затем создают напряжения в подложке путем механического воздействия. После этого измеряют намагниченность слоя и по разности измеренных величин судят об адгеэии пленки к подложке.
1437748
Формула изобретения
Составитель В.Данилов .
Техред A.Êðàâ÷óê Корректор Л.Патай
Редактор A.Îãар
Тираж 847 Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Заказ 5886/43
Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4
Изобретение относится к способам испытания материалов, в частности оценки адгезионной прочности магнитной пленки к подложке.
Цель изобретения — повышение точности оценки за счет определения изменения намагниченности магнитной пленки.
Способ оценки адгезионной прочности магнитной пленки к подложке осуществляют следующим образом.
Образец магнитной пленки на подложке подвергают механическому воздействию и измеряют параметр этого воздействия, по которому оценивают адгезионную прочность. В качестве параметра воздействия регистрируют намагниченность магнитной пленки, измеряют ее до и после механического воздействия и по разности измеренных значений оценивают адгезионную прочность °
Пример. Образец магнитной пленки на полиамидной подложке до механического воздействия помещают в камеру вибрационного магнитометра типа Э М2-9, в которой создают постоянное магнитное поле величиной
-100 Э, прикладывают к образцу виброколебание с частотой 180 Гц и измеряют намагниченность магнитного слоя I Затем испытуемый образец вынимают из камеры магнитометра и создают в подложке механические напряжения (любым известным способом), упругие для материалов подложки и слоя. После этого испытуемый образец
1 снова помещают в камеру магнитометра
ЭМ2-9, в которой создают постоянное магнитное поле величиной 100 Э, при5 кладывают к образцу виброколебание с частотой «180 Гц и измеряют намагниченность магнитного слоя I и по а раэности величин I -I судят о величине адгеэии магнитной пленки к подложке.
Чем лучше адгезия слоя к подложке, тем больше изменение линейных размеров образца возможно, чему соответствует большая разница намагниченности пленки до и после механического воздействия. При механическом воздействии, характеризующемся числом перегибов образца до 20 раэ, разности
I I р 1 10 Ам соответствует требуемая адгеэионная прочность магнитного слоя на подложке. д5 Способ оценки адгезионной прочности магнитной пленки к подложке, заключающийся в том, что подвергают магнитную пленку и подложку механическому воздействию и регистрируют параметр этого воздействия, по которому оценивают адгезионную прочность, о т л.и ч а ю шийся тем, что, с целью повышения точности, в качестве параметра воздействия регистрируют намагниченность магнитной пленки, которую измеряют до и после механического воздействия, а адгезионную прочность оценивают по разности измеренных значений.
