Способ сортировки образцов руды по содержанию в них определяемого элемента
Изобретение относится к способу учета фоновой радиации при определении интенсивности вторичного излучения образцов, подвергающихся сортировке . Цель - поньшение точности и, надежности измерения содержания ценных минералов в поверхностном слое образца. Интенсивность фона и вторичного излучения (характеристического рентгеновского излучения элемента, входящего в определяемый минерал, или обратнорассёянного образцом первичного излучения) определяют из суммарных интенсивностей пика вторичного излучения и фона, измеренных в одной и той же области спектра вторичного излучения двумя каналами разной ширины. Отношение этих величин служит параметром, по которому определяют содержание ценного минерала в поверхностном слое образца. 2 3.п. ф-лы. 2 ил.
СО1ОЭ СОВЕТСНИХ
СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ
РЕСПУБЛИН
Ц1) 4 G 01 N 23/223
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ
К llATEHTV
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР
ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕ ГЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ.(21) 3716287/24-25 (22) 22.03.84 (31) 830968 ,(32) 23.03.83 (33) FI
Т46) 15.08.88. Бюл. У 30 (71) Оутокумпу Ой (FI) (72) Хейкки Йоханнес Сипиля и Кай
Юхани Лааманен (FI) (53) 539. 1.06(088.8) (56) Патент Великобритании 9 2083618А, кл. G 01 N 23/223, 1981.
Балдин С.А, а др. Результаты сепарации оловянных руд рентгенорадиометрическим способом. — Цветные металлы, 1981, N 12, с. 99-101. (54) СПОСОБ СОРТИРОВКИ ОБРАЗЦОВ РУДЫ
ПО СОДЕРЖАНИЮ В НИХ ОПРЕДЕЛЯЕМОГО
3JEMEHTA (57) Изобретение относится к способу
„SU „„14178О2 А 3 учета фоновой радиации при определении интенсивности вторичного излучения образцов, подвергающихся сортировке. Цель — повышение точности и надежности измерения содержания ценных минералов в поверхностном слое образца. Интенсивность фона и вторичного излучения (характеристического рентгеновского излучения элемента, входящего в определяемый минерал, или обратнорассеянного образцом первичного излучения) определяют из суммарных интенсивностей пика вторичного излучения и фона, измеренных в одной и той же области спектра вторичного излучения двумя каналами разной ширины. Отношение этих величин служит параметром, по которому определяют содержание ценного минерала в поверхностном слое образца.
2 з.п. ф — лы. 2 ил.
К3 гЕа а м
К-1 (5) Ir-I(i и 1 (6) 1 1417
Изобретение относится к способам анализа состава вещества с помощью рентгеновского или гамма-излучения, особенно к способам сортировки рус. ды рентгенорадиометрическим или гамма-гамма-методом.
Цель изобретения — повышение точ" ности и надежности измерения содержания определяемого элемента в по19 верхностном слое образца.
На фиг. 1 изображена схема устройства, на котором может быть осуществлено изобретение; на фиг, 2 схема выбора положений и ширин каналов регистрирующего устройства.
Источник 1 гамма-излучения облучает образец 2 руды, свободно падающий мимо детектора 3, регистрирующего вторичные излучения от образца.
Детектором 3, помещенным в защитный экран 4, может быть, в частности, сцинтилляционный счетчик в спектрометрическом режиме, соединенный с двухканальной регистрирующей схемой (не показана). Спектр вторичного излучения при рентгенорадиометрической сортировке содержит пик характеристического рентгеновского излучения определяемого элемента, входящего в. ценньпi минерал, и непрерывно распределенное в этой же области спектра фоновое излучение, образованное в основном комптоновским рассеянием первичного излучения. При сортировке образцов гамма-гамма-методом спектр вторичного излучения содержит пики обратно рассеянных образцов в первичных излучений и фоновое излучение, На изображенной на фиг. 2 части спектра вторичного излучения показан выбор. положений и ширин каналов двухканальной регистрирующей схемы.
Центры каналов совпадают между собою и с центром пика вторичного изл -<5 чения, лежащего на "подкладке" фона.
Согласно изобретению первый (I) канал региструющей схемы выделяет суммарную интенсивность (I ) пика вторичного излучения (пик выделяют це- 0 ликом), например, характеристического рентгеновского излучения определяемого элемента и фон под ним. Второй канал (II) значительно большей ширины выделяют тот же пик вторичного излучения целиком и фоновое излучение большей интенсивности (I;).
Обозначим интенсивность характеристического рентгеновского излучения
802 2 как F, фонового излучения, регистрируемого первым каналом, как Т и регистрируемого вторым каналом как
КТ, где К ) 1 °
Тогда I, = Е + Т (1)
I-„= F+ КТ . (2)
Вычитая выражение (2) из выражения (1), получаем I--I<= Т(К-1)
Интенсивность фойовой радиации
Т описывается выражением
Т Х
I -Ег (4)
К-1
Из выражений (1) и (2) получаем следующее выражение для интенсивНости рентгеновской флуоресценции F
Отношение интенсивностей F и Т служит параметром, по которому определяют содержание определяемого элемента на поверхности анализируемого образца 2., По значению параметра
F/T анализируемый образец сортируется как руда или как пустая порода в зависимости от того, превысил ли он заданный критерий сортировки или нет..
Формула изобретения
1. Способ сортировки образцов руды по содержанию в них определяемого элемента, заключающийся в облучении образцов руды излучением с энергией, достаточной для возбуждения характеристического рентгеновского излучения определяемого элемента по крайней мере от одного источника излучения, регистрации спектрометрическим детектором с двухканальной схемой регистрации суммарной интенсивности I пика вторичного излучения от образца и фона, о т— л и ч а ю шийся тем, что, с целью повышения точности и надежности определения содержания определяе-. мого элемента в поверхностном слое образца, дополнительно регистрируют суммарную интенсивность Ец пика вторичного излучения и фона более широким, чем первый, каналом регистрирующей схемы, центр которого совпадает с центром первого канала,.используют измеренные интенсивности
1417802
I и 1 - для вычисления интенсивнос-! тей вторичного излучения F и фона
Т, а о содержании определяемого элемента судят по значению отношения
F/Ò.
2. Способ по п. 1; о т л и ч аю шийся гем, что в качестве детектора вторичного излучения от образца руды используют сцинтилляционный детектор.
3, Способ по п. 1,ипи 2, о т— л и ч а ю шийся тем, что выбирают энергию гамма-излучения источника в диапазоне от 300 до 660 кэв.
