Способ определения параметров колебаний объекта

 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при исследовании колебаний объектов методом голографической интерферометрии. Целью изобретения является увеличение информативности за счет возможности определения частоты колебаний и расширения частотного диапазона определения амплитуд колебаний. Для этого при записи голограммы на фоторефрактивный кристалл используют модулированную по фазе опорную волну. Одновременно с записью осушествляют восстановление голограммы и регистрацию интенсивности восстановленной волны в зависимости от времени. Изменяя частоту модуляции, добиваются появления переменной составляющей в этой зависимости и по полученным значениям частоты модуляции в этот момент и частоты переменной составляющей рассчитывают частоту колебаний объекта. После этого изменяют глубину модуляции до получения максимального значения переменной составляющей и по полученному значению глубины модуляции определяют амплитуду колебаний. § (Л

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН (504 G01Н900

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ

+I!C0 i<

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ . ц

Вф

К ABTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ 4НОтЕМл

3> (21) 4184479/24-28 (22) 22.01.87 (46) 07.07.88. Бюл. № 25 (71) Куйбышевский государственный университет и Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе (72) В. П. Гаращук, Т. П. Гаращук, В. В. Ивахник и А. А. Камшилин (53) 534.63 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР № 1336354, кл. G 01 Н 9/00, 05.03.87. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ КОЛЕБАНИЙ ОБЪЕКТА (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при исследовании колебаний объектов методом голографической интерферометрии.

Целью изобретения является увеличение информативности за счет возможности опре„„SU„„1408241 A 1 деления частоты колебаний и расширения частотного диапазона определения амплитуд колебаний. Для этого при записи голограммы на фоторефрактивный кристалл используют модулированную по фазе опорную волну. Одновременно с записью осуществляют восстановление голограммы и регистрацию интенсивности восстановленной волны в зависимости от времени. Изменяя частоту модуляции, добиваются появления переменной составляющей в этой зависимости и по полученным значениям частоты модуляции в этот момент и частоты переменнои составляющей рассчитывают частоту колебаний объекта. После этого изменяют глубину модуляции до получения максимального значения переменной составляющей и по полученJ ному значению глубины модуляции определяют амплитуду колебаний.

1408241

Z = — А.

4л

Формула изобретения

Составитель В. Бахтин

Редактор О. Юрковецкая Техред И. Верес Корректор М. Максимишинец

Заказ 3298/42 Тираж 524 Поди исное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий ! l 3035, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Изобретение относится к измерительной ехнике и может быть ис1тользовано при исследовании колебаний объектов методом го.лографической интерферометрии.

Целью изобретения является увеличение нформативности за счет. обеспечения возожности определения частоты колебаний и асширения частотного диапазона определеия амплитуд колебаний.

Способ осуществляется следующим обазом.

Освещают исследуемый объект когерентым излучением. Отраженное от объекта изучение, представляющее собой предметную олну, направляют на фоторефрактивный ристалл типа Bi qTiOm. Экспонируя крисалл, записывают на нем голограмму объека с использованием модулированной по фазе о периодическому закону опорной волны. дновременно с записью голограммы осуествляют освещение кристалла волной, наравленной навстречу опорной волне, и востанавливают этой волной голограмму.

Регистрируют интенсивность восстановенной волны и, изменяя частоту модуляции опорной волны, добиваются появления переменной составляющей в зависимости интенсивности восстановленной волны от времени. Фиксируют значение озн частоты модуяции, при котором появляется переменная составляющая и измеряют частоту Й переменной составляющей. После этого изменяют глубину модуляции до получения макси-! мальной величины переменной составляющей и фиксируют это значение А глубины мо; дуляции. По полученным данным рассчи тывают значения частоты колебаний по ,формуле со = со + 0/2, при этом знак

«+» берется при увеличении частоты модуляции, а знак « — » — при ее уменьшении, и значения амплитуды колебаний по формуле

Способ определения параметров колебаний об.ьекта, заключающийся в том, что экспонируют фоторефрактивный кристалл опорной и предметной волнами когерентного излучения, одновременно осуществляют освещение кристалла волной, направленной навстречу опорной волне, восстанавливают кристалла голограмму и регистрирук>т восстановленную волну в виде зависимости ее интенсивности от времени, по которой определяют параметры колебаний объекта, отличающийся тем, что, с целью повышения информативности, при экспонировании используют опорную волну, модулированную по фазе в соответствии с периодическим законом, частоту модуляции изменяют до появления переменной составляющей в зависимости интенсивности восстановленной волны от времени, фиксируют значение частот модуляции и переменной составляющей, при зафиксированной частоте модуЛяции изменяют глубину модуляции до получения максимальной величины переменной составляющей и по зафиксированным значениям частот модуляции и переменной составляющей определяют частоту колебаний, а по глубине модуляции, соответствующей максимальному значению переменной составляющей, — амплитуду колебаний.