Способ измерения толщины стенок стеклоизделий

Класс 42b, 26вз

42" 231г

Хе 147327

СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

17одписная гругггга Лг0 1б4

Л. Е. Гуревич

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ СТЕНОК СТЕКЛОИЗДЕЛИЙ

Заявлено 28 июля 1961 г, за гмв 740570/25 в 1(огиитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Опубликовано в «Б1оллетене изобретений» No 10 за 1962 г.

Известны способы измерения толщины стенок стеклоизделий с применением микроскопа и освещением изделия лучами проходящего света.

Однако точность таких способов измерения недостаточна.

В описываемом способе для повышения точности измерений и получения в объективе микроскопа изображения продольного сечения с резко очерченными границами стеклоизделие омывают снаружи иммерсионной жидкостью, а внутри него создают вакуум или производят аполнение изделия газом.

На фиг. 1 изображена схема устройства для осуществления способа; на фиг. 2 — поле зрения микроскопа.

Способ измерения толщины стенок стеклоизделий состоит в том, что изделие 1, подлежащее измерению, устанавливают на подставке 2 в ванне 8, наполненной иммерсионной жидкостью, и освещают проходящим светом от источника 4. Свет проходит сквозь объектив б микроскопа, на предметном столике которого устанавливают ванну 8, затем сквозь стекло б в дне 7 ванны, проходит сквозь слой иммерсионной жидкости, стенки изделия 1, выходит из жидкости и попадает в окуляр 8 микроскопа. При этом внутреннюю часть изделия 1 наблюдают в виде резко очерченного черного поля 9, расстояние между границами 10 и 11 которого, соответствующими переходу стекло — жидкость и стекло — вакуум, замеряют при помощи шкалы 12 микроскопа. В случае необходимости определения разностенности изделия 1 его поворачивают при непрерывном наблюдении за положением границ 10 и 11.

Первая остается на месте, поскольку изделие 1 во время вращения не прерывно прижимают к подставке 2, а вторая по мере изменения толщины стенок в месте измерения то удаляется, то приближается к ней.

Описываемый способ позволяет определять толщину стенок стеклянных изделий как промышленного (радиолампы, например лампы бегущей волны, электролампы), так и бытового назначения 1 бутылки, посуда и т. д.) с высокой степенью точности, повысить производительность при проведении операций контроля и улучшить качество продукции.

Предмет изобретения,.оставитель В. А. Бродский

Техред А А Камышникова Корректор Е. Когак

Рсдакгср T. Ф. Загрсбельная

Подп. к печ. 18/4 1-62 r. Формат бум 70 С108 /„ Объем 0,18 изд, л . ак. 6658 Тираж 750 Цена 4 коп, ЦБТИ Ко октета по делам изобретений и огкрытий при Совете Министров СССР

Москва Центр, M. Черкасский пер., д. 2/6.

Типография ЦБТИ, Москва, Пстровка, 14.

Споссб измерения толщины стенок стеклоизделий с применением микроскопа и освещением изделия лучами проходящего света, отл и— ч а ю шийся тем, что, с целью повышения точности измерений и получения в объективе микроскопа изображения продольного сечения с резко очерченными границами, стеклоизделие снаружи омывают иммерсионной жидкостью, а внутри создают вакуум или производят заполнение газом.