Способ определения напряженности статического периодического магнитного поля

 

Изобретение может быть использовано для измерения н контроля остаточной индукции магнитных носителей (МН) записи в виде лент, проволок, дисков, барабанов. Способ определения напряженности статического периодического магнитного поля (МП) реа , . лизован в устройстве. На магнитную пленку 14 воздействуют ненасыщенным однородным МП, создаваемым электромагнитом 4, направленным по нормали к поверхности магнитной гшенки 14, фокусируют с помощью линзы 6 на поверхность контакта магнитной пленки 14 и МН 13 пучок плоскополяризованного света до апертуры, на порядок меньшей периода исследуемого МП, перемещают МН 13 с постоянной скоростью относительно источника исследуемого МП,-выделяют с помощью анализатора 9 из отраженного пучка света компоненту с поляризадией, не совпадающей с поляризацией падакядего пучка света, и преобразуют выделенную компоненту в электрический сигнал фотоприемннком 10, измеряют разность временных интервалов , соответствующих максимальной и минимальной величинам электрического сигнала и определяют напряженность исследуемого МП по расчетной формуле. Способ имеет высокую точность измерения и позволяет контролировать МН 13 записи непосредственно в процессе его изготовления, например, с помощью записывающей головки 1, 3 ил. с «Л СО О) ф

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИН

А1 (19l + (llI 3 7 1 (51)4 С О1 N 27 72

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н А BTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

1 (21) 4024694/24-21 (22) 19„02.86 (46) 23„10.89. Бюл. 1(- 39 (71) Институт радиотехники и электроники АН СССР (72) С.В.Герус, Ф.В.Лисовский, E,Ã.ÈGHñâåòîâà и Е.С.Чижик (53) 537.511.3:537.613(088.8) (56) Мазо Я,A. Магнитная лента,,М.:

Энергия, 1975, с. 122.

Губарев А.П., Кубраков Н.Ф., Червоненкис А.Я. Адекватность магнитооптического воспроизведения пространственно-периодических магнитных полей, /В сб, Средства памяти на Ц.М,Д., физические свойства, характеристики и техническое прнменеиие, 1.(., 1983, с. 33. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НАПРЯЖЕННОСТИ СТАТИЧЕСКОГО ПЕРИОДИЧЕСКОГО МАГНИТНОГО ПОЛЯ (57) Изобретение может быть использовано для измерения и контроля остаточной индукции магнитных носителей (МН) записи в виде лент, проволок, дискон, барабанов. Способ определения напряженности статического периодического магнитного поля (МП) реа2 лизован в устрокстве. На магнитную пленку 14 воздействуют ненасыщенным однородным PJI создаваемым электромагнитом 4, направленным по нормали к поверхности магнитной пленки )4, фокусируют с помощью линзы 5 на поверхность контакта магнитной пленки

14 и MH 13 пучок плоскополяризованного света до апертуры, на порядок меньшей периода исследуемого МП, перемещают МН 13 с постоянной скоростью относительно источника исследуемого

МП, -выделяют с помощью анализатора 9 из отраженного пучка света компоненту с поляризацией, не совпадающей с поляризацией падающего пучка света, H преобразуют выделенную компоненту в электрический сигнал фотоприемником

10, измеряют разность временных интервалов, соответствующих максимальной и минимальной величинам электрического сигнала и определяют напряженность исследуемого МП по расчетной формуле.

Способ имеет высокую точность измерения и позволяет контролировать MH 13 записи непосредственно в процессе его изготовления, например, с помощью за- писывающей головки 1. 3 ил.

1396761

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения и контроля остаточной индукции (В ) магнитных носителей записи в виде лент, проволок, дисков н барабанов.

Целью изобретения является повыше-, I ние .точности и производительности способа. 10

На фиг. 1 приведена схема устройства для реализации способа; на фиг.2распределение индукции в магнитном носителе и намагниченности в магнитной пленке; на фиг. 3 — зависимость величины электрического сигнала i на выходе фотоприемника от времени Й.

Устройство, реализующее способ, содержит записывающую головку 1, сое,диненную с генератором записи 2, лен- 20 топротяжный механизм 3, электромаг,нит 4, источник поляризованного све-! та 5, линзу 6, полупрозрачное зеркало

7, линзу 8, оптический анализатор 9, фотоприемник 10, связанный своим вы- 25 ходом с компаратором 11, прижимное устройство 12.

На магнитном носителе 13 (например магнитной ленте) с помощью головки 1 и генератора записи 2 записыва- 30 ют сигналограмму периодическим магнитным полем- в форме меандра с напряженностью, превышающей коэрцитивную силу магнитного носителя.

С помощью прижимноro устройства

12 приводят в контакт с рабочей поверхностью носителя 13 прозрачную магнитную пленку 14, нанесенную на прозрачную подложку 15 и имеющую перпендикулярную анизотропию и период

d собственной доменной структуры, блйзкий к длине волны записи, соответствующей периоду исследуемого магнитного поля. Воздействуют на магнитную пленку 14 однородным магнитным 15 полем Н, создаваемым электромагнитом

4 и направленным по нормали к поверхности магнитной пленки 14, Напряженность магнитного поля Н устанавливают на уровне, не превышающем поля насыщения Н11я магнитной пленки 14, которое, в свою очередь, не должно превышать коэрцитивную силу H,„материала магнитного носителя 13.

С помощью источника поляризованного света 5 и полупрозрачного зеркала 7 освещают магнитную пленку 14 со стороны, противоположной поверхности контакта с магнитным носителем 13, пучком плоскополяризованного света и фокусируют его на поверхности контакта магнитной пленки 14 и магнитного носителя !3 с помощью линзы 6 до апертуры, по крайней мере, на порядок меньше длины волны Л записи.

В результате на поверхности контакта формируется световое пятно диаметром. Л/10.

Отраженный от поверхности контакта световой поток проходит через полупрозрачное зеркало 7 и с помощью линзы 8 фокусируется на приемную площадку фотоприемника 10.

С помощью анализатора 9 выделяют из отраженного пучка света компоненту с поляризацией, отличающейся от поляризации падающего пучка, и преобразуют выделенную компоненту в электрический сигнал фотоприемником 10, С помощью лентопротяжного механизма

3 перемещают магнитный носитель 13 относительно магнитной пленки 14 с постоянной скоростью Ч и одновременно фотоприемником 10 регистрируют величину электрического сигнала.

В процессе записи на магнитном носителе 13 формируется периодическая сигналограмма в виде меандра с длиной волны и амплитудой В „ (см. фиг, 2а, б). Под действием полей рассеяния сигналограммы в магнитной пленке 14, находящейся в контакте d магнитным носителем 13, период с1 доменной структуры становится равным длине волны A записи (см. фиг. 2а,в).

Для совпадения периода d доменной структуры с длиной волны записи необходимо, чтобы период собственной доменной структуры магнитной пленки был соизмерим с длиной волны записи толщина магнитной пленки h была пл меньше длины волны записи, а намагничепность насыщения магнитной пленки

К была по крайней мере на порядок меньше индукции насыщения В„ магнитного носителя записи, которая составляет 100-1000 Гс. Эти условия легко выполняются, например, при использовании эпитаксиальных пленок ферритов-гранатов, намагниченность насыщения которых может быть сделана сколь угодно малой путем разбавления октаэдрической подрешетки с ионами Fe диамагнитными ионами Ga" или Al .

Зф 3 t.

>11елательно, чтобы снизу толщина магнитной пленки была ограничена значением 5-10 мкм, соответственно.дли5 13967 на волны записи должна удовлетворять условию 5- 1 О мкм. Собственный п ериод доменной структуры пленок эпитак. сиальных ферритав-гранатов толшиной

5 х 10 мкм лежит в пределах 1-100 мкм, что ограничивает максимальные значения длины волны записи величиной

"- 1000 мкм. В отсутствие внешнего магнитного поля (H=O) домены с 11 = 1р

= +М и М =- -М - имеют одинаковую ши5 2 с

1 1 рину, т е. d =d -- =— 2 d=- — 2 3 (сплаш1уые линии на фиг. 2в). При воздействии внешнего однородного магнитного поля

Н с напряженнбстью, не превышающей коэрцитивной силы Н „материала носителя записи, распределение индукции в носителе остается неизменным (см. фиг. 2б), а распределение намагничен 2р ности в магнитной пленке приобретает вид, показанный пунктиром на фиг. 2в, так как ширина доменов с Yi И Н, возрастает, а с II tk Н убывает. Разность ширины доменов dd=d -d при заданной 25 напряженности магнитного поля Н и данной длине волны записи 3 зависит только ат остаточной индукции В ноZ сителя з аписи.

При перемещении носителя записи Зр относительно магнитной пленки с постоянной скоростью V вынужденная доменная структура в магнитной пленке татке будет перемещаться синхронно с сигналограммой; В результате этага в области светового пятна будут последовательно находиться домены с М =

= +Мы и К; — -Мзр чта будет р водить .к периодическому изменению угла пав ворота плоскости поляризации света 4р от значения +21фЬа к значению -2g

4мнн а также отношение Ф,, /ф,„„„определяются углом поворота плоскости поляризации света в пленке =21фЬ а„, а также взаимной ориентацией плоскостей прапускания поляризатора и анализатора, Оптимальными являются следующие условия: угол между плоскостями прапускания поляризатора и анализатора

d<(d-)„,. где (d-)„„„=d (Н,„,) — минимальная ширина узких доменов устойчивой вынукденнай доменной структуры, достигаемая при максимально допустимом значении напряженности однородного магнитного поля Н

ИТКС

Результаты экспериментов показывают, чта неустойчивость (каллапс) узких даменов в пленках наблюдается при d 0,1d=0,1Л, поэтому условие (1) может быть переписано в виде (2) d <0,1Л.

Если условие (1) не выполняется, то при значениях Н, близких к Н„„„световое пятно в определенные моменты времечи будет перекрывать целиком узкий домен и часть соседних широких доменов, в результате чего временная зависимость фотатака i < не будет адекватна воспроизводить распределение намагниченности в магнитной пленке.

61 6 должен быть близким к 45а, а значение должна.лежать в пределах от 20 до

ЗО . При этом значения Ф и Ф макс будут составлять соответственно 8293 и 18-7/ от исходного светового потока, а отношение Ф„,/Ф„„„=4,6-13,8.

При использовании в качестве источника пласкаполяризованнога света стандартных лазеров с выходной мощностью

- 10 мВт это обеспечивает уверенную регистрацию значений Ф„„„ с помощью стандартных фотадиадав и фотоумножителей. Значения ъ=2.i h „„ =20 30 легка реализуются (на длине волны

0„63?8 А) в пленках висмутсадержащих ферритов-гранатов толщиной 11„„" 5 мкм.

Регистрация периодических измерений светового патока осуществляется стандартным фотоприемником 1О (например, фотоэлектронным умнажителем или фотадиодам), Злектрический сигнал на выходе фотоприемника 1у пропорциональный входному световому потоку, имеет вид, показанный на фиг. 3 (сплашные линии при II=0; пунктир при Н О). Конечная длительность фронта 0ф и среза с с импульсов фототока i обусловлена конечным размером а сфокусированного световога пучка, причем Сф= ь =оЧ

Иаксимально допустимый диаметр светового пятна определяется из условия

1396761

Разно сть длительностей периодов д7, соответствующих 9 акс H !(!мк составляет (3) 5 (. ((. =(й+-d )V =ddV °

Измеренное эначепие 8 (. при фиксированной напряженности магнитного поля H определяется только средним (rto толщине магнитной пленки) значени-! емем максимальной напряженности Z— компоненты периодического магнитного поля Н(2, так как

dd= = arcsin —— (("dz

Л . Н т.е. D(, = — arcsin =—

Т(V Ad

В формуле (Й) предполагается, что свободным является полупространство

Z ) О.

Если магнитная пленка имеет толщину Ь, и отдалена от поверхности материального объекта зазором Z, то

Н(=НИ (Z) е Л 1(1-е ), откуда следует, что для определения максимальной напряженности периодического магнитного поля на расстоянии Е от создающего его материального объекта можно пользоваться формулой

Н

Н,1 (Z) — — = — - — —— !! 1(! 1 ((ЧД7 л (1-e !»!) s1п л

Изменяя зазор между магнитной пленкой и поверхностью материального объекта (Z=O) можно определять зависимость Н d2(Z), т. е. производит топографирование п ериодического магнитного поля.

Наряду с высокой точностью измере- ний, преимуществом данного способа по сравнению с прототипом является измерение параметров магнитного ноВ свободном пространстве периодически изменя(ощееся вдоль одной коорди- 20 наты (например, вдоль оси у) магнитное поле !1,(, создаваемое любым материальным объектом с плоской поверхностью (параллельной плоскости Z=Î), 25 удовлетворяет уравнением магнитостатики, откуда следует, что

Й,(=Нее" Л (Р sin(— у)-е cos(— у)) . !

:(2 сителя записи в реальном масштабе времени, что позволяет контролировать магнитный носитель записи непосредственно в процессе его изготовления.

Формула изобретения

Способ определения напряженности статического периодического магнитного поля, включающий помещение в исследуемое магнитное поле прозрачной магнитной пленки, имеющей перпендикулярную анизотропию и периодическую доменную структуру, освещение магнитной пленки пучком плоскополяризованного света со стороны, противолежащей источнику исследуемого периодического магнитного поля, и воздействие на магнитную пленку однородным магнитным полем, направленным по нормали к поверхности пленки, о т л ич а þ ù H é с я тем, что, с целью повышения точности и произзодитель-. ности способа, на магнитную пленку воздействуют ненасыщенным однородным магнитным полем, направленным по нормали к поверхности пленки, пучок плоскополяризованного света фокусируют на поверхность магнитной пленки до апертуры по крайней мере на порядок меньшей периода исследуемого магнитного поля, перемещают магнитную пленку с постоянной скоростью относительно источника исследуемого магнитного поля, регистрируют отраженный от поверхности магнитной пленки пучок света, выделяют из отраженного пучка света компоненту с поляризацией, не . совпадающей с поляризацией падающего пучка света„ преобразуют выделенную компоненту отраженного пучка света в электрический сигнал, измеряют разность временных интервалов, соответствующих максимальной и минимальной величинам электрического сигнала, а напряженность исследуемого магнитного поля определяют по формуле

Н

НJz(Z)= В t» ч 1-e >

Л причем О, 1Л id (10Л, где Н вЂ” напряженность однородного магнитного поля; — период исследуемого магнитного поля;

d — период собственной доменной структуры магнитной. пленки;

h — толщина магнитной пленки;

9 1396761

V — - скорость перемещения магнитной пленки;

2 — расстояние от магнитной пленки до источника исследуемого магнитного поля;

1О д — разность временных интервалов соответствующих максимальной и минимальной величинам электрического сигнала.

13а6761

Редактор М.Самерханова

Производственно-издательский комбинат а

"Патент" г. Ужгород, ул. Гагарина, 101

Заказ 6882, ВНИИПИ Государственного

113035, Составитель Ф.Тарнопольская

Техред М.Моргентал Корректор С. Черни

Тираж 788 Подписное комитета по изобретениям и открытиям пр и ГКНТ СССР

Москва, Н(-35, Раушская наб., д, 4/5

Способ определения напряженности статического периодического магнитного поля Способ определения напряженности статического периодического магнитного поля Способ определения напряженности статического периодического магнитного поля Способ определения напряженности статического периодического магнитного поля Способ определения напряженности статического периодического магнитного поля Способ определения напряженности статического периодического магнитного поля 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технологии производства ферритовых изделий и может быть использовано при уточнении температур спекания ферритовых изделий из различных марок ферритов

Изобретение относится к процессам обогащения полезных ископаемых

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения концентрации кислорода и других парамагнитных газов в газовых смесях

Изобретение относится к иссле- ; дованию параметров частиц магнитных порошков, в частности к определению их характеристик

Изобретение относится к измерениям механических напряжений с помощью магнитных методов, использующих магнитоупругий эффект, и может быть использовано в производстве предварительно-напряженных стальных конструкций для измерения в них одноосных механических напряжений, измерения напряжений в несущих конструкциях

Изобретение относится к неразрушающему контролю качества движущихся коротких изделий

Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к индуктивным датчикам, и может быть использовано для магнитных и линейно-угловых измерений, в дефектоскопии, для обнаружения и счета металлических частиц и тому подобное

Изобретение относится к измерению одной из сопутствующих переменных в частности путем исследования магнитного параметра поля рассеяния и может быть использовано в диагностике технического состояния трубопроводов

Изобретение относится к технике исследования материалов, в частности к технике обнаружения металлических включений в диэлектрических материалах, и может найти применение в химикофармацевтическом производстве, пищевой, микробиологической и химической промышленностях

Изобретение относится к измерительной технике для неразрушающего контроля качества материалов и предназначено для локального измерения ферромагнитной фазы аустенитных сталей при литье, в заготовках и готовых изделиях, сварных швах, наплавках и др

Изобретение относится к физике, а именно к системам контроля

Изобретение относится к области физических методов измерения магнитных характеристик веществ, а точнее к тем из них, которые используются при повышенных и высоких температурах

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники в машиностроении и черной металлургии и может быть использовано при неразрушающем контроле ферромагнитных изделий
Наверх