Устройство для измерения малых зазоров между двумя поверхностями,одна из которых прозрачная

 

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и мо жет быть использовано для измерения динамического зазора между магнитной головкой и поверхностью диска внешних запоминающих устройств ЭВМ. Цель изобретения - повьшёние точности и быстродействия измерений за счет автоматизации процесса калибровки и измерений . Устройство содержит источник 1 света, оптическую систему, обеспечивающую формирование двух отраженных поверхностями световых потоков с различными длинами волн, фотоэлектрические датчики 6 и 7, регистрирующие интенсивность световых потоков различных длин волн, преобразователь 10, вычислительный блок.18. Регистрируемые значения выходных сигналов фотоэлектрических датчиков 6 и 7 в вычислительном блоке 18 сравниваются с калибровочными значениями и при наличии отклонения их от калибровочных значений на блок 15 управления электродвигателем поступают сигналы, изменяющие частоту вращения электродвигателя 17. В результате изменяется величина зазора между поверхност - ми до тех пор, пока максимальные значения амплитуд выходных сигналов фотоэлектрических датчиков 6 и 7 не станут равны калибровочным значениям. На этом заканчивается процесс калибровки устройства. .Вычисление мгновенной величины зазора осуществляется вычислительным блоком 18 по величине выходных сигналов фотоэлектрических датчиков 6 и 7. 2 ил. (Л о: ел

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН

„„SU„„1357710 A 1 (51) 4 G 01 В 21/00

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н A BTOPCKOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 3893832/24-28 (22) 12.05.85 (46) 07.12.87. Бюл. Х - 45. (71) Институт повышения квалификации специалистов народного хозяйства

ЛитССР (72) К.Б.Бручас, .Л.Л.Ю.Маченис, В.В.Печкис .и Д.Ц.Паулаускас (53) 531.7 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

У 954812, кл. С 01 В 11/14, 1981 ° (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ МАЛЫХ

ЗАЗОРОВ МЕЖДУ ДВУМЯ ПОВЕРХНОСТЯМИ, ОДНА ИЗ КОТОРЫХ ПРОЗРАЧНАЯ (57) Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и мо жет быть использовано для измерения динамического зазора между магнитной головкой и поверхностью диска внешних запоминающих устройств ЭВМ. Цель изобретения — повышение точности и быстродействия измерений за счет автоматизации процесса калибровки и измерений. Устройство содержит источник

1 света, оптическую систему, обеспечивающую формирование двух отраженных поверхностями световых потоков с различными длинами волн, фотоэлектрические датчики 6 и 7, регистрирующие интенсивность световых потоков различных длин волн, преобразователь 10, вычислительный блок.18. Регистрируемые значения выходных сигналов фотоэлектрических датчиков 6 и 7 в вычислительном блоке 18 сравниваются с калибровочными значениями и при наличии отклонения их от калибровочных значений на блок 15 управления электродвигателем поступают сигналы, изменяющие частоту вращения электродвигателя 17. В результате изменяется величина зазора между поверхностями до тех пор, пока максимальные значения амплитуд выходных сигналов фотоэлектрических датчиков 6 и 7 не станут равны калибровочным значениям.

На этом заканчивается процесс калибровки устройства..Вычисление мгновенной величины зазора осуществляется вычислительным блоком 18 по величине выходных сигналов фотоэлектрических датчиков 6 и 7. 2 ил.

1357710

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения динамического зазора между магнитной голов() кой и поверхностью диска внешних запоминающих устройств ЭВМ.

Цель изобретения — повышение точности и быстродействия измерений за счет автоматизации процесса калибров- 1О ки и измерений.

На фиг. 1 приведена функциональная схема предлагаемого устройства; на фиг. 2 — график зависимости величин световых потоков от величины зазора.

Устройство содержит осветитель— источник 1 света, .снетоделители 2 и

3, светофильтры 4 и 5 для пропускания световых потоков определенных частот, фотоэлектрические датчики

6 и 7, прозрачную поверхность — стеклянный диск 8 и непрозрачную поверхность — магнитную головку 9, образующие зазор, аналого-цифровой преобразователь 10, блок управления (БУ)» выполненный в виде узла 11 стробирования, узла 12 синхронизации, узла

13 блокировки, переключателя 14 ре.— жимов, цифроаналоговый преобразова- З< тель 15, блок 16 управления частотой вращения электродвигателя, электродвигатель 17, вычислительный блок 18.

Вход блока 16 управления частотой вращения электродвигателя связан с выходом цифроаналогового преобразователя 15, а выход блока 16 — с электродвигателем 17.

Первый и второй входы аналого-цифрового преобразователя 10 связаны с 4п фотоэлектрическими датчиками 6 и 7, а первый и второй выходы — с соответствующими входами вычислительного блока 18. Вход узла 11 стробирования подключен к первому выходу переключа- 4б теля 14 режимов, второй выход узла

11 — co вторым входом узла 13 блокировки, первый и второй выходы которого связаны с первым входом цифроаналогового преобразователя 15 и с треть- 50 им входом аналого-цифрового преобразователя 10. Второй выход переключателя 14 режимов связан со вторым входом узла 12 синхронизации, третий вход которого связан с вычислительным блоком 18, третий выход переключателя 14 режимов подключен к третьему входу узла 13 блокировки, вход переключателя 14 режимов и второй вход

rpe I„

О1 » О2 ((1 Л2 величина интенсивности пер-. вой интерференционной картины, величина интенсивности второй интерференционной картины, интенсивности интерферирующих лучей, длины волн соответствующих лучей, цифроаналогового преобразователя 15 снязаны с соответствующими выходами вычислительного блока 18, а выход узла 11 стробирования — со входом вычислительного блока 18.

Устройство работает следующим образом.

Излучаемый источником 1 света световой поток проходит через первый светоделитель 2 и направляется на измеряемый зазор, образованный поверхностями 8 и 9. Отраженные этими поверхностями интерферирующие лучи первым светоделителем 2 направляются на второй светоделитель 3, который направляет их в светофильтры 4 и 5, каждый из которых пропускает свет определенной частоты на фотоэлектрические датчики 6 и 7. Сигналы от фотоэлектрических датчиков 6 и 7 поступают на аналого-цифровой преобразователь 10.

Устройство имеет два рабочих режима: режим диагностической калибровки и режим измерений.

Необходимость режима калибровки вызвана изменением чувствительности фотоэлектрических датчиков 6 и 7 в течение времени, что может повлиять на достоверность информации при измерении зазора между двумя поверхностями 8 и 9. Режим калибровки заключается в калибровке выходных сигналон фотоэлектрических датчиков 6 и 7 сигналов, соответствующих световым монохроматическим потокам с длинами волн Я и A2 . Калибровка осу I ществляется по максимальным (А )

Макс и минимальным (А„„„) значениям амплитуд сигналов каждого из фотоэлектрических датчиков 6 и 7 (т.е. для и A2 ) фотоэлектрического датчика. (( макс А макс ми((»

01 для второго фотоэлектрического датчика 2

ll

) макс мике мак(» о2

3 13577

После калибровки должно быть

Т1 2 (Z ) ллсакс (2Z ) макс

О1 ю2

В режиме калибровки сигналь! с вы5 хода фотоэлектрических датчиков 6 и 7 поступают на вход преобразователя 10, который преобразует их в код и посылает их в вычислительный блок 18.

Регистрируемые значения выходных сигналов сопоставляются с ранее установленным калибровочным значением, находящимся в вычислительном блоке 18.15

При неравенстве текущих значений выходных сигналов калибровочным с выхода вычислительного блока 18 через преобразователь 10 на блок 16 управления частотой вращения электродвигателя поступают сигналы, изменяющие частоту вращения электродвигателя 17, что приводит к изменению величины зазора между поверхностями

8 и 9. Изменение величины зазора бло- 25 ком 16 управления производится до тех пор, пока максимальные амплитуды выходных сигналов фотоэлектрических датчиков 6 и 7 не станут равными калибровочному значению. При равенст- „

3 ве максимальных амплитуд (2 Вт) блок управления (БУ) переводит вращение стеклянной поверхности 8 в номинальный режим.

После осуществления первичной калибровки устройство подготовлено к

35 работе и переводится в режим измерений.

Во время рабочего режима измерений производятся расчеты мгновенных зна=

20 чений величин зазора между двумя поверхностями 8 и 9, которые выдает вычислительный блок 18. Расчеты ведутся согласно системы уравнений

I1 4 — (1-cos — h);

2IQ 1

?г 4ю — — (1-cos — h), 2Тю2 углом поворота от нескольких градусов до 360о. Управляющий блок (BY) принимает и передает в вычислительный блок 18 и пар (например, п = 99) координат, каждая из которых соответствует выходным сигналам фотоэлектрических датчиков 6 и 7. Выходные сигналы каждого из фотоэлектрических датчиков 6 и 7 сравниваются (фиг. 2) и определяется мгновенная величина зазора.

Таким же образом определяются все остальные и-1 пары координат вычислительным блоком 18, в результате вырабатывается информация о реальном распределении величины зазора между поверхностями 8 и 9 на установленном участке. По полученным значениям величины зазора межно судить о качестве поверхностей 8 и 9, в частности о качестве магнитного диска и магнитной головки. Так как чувствительные элементы устройства, фотоэлектрические датчики могут менять свои параметры, то в таком случае может возникнуть, что

I„ I2

)макс (2I ) макс ю1 02

Это приводит к ошибочным результатам расчета мгновенных значений зазора. Поэтому для проверки равенства

I-, (I2

)чакс 2I ™акс о 1 о перед началом работы или после какого-то промежутка времени работы включается режим калибровки (диагностики) устройства.

Автоматически расчетные данные сопоставляются с введенными данными первичной калибровки и если они не отличаются, то устройство переключается на рабочий режим. В противном случае устройство останавливается.

После производят процедуру первичной калибровки и устройство опять готово к работе. где h — - величина зазора. 50

Перед вычислением динамически изменяющегося зазора на вращающейся поверхности 8 стеклянного диска при помощи узла 11 стробирования выбирается участок, на котором проводятся измерения.зазора.

Съем информации о величине зазора производится как на полном обороте поверхности 8, так и на секторе с

Формула изобретения

Устройство для измерения малых зазоров между двумя поверхностями, одна из которых прозрачная, содержащее оптически связанные источник света и первый светоделитель, предназначенный для разделения светового потока на два пучка, второй светодели1357710

Составитель О.Носбва

Редактор Г.Волкова Техред А.Кравчук Корректор О.Кравцова

Заказ 5986/37 Тираж 677 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, r. Ужгород, ул. Проектная, 4 тель, установленный по ходу второго светового пучка и предназначенный для разделения его на первый и второй дополнительные световые пучки, первый и второй светофильтры, установленные по ходу первого и второго дополнительных световых пучков соответственно, первый и второй фотоэлектрические датчики, оптически связан- 10 ные с первым и вторым светофильтрами соответственно, о т л и ч а ю щ е ес я тем, что, с целью повышения точности и быстродействия измерений динамически изменяющихся зазоров, оно снабжено аналого-цифровым преоб« разователем, блоком управления, цифроаналоговым преобразователем, вычислительным блоком, электродвигателем, блоком управления частотой вра- щения электродвигателя, вход которого связан с выходом цифроаналогового преобразователя, а выход — с электродвигателем, первый и второй входы аналого-цифрового преобразователя связаны с первым и вторым фотоэлектрическими датчиками соответственно, первый и второй выходы — с соответствующими входами вычислительного блока, блок управления выполнен в виде соединенных последовательно узла стробирования, узла синхронизации и узла блокировки переключателя режимов, вход узла стробирования подключен к первому выходу переключателя режимов, второй выход — к второму входу узла блокировки, первый и второй выходы которого связаны с первым входом цифроаналогового преобразователя и с третьим входом аналогоцифрового преобразователя, второй выход переключателя режимов связан с вторым входом узла синхронизации, третий вход которого связан с вычислительным блоком, третий выход переключателя режимбв подключен к третьему входу узла блокировки, вход переключателя режимов и второй вход цифроаналогового преобразователя связаны с соответствующими выхоДами вычислительного блока, а выход узла стробирования — с входом вычислительного блока.

Устройство для измерения малых зазоров между двумя поверхностями,одна из которых прозрачная Устройство для измерения малых зазоров между двумя поверхностями,одна из которых прозрачная Устройство для измерения малых зазоров между двумя поверхностями,одна из которых прозрачная Устройство для измерения малых зазоров между двумя поверхностями,одна из которых прозрачная 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к оптике, а именно к калибровке коноскопа поляризационного микроскопа по эталонному анзиотропному минералу, и может быть использовано при проведении минералого-петрографических исследований

Изобретение относится к измерительной технике Целью и.юбетения является повышение лроизводительноаи и точности контроля за счет параллельного измерения в нескольких сечениях геометрических параметров объектов неправильной формы, у которых нет единственной ппоскости резкой наводки

Изобретение относится к из.мерительной технике

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, техническим результатом при использовании изобретения является повышение быстродействия

Изобретение относится к области оптических измерений, а именно к интерферометрам перемещений

Изобретение относится к устройству для измерения размера периодически перемещающегося объекта, содержащему оптоэлектронный измерительный прибор, включающий в себя приемопередающие элементы, расположенные не менее чем в одной плоскости изменения, перпендикулярной продольной оси объекта, а также блок обработки, причем плоскость измерения измерительного портала ограничена не менее чем двумя измерительными балками, расположенными под заданным углом друг к другу

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении, черной и цветной металлургии при производстве проката, в резино-технической и химической промышленности при производстве трубчатых изделий без остановки технологического процесса

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении, черной и цветной металлургии при производстве проката, в резино-технической и химической промышленности при производстве трубчатых изделий без остановки технологического процесса

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано в системах АСУ ТП промышленных предприятий

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано в системах АСУ ТП промышленных предприятий

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано в системах АСУ ТП промышленных предприятий
Наверх