Способ подготовки проволоки для спектрального анализа

 

Изобретение относится к подготовке образца для спектрального анализа . С целью сокращения времени проведения анализа на спектрометре в матрице-держателе, проволоку разрезают на кусочки и вдаливают на прессе , затем вплотную укладывают, впрессовывают в матрицу-держатель, а затем шлифуют до исчезновения промежутков между кусочками . Изобретение позволяет отказаться от дорогостоящего и длительного анализа . 1 табл. (Л с: : j СП ю

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СО1.1ИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК (19) (11) (5ц 4 G 01 N 1/28

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ

К ABTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 401 7921/23-26 (22) 28.01.86 (46) 30.09.87. Бюл. У 36 (72) В.В.Лебедев (53) 543.053(088.8) (56) Сликкерс К. Автоматический эмиссионный спектральный анализ. Лозанна, Издание фирмы АР, 1967.

Аналитическое оборудование фирмы

Филлипс. Бюллетень, 1971.

ГОСТ 7565-81 (Ст С3В 466-77). (54) СПОСОБ ПОДГОТОВКИ ПРОВОЛОКИ ДЛЯ

СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА (57) Изобретение относится к подготовке образца для спектрального анализа. С целью сокращения времени проведения анализа на спектрометре в матрице-держателе, проволоку разрезают на кусочки и вдаливают на прессе, затем вплотную укладывают, впрессовывают в матрицу-держатель, а затем шлифуют до исчезновения про— межутков между кусочками . Иэо— бретение позволяет отказаться от дорогостоящего и длительного анализа. 1 табл.

41527

Cr Ni

) С Мп Р S Mo Si Cu

Способ

0,08 1,2 О,O12 0,012 0,15 1,69 0,7 0,21 0,16

Известный

Предлагаемый

РИ-1600

1,19 0,011 0,013 0,17 1,63 0,72 0,21 0,14

0,08 1,2 0,009 0,014 0,17 1,66 0,72 0,2 0,17

0 08 1 2 0 012 0 012 0 16 1 69 0 71 0 21 0 16

Проверка

Составитель Л.Горяйнова

Редактор Л.Повхан Техред М.Ходанич Корректор М.!и!ароши

Заказ 4429/47 Тираж 776 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д.4/5

Производственно-полиграфическое предприятие,г.ужгород,ул.Проектная, 4! 13

Изобретение относится к подготовке образца для количественного анализа, а именно для спектрального анализа.

Целью является получение площади поверхности, необходимой для анализа на спектрометре °

Пример. Стальную проволоку неизвестного состава диаметром 2—

6 мм очищали шкуркой, протирали бязью и разрезали с помощью ножниц-гильотины соответственно иа 15, 10, 7, 6 и 5 кусочков длиной 20-26 мм каждый. Затем все кусочки сдавливали на прессе для получения следующего профиля до толщины d=26/и, где ив число кусочков, с тем, чтобы можно было установить их почти без зазора в матрице-держателе. Если зазор оказывался велик (0,5 мм), то добавляли еще кусочек проволоки и еще раз сдавливали все кусочки, но уже до толщи26 ны — — . Затем кусочки впрессовываи+! ли давлением 40 т.

Если впрессованные кусочки держались неплотно, то устанавливали пуансон и сдавливали еще раз. Затем пробы шлифовали до исчезновения промежутков между отдельными проволоками.

Пробы анализировали на рентгенофлюоресцентном спектрометре РМ-!600

1! и фирмы Филипс и на оптическом эмиссионном вакуумном спектрометре АР?,—

31000 (Франция). Результаты анализов приведены в таблице.

Использование предлагаемого способа подготовки проволоки для спектрального анализа позволяет отказаться .от дорогостоящего и длительного анализа.

Время, необходимое для подготовки проволоки к анализу, составляет не более

15-30 мин.

Формула изобретения

Способ подготовки проволоки для спектрального анализа, включающий зачистку проволоки, разрезку и шлифовку, отличающийся тем, что, с -целью сокращения времени проведения

25 анализа на спектрометре в матрицедержателе, перед шлифовкой проволоку сдавливают на прессе, затем вплотную . укладывают, впрессовывают в матрицудержатель, а шлифовку производят до

З0 исчезновения промежутков между кусочками проволоки.