Квадрупольный масс-спектрометр

 

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к массспектрометрии, и позволяет повысить чувствительность и улучшить формы пиков масс-спектра в области легких масс в квадрупольном масс-спектрометре . В предлагаемом масс-спектрометре при возникновении поверхностного заряда на изоляционных шайбах 3 между смежными электродами 1 анализатора этот заряд экранируется дополнительными электродами 4, потенциал которых равен потенциалу ионно-оптической оси 2 анализатора, В результате исключается искажающее влияние потенциала поверхностного заряда на рабочее поле анализатора. Положительный эффект, достигаемый изобретением, состоит в том, что чувствительность предлагаемого масс-спектрометра и форма пиков масс-спектров в области легких масс остаются неизменными и не ухудшаются после развертки массспектра в области тяжелых масс. На чертеже также показаны точка. 5 парафазного выхода ВЧ генератора 6. 4 3.п. ф-лы, 2 ил, (Л 00 00 о О5 ел

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

А1 (19) (11) (51) 4 H 01 3 49/42

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

llO ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ

К ABTOPGHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4006423/24-21 (22) 15.01.86 (46) 15.08.87. Бюл. Ф 30 (71) Специальное конструкторское бюро аналитического приборостроения

Научно-технического объединения

АН СССР (72) В.В. Горьковой и А.Ф. Кузьмин (53) 621.384(088.8) (56) Paul W, Reinhard Н, von Zahn U, Zeilsehrift fur Physik 1958, Bd. 152, s . .143.

Dawson P.Н. "Qwadrupole Mass

Spectrometry and ils Applications"

Elsevier Scientific Publish Company, Amsterdam — Oxford — New Jork. (54) КВАДРУПОЛЬНЫИ МАСС-СПЕКТРОМЕТР (57) Изобретение относится к измерительной технике, в частности к массспектрометрии, и позволяет повысить чувствительность и улучшить формы пиков масс-спектра в области легких масс в квадрупольном масс-спектрометре. В предлагаемом масс-спектрометре при возникновении поверхностного заряда на изоляционных шайбах 3 между смежными электродами 1 анализатора этот заряд экранируется дополнительными электродами 4, потенциал которых равен потенциалу ионно-оптической оси 2 анализатора. В результате исключается искажающее влияние потенциала.поверхностного заряда на рабочее поле анализатора. Положительный эффект, достигаемый изобретением, состоит в том, что чувствительность предлагаемого масс-спектрометра и форма пиков масс-спектров в области легких масс остаются неизменными и не ухудшаются после развертки массспектра в области тяжелых масс. На чертеже также показаны точка 5 парафазного выхода ВЧ генератора 6.

4 з.п. ф-лы, 2 ил.

1330675 ухудшаются после развертки масс спектра в области тяжелых масс.

В случае, когда дополнительные электроды расположены на наибольшем удалении от ионно-оптической оси анализатора, т.е. вблизи изоляционных шайб, влияние потенциала дополнительных электродов на рабочее поле анализатора незначительно, в то время, как влияние потенциала, вызванного зарядом поверхностей изоляционных шайб, полностью устраняется.

55

Изобретение относится к массспектрометрии, а именно к квадрупольным масс-спектрометрам.

Целью изобретения является повы5 шение чувствительности и улучшение форм пиков масс-спектра в области легких масс в квадрупольном массспектрометре.

Па фиг. 1 представлена конструкция предлагаемого масс-спектрометра; на фиг. 2 — то же, с дополнительными электродами, установленными непосредственно на изоляционных шайбах.

Масс-спектрометр содержит полеобразующие электроды 1 анализатора, установленные параллельно его ионно-оптической оси 2, изоляционную шайбу 3, внутренняя поверхность которой является установочной для полеобразующих электродов анализатора, дополнительный электрод 4, устанавливаемый между каждой парой смежных, полеобразующих электродов и ионно-оптической осью 2 анализатора, соединенный электрически с общей точкой 5 парафазного выхода высокочастотного генератора б.

Работа устройства сводится к следующему. 30

При воз никновении поверхностного заряда на изоляционных шайбах 3 между смежными электродами 1 анализатора этот заряд в предлагаемом массспектрометре оказывается экранированным дополнительш гш электродами 4, потенциал которых равен потенциалу ионно-оптической осп 2, анализатора.

В результате исключается искажающее влияние потенцпа ra поверхностного 40 заря а на рабочее поле анализатора.

Положительный эффект по сравнению с прототипом состоит в том, что чувствительность масс-спектрометра и форма пиков масс-спектров в области легких масс в предлагаемом масс-спектрометре остаются неизменными и не

Влияние потенциала дополнительных электродов становится пренебрежимо малым, когда„эти электроды установлены не на всей длине анализатора, а только на участках установки изоляционных шайб, либо непосредственно на изоляционных шайбах. С целью повышения электрической прочности изоляции между каждой парой смежных полеобраэующих электродов при наличии дополнительных электродов, установленных на и. оляционной шайбе, целесообразно устанавливать дополнительные электроды на изоляционных шайбах с зазором относительно внутренней и боковьlx поверхностях изоляционных шайб. формула изобретения

1. Квадрупольный масс-спектрометр, содержащий источник ионов, анализатор, включающий четыре полеобраэующих электрода и изоляционные шайбы для крепления полеобразующих электродов, приемник ионов, устройство электрического питания анализатора, включающее высокочастотный генератор с парафазным выходом, о т л и ч а ю— щ и и с я тем, что, с целью повьппения чувствительности и улучшения формы пиков масс-спектра в области легких масс, между каждой парой смежных полеобразующих электродов, ионно-оптической осью анализатора и внутренней поверхностью изоляционных шайб симметрично относительно плоскостей симметрии анализатора и параллельно его ионно-оптической оси установлены дополнительные электроды, электрически соединенные с общей точкой парафазного выхода высокочастотного генератора.

2. Масс-спектрометр по п.1, о т— л и ч а ю шийся тем, что длина дополнительных электродов равна длине полеобразующих электродов анализатора.

3. Масс-спектрометр по п.1, о т— л и ч а ю шийся тем, что дополнительные электроды установлены между ионно-оптической осью анализатора и участками поверхности изоляционных шайб, обращенными к этой оси.

4. Масс-спектрометр по пп.1 и 3, отличающийся тем, что дополнительные электроды установлены непосредственно на участках поверх3 1330675

4 ностей изоляционных шайб между смеж- кажцый из дополнительных электродов ными электродами. установлен с зазором относительно

5. Масс-спектрометр по пп.1-4, внутренней и боковых поверхностей отличающийся тем, что изоляционных шайб.

Составитель В. Кащеев

Редактор М. Келемеш Техред Л.Сердюкова Корректор а. Зимокосов

Заказ 3587/53 Тираж 698 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4