Способ подготовки образцов для локального анализа следов элементов
Способ подготовки образцов для локального анализа следов элементов, находящихся в перенасыщенных твердых растворах с ограниченной растворимостью, включающий выделение преципитатов, отличающийся тем, что, с целью расширения спектра примесей, содержащихся в преципитатах в концентрации, превышающей пороговую чувствительность M используемой методики локального анализа, образцы отжигают после выделения преципитатов при температуре интенсивного распада твердого раствора (0,4 - 0,7) Tпл в течение времени от tмин до 10tмин, где 
; D(T) и Vа - коэффициент диффузии и объем атома заданной примеси; Tпл - температура плавления чистого растворителя; 
N(T) - пересыщение твердого раствора при температуре отжига T.
Похожие патенты:
Изобретение относится к области локального рентгеноспектральногр анализа образцов в электронном микроскопе с микроанализатором
Изобретение относится к способам определения типа дислокаций в монокристаллах и может быть использовано для исследования кристаллов со структурой сфалерита
Изобретение относится к анализу элементного состава с помощью электронно-зондового микроанализа
Изобретение относится к област измерительной техники, в частности к способам получения изображения микроструктуры Поверхности диэлектриков с нанесенным проводящим покр тием и может быть использовано, нап ример, при .производстве и совершенствовании растровых электронных микроскопов
Способ рентгеноспектрального микроанализа // 1155925
Способ послойного анализа диэлектриков // 1105792
Способ контроля структурных дефектов // 1086376
Способ получения металлической реплики для анализа нанометрических каналов в трековых мембранах // 2115915
Изобретение относится к области исследований и анализа материалов путем определения их физических свойств, а именно для исследования параметров каналов нанометрических размеров в трековых мембранах, и может быть использовано при изготовлении объектов из трековых мембран для анализа с помощью просвечивающей электронной микроскопии
Способ анализа твердых тел // 2124716
Изобретение относится к области инструментального химического анализа, в частности к области аналитической химии
Изобретение относится к физическим методам анализа состава и структуры вещества, а именно к применению метода вторично-ионной масс-спектрометрии для анализа структурно-энергетического состояния поверхностного слоя вещества, и может быть использовано в структурообразовании и повышении износостойкости новых материалов при изготовлении деталей ответственного назначения
Способ формирования изображения топографии поверхности и устройство для его осуществления // 2329490
Изобретение относится к области формирования в цифровом виде трехмерного изображения реального физического объекта, а именно к формированию топографического изображения объекта, исследуемого методами сканирующей микроскопии
Детектор электронов // 2412503
Изобретение относится к области электронного приборостроения, а более конкретно - к конструкции детекторов электронов, и может найти преимущественное использование в электронных микроскопах
Изобретение относится к медицине, биологии и ветеринарии,точнее к морфологии, предназначенной для исследования в световом микроскопе замороженных срезов органов и тканей человека и животных
Изобретение относится к испытаниям материалов и конструкций на прочность , а именно к анализу процессов разрушения объектрв, содержащих трещины
Способ наблюдения цмд-структур // 1396025
Изобретение относится к области исследования материалов с помощью радиационных методов и может быть использовано для получения изображения доменносодержащих материалов
