Устройство для контроля зеркальных отражателей
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для измерения радиусов кривизны зеркальных сферических отражателей и контроля их качества. Целью изобретения является повьппение чувствительности за счет снижения световых потерь. Луч лазера рассеивается диффузным рассеивателем 2, установленным вплотную к фотопластинке 3, и, пройдя через фотопластинку 3, освещает контролируемый отражатель 5. Отраженное от него излучение регистрируется на фотопластинке 3 до и после смещения отражателя 5 в плоскости, ортогональной направлению луча лазера , с помощью средства крепления и перемещения контролируемого отражателя 4. 1 ил. (Л / ь/5 00 СП У1
СОЮЗ СОВЕТСКИХ
СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ
РЕСПУБЛИН (!9) (И) (sO 4 О 01 В 9/021
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ
К ASTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР
ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3901177/24-28 (22) 27.05.85 (46) 07.06,87. Бюл. У 21 (71) Сибирский физико-технический институт им. В. Д. Кузнецова при
Томском государственном университете им. В. В. Куйбышева (72) В. Г. Гусев (53) 56 1.717,2(088.8) (56) Гусев В. Г., Баландин С. Ф. Измерение радиусов кривизны зеркал методом спектрометрии. — Оптико-механическая промьппленность, 1985, У 6, (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ЗЕРКАЛЬНЫХ ОТРАЖАТЕЛЕЙ (57) Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для измерения радиусов кривизны зеркальных сферических отражателей и контроля их качества. Целью изобретения является повышение чувствительности за счет снижения световых потерь. Луч лазера рассеивается диффузным рассеивателем 2, установленным вплотную к фотопластинке 3, и, пройдя через фотопластинку 3, освещает контролируемый отражатель 5.
Отраженное от него излучение регистрируется на фотопластинке 3 до и после смещения отражателя 5 в плоскости, ортогональной направлению луча лазера, с помощью средства крепления и перемещения контролируемого отражателя 4. 1 ил.
Составитель В. Климова
Техред M. Ходанич
Корректор Е, Рошко
Редактор Л. Коэориз
Заказ 2344/42 Тираж 677
ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Подписное
Производственно-полиграфическое предприятие, r. Ужгород, ул. Проектная, 4
1 131
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для измерения радиусов кривизны зеркальных сферических отражателей и контроля их качества.
Цель изобретения — повышение чувствительности эа счет снижения световых потерь.
На чертеже представлено предлагаемое устройство, Устройство содержит лазер 1, диффузный рассеиватель 2, фотопластинку 3, средство 4 крепления и перемещения отражателя 5.
Устройство работает следующим образом.
Луч лазера 1 рассеивается диффузным рассеивателем 2 и рассеянное им излучение освещает зеркальный отражатель 5. Отраженное от него рассеянное излучение регистрируется на фотопластинке 3. После этого контролируемый отражатель 5 с помощью средства 4 крепления и перемещения отражателя перемещается в плоскости, проходящей через вершину зеркального отражателя, параллельной плоскос5795 2 ти фотопластинки 3. Отраженное от смещенного отражателя 5 рассеянное излучение вновь регистрируется на фотопластинке 3. При восстановлении полученной интерферограммы образуется картина полос, позволяющая судить о качестве зеркального отражателя и измерять радиус кривизны сферического зеркала.
Формула изобретения
Устройство для контроля зеркальных отражателей, содержащее лазер, уста15 новленные ортогонально направлению луча лазера диффузный рассеиватель, средство крепления и перемещения контролируемого отражателя в плоскости, перпендикулярной потоку излучения, и
20 фотопластинку, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения чувствительности, лазер, диффузный рассеиватель, фотопластинка, средство крепления и перемещения отражателя расположены последовательно, а диффузный рассеиватель установлен вплотную к фотопластинке.
