Способ определения параметров плазмы, включающий измерение интенсивности собственного радиоизлучения исследуемой стационарной плазмы на двух частотах 
i, по которым определяют концентрацию электронов и частоту их столкновения, отличающийся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей путем определения параметров распадающейся плазмы и их температурной зависимости, значения частот i выбирают из условия i 
0, где 0 - плазменная частота стационарной плазмы, дополнительно измеряют интенсивность Тя(t) собственного радиоизлучения исследуемой плазмы в процессе ее распада, по измеренным величинам определяют временную зависимость термодинамической температуры плазмы Т(t), а параметры распадающейся плазмы определяют по формулам 
где 
(T) - коэффициент электрон-ионной рекомбинации; Dа(Т) - коэффициент диффузии; h(Т) - коэффициент прилипания; а - 3,18
109; 
- диффузионная длина; Nlo - концентрация электронов в стационарной плазме;
- частота столкновений электронов;
L - размер плазменного образования в направлении зондирования;
t - момент времени.
Похожие патенты:
Изобретение относится к технике измерений на СВЧ
Изобретение относится к технике СВЧ-измерений
Изобретение относится к технике измерений на СВЧ
Изобретение относится к измерительной технике, в частности к технике СВЧ-влагометрии, и может бытЬ использовано для измерения влажности почвогрунтов, а также сыпучих материалов
Изобретение относится к измерительной технике на СВЧ
Изобретение относится к измерительной технике
Изобретение относится к радиолокации, а именно к способам исследования подповерхностных слоев различных объектов
Изобретение относится к созданию материалов с заданными свойствами при помощи электрорадиотехнических средств, что может найти применение в химической, металлургической, теплоэнергетической, пищевой и других отраслях промышленности
Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам измерения влажности, и может быть использовано в тех отраслях народного хозяйства, где влажность является контролируемым параметром материалов, веществ и изделий
Изобретение относится к радиотехнике, а именно к технике измерений макроскопических параметров сред и материалов, и, в частности, может использоваться при неразрушающем контроле параметров диэлектрических материалов, из которых выполнены законченные промышленные изделия
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для неразрушающего контроля состояния поверхности конструкционных материалов и изделий и может быть использовано в различных отраслях машиностроения и приборостроения
Изобретение относится к технике измерений с помощью электромагнитных волн СВЧ диапазона и может использоваться для дефектоскопии строительных материалов различных типов с различной степенью влажности
Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля и может использоваться для томографического исследования объектов и медицинской диагностики при различных заболеваниях человека, а также для лечения ряда заболеваний и контроля внутренних температурных градиентов в процессе гипертермии
Изобретение относится к области исследования свойств и контроля качества полимеров в отраслях промышленности, производящей и использующей полимерные материалы
Изобретение относится к исследованию объектов, процессов в них, их состояний, структур с помощью КВЧ-воздействия электромагнитных излучений на физические объекты, объекты живой и неживой природы и может быть использован для исследования жидких сред, растворов, дисперсных систем, а также обнаружения особых состояний и процессов, происходящих в них, например аномалий структуры и патологии в живых объектах
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения сплошности потоков диэлектрических неполярных и слабополярных сред, преимущественно криогенных
