Способ подготовки образца для электронномикроскопического исследования
Изобретение относится к технике электронной микроскопии. Цель - упрощение способа подготовки образца
СОЮЗ СОВЕТСНИХ
СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ
РЕСПУБЛИН
4 G 01 N I/28
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ
H А ВТОРСКОМ У СВИДЕТЕЛЬСТВУ
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР
ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3825979/24-21 (22) 14. 12. 84 (46) 23.01. 87. Бюл. У 3 (72) Г.Д.Шнырев, С.В.Лагун, З.Д.Вишневецкий и С.И. Бычков (53) 621.383.833(088.8) (56) Барна А., Радноци Д. Способы приготовления образцов из тонкой проволоки вольфрама для просвечивающей электронной микроскопии. — Заводская лаборатория, 1980, т. 46, 11- 8, с, 741-742.
Практические методы в электронной микроскопии./ Под ред. О.M.Ãëoýpa. — Л.: Машиностроение, 1980, с. 24. (54) СПОСОБ ПОДГОТОВКИ ОБРАЗЦА ДЛЯ
ЭЛЕКТРОННО-МИКРОСКОПИЧЕСКОГО ИССЛЕДОВАНИЯ А
„„SU„„1285337 А1 (57) Изобретение относится к технике электр онноч микроскопии. Цель — упрощение способа подготовки образца (О) для электронно-микроскопического исследования. Она достигается тем, что в способе О 1 устанавливают в С вЂ образн выемку 2 оправы (ОП) 3 и фиксируют слоем керамического связующего 4, например цемента (стоматологического), при этом ОП 3 имеет форму диска (Д), а 0 устанавливают так, что часть его выступает за образующую Д. Изобретение облегчает операции фиксации О, так как слой связующего 4 герметично уплотняет 0 и вместе с тем электрически изолирует ОП 3 образца и поэтому не вносит погрешность при снятии вольт-амперной характеристики системы 0 — электролит. 2 ил.
1285337
ВНИИПИ Заказ 7637/44
Тираж 776
Подписное
Произв.-полигр. пр-тие, r. Ужгород, ул. Проектная, 4
Изобретение относится к технике электронной микроскопии, а именно к методам подготовки образцов, предназначенных для исследования в просвечивающих электронных микроскопах. 5
Цель изобретения — упрощение способа, достигаемое за счет облегчения производства операций фиксации образца, его утонения и универсальности приготовленных образцов.
На фиг..1 изображена оправа с образцом, общий вид; .на фиг.2 — разрез
А-А на фиг.1.
Заготовку образца 1, например отрезок проволоки толщиной 0,12—
0,20 мм, помещают в с-образную выемку 2 оправы 3 и фиксируют слоем керамического связующего 4, например цемента (стоматологического). Оправа
3 может быть выполнена вырубкой из фольги, например, нержавеющей стали
12X18Hl07 толщиной 0,12-0,16 мм и иметь форму диска диаметром 3 мм (согласно общепринятому размеру образца). Размеры выемки имеют, как правило, ширину 1,25 мм и глубину 2 мм. После отверждения связующего его наплывы и выступающие боковые поверхности 5 образца 1 срезают до уровня боковых поверхностей оправы 3. В случае, когда толщина образца меньше толщины корпуса, заодно с образцом обрабатывают и поверхности оправы.
Оправа с образцом может быть установлена в гальванической ванне, причем образец свободным концом прижимают к положительному контакту, являющемуся анодом. Слой связующего
4 герь етично уплотняет образец 1 и вместе с тем электрически изолирует оправку 3 от образца и поэтому не вносит погрешность при снятии вольтамперной характеристики системы образец — электролит °
Злектрополированный образец в средней части утоняется до образования отверстия и становится черезвычайно хрупким. Наличие постоянной оправы обеспечивает свободное и надежное манипулирование на всех операциях, связывая их в единый технологический процесс; существенно повышается производительность труда оператора, создаются предпосылки для механизации и автоматизации приготовления образцов крупными партиями.
1 формулаизобретения
Способ подготовки образца для электронно-микроскопического исследования, включающий установку образца в оправу, его фиксацию твердеющим веществом и последующее утонение, отличающийся тем, что, с целью упрощения способа, образец устанавливают в выемке оправы, выполненной в виде диска, таким образом, что часть образца выступает за образующую диска, а в качестве твердеющего вещества используют диэлектрическое керамическое связующее, которым заполняют зазор между образцом и внутренней поверхностью выемки.
