Способ определения времени жизни адсорбированных частиц на поверхности твердого тела

 

ССЮОЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН (gg 4 G 01 N 13/00

1

1

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМ,Ф СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 38604 7 7/24-25 (22) 22.02.85 (46) 23.10.86. Бюл. Ф 39 (71) Специализированное конструкторско-технологическое бюро с опытным производством Института электроники им. У.А.Арифова и Институт электроники им. У.А.Арифова (72) Э.Г. Назаров и Г.Т;Рахманов (53) 537.58:541.183.23(088.8) (56) Назаров Э.Г., Расулов У.Х., Зандберг Э.Я. Нестационарные процессы поверхностной ионизации частиц на эмиссионно-неоднородных поверхностях. I. Метод модуляции напряжения.

ЖТФ, 1980, 50, с. 1752-1762.

Зандберг Э.Я., Назаров Э.Г., Расулов У.Х. Нестационарные процессы поверхностной ионизации частиц на эмиссионно неоднородных поверхностях. ,II. Метод модуляции потока, ЖТФ, 1981, 51, с. 123-129.

„SU„„1265547 А 1 (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВРЕМЕНИ ЖИЗНИ АДСОРБИРОВАННЫХ ЧАСТИЦ НА ПОВЕРХНОСТИ ТВЕРДОГО ТЕЛА (5 7) Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для изучения процессов взаимодействия частиц с поверхностью твердого тела, а также для контроля поверхности твердых тел. Целью изобретения является повышение экспрессности и снижение трудоемкости исследований. Согласно способу на исследуемую поверхность направляют модулированный поток частиц, причем модуляцию потока осуществляют с периодом i c меньшим, чем время полной релаксации поверхностной концентрации иониэирующихся на поверхности частиц, и с пе-ременной скважностью модуляции. Время С жизни частиц на поверхности определяют по соотношению минимального и .максимального значений ионного тока десорбирующихся частиц в одном периоде модуляции при разных скважностях. 1 ил.

1 12655

Изобретение относится к контроль - но-измерительной технике, а именно к способам изучения свойств поверхности твердых тел, и может быть использовано для изучения гетерогенных процессов на поверхности твердого тела путем определения характеристик взаимодействия частиц с твердым телом, в частности времени жизни частиц на поверхности при разных темпе- 10 ратурах и других производных от него кинетических характеристик термодесорбции..

Целью изобретения является повышение экспрессности и упрощение способа 15 путем исключения необходимости регист-,,рации и обработки всей временной зависимости тока ионов.

На чертеже схематично приведены кривые зависимости ионного"тока де- 20 сорбирующихся частиц от времени: кривая 1 — зависимость ионного тока от времени при модулировании потока поступающих на поверхность частиц с периодом модуляции Т большим, 25 чем время полной -релаксации поверхностной концентрации, или, то же самое, время полной релаксации тока .ионов; кривые 2 и 3 — зависимости ионного тока от времени при модулирова- 50 нии потока с периодом Т, недостаточным для полной релаксации поверхностной концентрации ионизирующихся частиц, со скважностью (=Т-, где н время поступления потока, кри- 35 вая 2 — для малой скважности, t, Т кривая 3 — для большой скважности, c(T.

Суть изобретения заключается в следующем. 40

Если поступающий на поверхность поток частиц модулировать таким образом, чтобы период Т.модуляция был меньше, чем время релаксации поверхностной концентрации ионизирующихся частиц, а именно, чтобы время t„. поступления потока было недостаточным для установления равновесного покрытия, а время Т =Т-t„ çàïèðàíèÿ пото.ка недостаточным для полной десорбции 50 частиц, адсорбированных в предыдущий полупериод, то поверхностная концентрация адсорбированных частиц и соответственно ионный ток десорбирующнхся частиц будут промодулированы 55 с той же частотой модуляции, при этом они от периода к периоду будут возрастать. Процесс роста будет про47 2 должаться до тех пор пока не установится некий квазистационарный ток, колеблющийся от . до макс и зависящий от времени жизни иони1 зирующихся частиц, частоты F=T и скважности модуляции =-- (кривые 2 и 3). установлено, что эти величины связаны следующим соотношением

7 -- - - ° . (1)

F, 4 1п- .вМ мик где (— скважность модуляции;

F — частота модуляции; макЬ вЂ” максимальное и минимальное значение ионного тока соответственно в одном периоде модуляции.

Следовательно, определяя по осциллограммам значения i„ и 1,„„ для определенной частоты и скважности модуляции, можно рассчитывать значение .времени жизни ионизирующихся частиц на поверхности.

Процесс экспериментального определения времени жизни предлагаемым способом включает в себя следующую последовательность операций. На разогретую ионизирующую поверхность в вакууме направляют модулированный

С произвольной скважностью поток исследуемых частиц. Десорбирующиеся ионы, попадая на коллектор, создают импульсь1 ионного тока, которые после усиления визуализируются на экране осциллографа„ у которого предварительно определено положение нулевой линии. Подбирают необходимую частоту модуляции Р, обычно начинают с малых частот (О, 1-1 Гц), затем увеличивают F до тех пор, пока значение i не станет больше нуля. Снимают значения х и 1 „ и по формуле (1) рассчитывают величину Т . Изменяя скважность модуляции В, определяют для разных участков зависимости i(t) .

Если значение одинаково при разных, это свидетельствует об экспоненциальном характере зависимости

1(С). Если зависит от скважности модуляции, то полученные времена жиз- . ни характеризуют разные адсорбционные состояния ионизирующих частиц на поверхности твердого тела.

Пример. Исследуют ионизацию молекул CsC1 на тестурированной вольфрамовой ленте.

265547

Формула изобретения

Составитель А.Кощеев

Ь.

;Редактор В.Иванова Техред M.Õîäàíè÷ Корректор В.Синицкая

Заказ 565 1/35 Тираж 778 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г.ужгород, ул.Проектная, 4

3 1

На поверхность вольфрамовой ленты направляют модулированный поток мо1 лекул CsC1 и регистрируют ионы Cs образующиеся при диссоциации молекул СвС1 на поверхности вольфрама.

Импульсы ионного тока, соответстФ вующие десорбирующимся потокам Сз усиливаются при помощи электрометрического усилителя У5-9 и регистрируются на экране осциллографа.

Для температуры поверхности

1200 С было получено по известному способу время жизни i 0,00718 с.

По предлагаемому способу при скважности модуляции =2 и частоты =

4 Гц было получено 1 „ „ — 34 деления; i — 6 делений. Соответственно из формулы (1) получено =

0,00722 с. При других значениях скважности без изменения частоты получены те же значения времени жизни.

Значения, полученные сравниваемыми способами, совпадают с точностью 1Ж, тогда как время определения сокраща4 ется в 10-15 раэ эа счет устранения необходимости регистрации и обработки формы импульсов ионного тока.

Ф

Способ определения времени жизни ,адсорбированных частиц на поверхности твердого тела, заключающийся в воздействии импульсно-модулированного потока частиц на поверхность .Фтвердого тела, регистрации временной зависимости тока ионов, десорбирующихся с поверхности, и расчете времени жизни по этой зависимости, отличающийся тем, что, с целью повьппения экспрессности и упрощения способа, период модуляции устанавливают меньшим, чем время пол о ной релаксации тока ионов, десорбирующихся с поверхности, а иэ временной зависимости тока ионов находят максимальное и минимальное значения тока ионов, по отношению которых. д расчитывают время жизни.

Способ определения времени жизни адсорбированных частиц на поверхности твердого тела Способ определения времени жизни адсорбированных частиц на поверхности твердого тела Способ определения времени жизни адсорбированных частиц на поверхности твердого тела 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области измерительной техники и может найти применение в химико-термической обработке

Изобретение относится к способам определения коэффициентов тепломассопереноса, которые используются для расчетов рациональных режимов сушки различных пористых материалов, например, гипсовых строительных изделий

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для контроля процессов приготовления растворов поверхностно-активных веществ

Изобретение относится к области исследования физико-химических свойств, в частности поверхностного натяжения и вязкоупругих параметров жидкости

Изобретение относится к обконтрольно-измерительной техники и может быть применено для контроля чистоты и однородности прозрачных материалов Целью изобретения является расширение области применения путем обеспечения определения распределения величины краевого угла вдоль периметра смачивания

Изобретение относится к технике измерения физико-химических характеристик жидких сред, а именно поверхносФных свойств, и может быть использовано в экспериментальной физической химии

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для исследования физико-химических свойств поверхностноактивных веществ (ПАВ), а именно, для определения критической корщентрации мицеллообразования (ККМ) водных растворов ионогенных ПАВ

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для определения силы отрыва пузырька газа от частицы минерала

Изобретение относится к контрольно-измерительйой технике и может найти применение при оценке флотационной активности минералов

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в области литейного производства при изготовлении формовочных и стержневых смесей

Изобретение относится к способам определения молекулярно-массового распределения как линейных полимеров, так и межузловых цепей сетчатых полимеров

Изобретение относится к технологии материалов электронной техники, в частности к способам определения полярных граней полупроводниковых соединений типа AIIIBV (InSb, GaSb, InAs, GaAs, InP и Gap) и может быть использовано для ориентации монокристаллических слитков и пластин

Изобретение относится к оптической контрольно-измерительной технике и может быть использовано для физико-химического анализа жидкостей и поверхности твердых тел, в частности для определения смачивающей способности жидкости, изучения процессов растекания и испарения жидкостей, для определения коэффициента поверхностного натяжения жидкостей
Изобретение относится к области физики поверхностей

Изобретение относится к физике и химии поверхностных явлений и может быть использовано для определения параметров двойного электрического слоя на границе фаз

Изобретение относится к области исследования материалов, а именно к устройствам для испытания смазочных масел

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к пневматическим устройствам для измерения поверхностного натяжения жидкостей, и может найти применение в таких отраслях промышленности, как химическая, лакокрасочная и пищевая промышленность

Изобретение относится к области подготовки нефтей и разрушения водонефтяных эмульсий, стабилизированных природными эмульгаторами и различными видами механических примесей
Наверх