Способ косвенного определения флуктуации микротвердости полимерных пленок
Изобретение относится к определению флуктуации микротвердости.и позволяет расширить диапазон исследуемых пол1ф{ерных пленок при определении .флуктуации микротвердости. Иccлeдye o пленку помещают на отражапщую подложку из гомогенного материала j микротвердость которой измеряют при постоянной нагрузке и при заданном времени выдержки под нагрузкой,, затем в пленку внедряют . о индентрр при условиях определения (О микротбердости подложки и по отпечаткам индентора на отражающей подложке судят о флуктуации микротвердости полимерной пленки,,
СОЮЗ СОВЕТСКИХ
СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ
РЕСПУБЛИК (51 4 0 "1 N 3/42
8(i
ОПИОАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ З
ГОСУДАРСТНЕНКЫЙ КОМИТЕТ СССР
ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 3907064/25-28
1,22) 10.06.85 (461 07,10.86, Бюл. ¹ 37 (72) В.К.Афонин, М.С,Рязанов, Н.С.Самойлов, Н.А.Филиппов и В.А.Шахманов
153) 620.178.152(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР № 634173, кл„ G 01 N 3/42, 1977.
Авторское свидетельство СССР
¹ 911211, кл, Г 01 N 3/42, 1980, (5 ) СПОСОБ КОСВЕННОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ
ФЛУКТУА11ИИ МИКРОТВЕРДОСТИ ПОЛИМЕРНЫХ
ПЛЕНОК (57) Изобретение относится к определении флуктуации микротвердости.и позволяет раснирить диапазон исследуемых полимерных пленок при определении .флуктуации микротвердости.
Исследуемую пленку помещают на отражающую подложку из гомогенного материала, микротвердость которой измсряют при постоянной нагрузке и при заданном времени выдержки под нагрузкой. затем в пленку внедряют индентор при условиях определения микротвердости подложки и по отпечаткам индентора на отражающей подложке судят „- флуктуации микротвердости полимерной пленки.
1262340 а р м у л а и з о б р е т е н и я
Изобретение относится к измерению твердости материалов, в частности к способам определения флуктуации микротвердости полимерных пленок, Цель изобретения — расширение диапазона исследуемых материалов.
Способ реализуется следующим образом, Составитель С,Волобуев
Редактор А.111ишкина Техред В. Кадар Корректор Е. Сирохман
Заказ 5418/39
Тираж 7/8 Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул, Проектная, 4
При постоянной нагрузке и фиксированном времени определяют микротвердость отражающей подложки, выполненной из гомогенного материала, Исследуемую полимерную пленку помещают на отражающую подложку и вдавливают в нее индентор при условиях измерения микротвердости отражающей подложки. Удаляют пленку с подложки и по размерам отпечатков индентора на подложке судят о флуктуации микротвердости полимерной пленки, Способ косвенного определения флуктуации микротвердости полимерных пленок, заключающийся в том, что исследуемую пленку помещают на подложку, в поверхность пленки под действием постоянной нагрузки в течение заданного времени вдавливают остро1О конечный индентор и определяют флуктуацию микротвердости, о т л и ч аю шийся тем, что, с целью расширения диапазона исследуемых материалов, в качестве подложки исполь. зуют отражающую подложку из гомогенного материала, измеряют ее микротвердость, вдавливают индентор в пленку при условиях измерения микротвердости отражающей подложки, а о флуктуации микротвердости пленки судят по размерам отпечатков на подложке.
