Способ диагностики электронно-ионных колец

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ABTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ у 41тта ео е RV е

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЬПЪЙ (21) 3734905/24-21 (22) 03.05.84 (46) 15.04.86. Бюл. Р 14 (71) Объединенный институт ядерных исследований (72) С.И.Тютюнников и В.Н.Шаляпин (53) 621.384.6(088.8) (56) 1. Долбилов Г.В. и др. Препринт

ОИ2И, Р9-12963. Дубна, 1960.

2. Голутвин И.А. и др. Препринт

ОИ2И, Р9-81-245. Дубна, 1981.

3. Авторское свидетельство СССР

Ф 1032991, кл. Н 05 Н 7/00, 1982. (54) (57) СПОСОБ ДИАГНОСТИКИ ЭЛЕКТРОННО-ИОННЫХ КОЛЕЦ, включающий определение числа и плотности электронов в кольце и его размеров путем измерения интенсивности, геометрии и ширины углового распределения синхротронного излучения,о т л и ч а ю щ и й— с я тем, что, с целью расширения функциональных возможностей способа за счет измерения распределения потенциала и плотности ионов в сечении кольца, ширину угловых распределений сйнхротронного излучения измеряют одновременно в -ряде точек по сечению

I копьца сначала при числе электронов в кольце N, удовлетворяющем выра» жению а затем при числе электронов в кольце 11е, больше чем М, и опредее» ляют распределение потенциала элект(19) (11) (51)4 Н 05 Н 7/00, G 01 Т 1/29 рического поля ионов по сечению кольца по выражению где b — требуемая относительная тбЧность определения потенциала электрического поля ионов h — длина волны измерения р — релятивистский фактор электронов; — классический радиус электрона»

4 — аксиальный размер малого сечения кольца; — радиус кольца, С дь Ж =-"Щ» ()— показатель спада внешнего магнитного поля, — координата по радиусу кольца б — 2-я — компонента магнитного Я поля, y -y — - разность потенциалов между к м точками К и М сечения кольца; »»т »

y — соответственно заряд, масса е и скорость электронов коль- Ql ца," С0

6 м — ширина углового распределе-, ния синхротронного излучения прн числе электронов и е, в точках К и М сечения кольца, 9 „- ширина углового распределения синхротронного излучения при числе электронов большем, чем й, в токах К и о

М сечения кольца.

1225052 тогда фиг.1

Изобретение относится к ускорительной технике, а именно к коллективному методу ускорения.

Цель изобретения - расширение функциональных возможностей способа 5 за счет измерения распределения потенциала и плотности ионов в сечении кольца.

На фиг. 1 показана схема предлагаемой установки;. на фиг. 2 — вид А 10 на фиг.. 1.

Установка содержит электронноионное кольцо 1, объектив 2, набор щелевых диафрагм 3, фотопластинка или диссектор 4. Объектив проецирует 15 иэображение сечения кольца в синхротропном свете на ппоскость щелевых диафрагм. Кроме того, на фиг. 2 показано (с- увеличением) сечение 5 кольца, щелевые диафрагмы 6, z„ - 2, — 20 секущие эллипса сечения, параллельные аксиальной оси Z,- 7

Измеряя ширины угловых распределений вдоль прямых .i, Z,, получают 2З сечение распределения потенциала, создаваемого ионами кольца. Так как в видимой области спектра сосредоточена значительная часть мощности СИ (Р 100 Вт при М, = 5 10 ), то в Зо качестве регистрирующего элемента используют фотопластинку (интегральный датчик) или диссектор,с временным разрешением до десяти наносекунд.

Ошибку измерения определяют величиной промежутка между щелями и шириной щели. Оценка дифракционных эффектов показывает, что точность измерения может достигать 4Х. Задаваясь точностью измерений Л 0,05, определяют количество электронов в зондирующем пункте:

8, = I <(e. ч„ ); е рме

В условиях формирования электронно-ионных колец в коллективном ускорителе тяжелых ионов выполняются следующие соотношения: ф 40;:а = 0,2 см Г= 3 см;

> 0,05>

1)20(4-10 1 6 10 е 2,8 10"

47 40.4.10-Я

510 ), "-3 10 " е

При таком числе электронов мощность СИ составляет 1 Вт, поэтому измерения угловой ширины можно проводить фотоэлектронным прибором типа диссектор.

1225052

2g фЖЯ

Редактор М.Недолуженко

Заказ 19б7/61

Производственно-полиграфическое предприятие, r. Ухгород, ул. Проектная, 4

Zg

Составитель А.Громов

Техред И.Верес Корректор М.QapoeH

Тира к 765 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Рауеская наб., д. 4/5