Устройство для диагностики памяти

 

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

091 (11) (511 4 G 1 ) С 29/00

К ABTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3762082/24-24 (22) 10.07,84 (46) 15.02.86. Бюл. V- 6 (72) А.К. Трещановский и С.К. Гарист (53) 681.327(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

У 698056, кл. G 11 С 29/00, 1977.

Патент Японии 1(57-13960, кл. G 11 С 29/00, опублик. 20.03.82. (54)(57) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ДИАГНОСТИКИ

ПАМЯТИ, содержащее первый блок памяти, блок управления, первый счетчик, первый регистр, первый элемент сравнения и первый элемент И, первый вход которого подключен к выходу первого блока памяти, информационный вход которого соединен с вторым входом первого элемента И и является информационным входом устройства, причем выходы первого счетчика подключены к одним из входов первого элемента сравнения, другие входы которого соединены с выходами первого регистра, о т л и ч а ю щ е ес я тем, что, с целью повышения точности контроля, в него введены генератор тактовых импульсов, блок выбора адреса строки, блок выбора адреса столбца, мультиплексоры, второй, третий и четвертый блоки памяти, элементы ИЛИ, второй счетчик, второй элемент сравнения, второй регистр, второй и третий элементы И, причем одни из выходов блока выбора адреса строки и блока выбора адреса столбца подключены соответственно к одним из входов первого и второго мультиплексоров, выходы пе рвого мультиплексора соединены с адресными входами второго блока памяти, одними из адресных входов первого блока памяти и одними из входов четвертого блока памяти, адресные входы которого подключены к выходам второго счетчика и одним из входов второго элемента сравнения, другие вхсды которого соединены с выходами второго регистра, выходы второго мультиплексора подключены к адресным входам третьего блока памяти, другим адресным входам первого блока памяти и другим входам четвертого блока памяти, управляющий вход которого и счетный вход второго счетчика соединены с выходом первого элемента сравнения, первые входы второго и третьего элементов И подключены к выходу первого блока памяти, а вторые входы — соответственно к выходу второго и к выходу третьего блоков памяти, информационные входы которых соединены с информационным входом первого блока памяти, управляющие входы второго, первого и третьего блоков памяти подключены соответственно к выходам элементов

ИЛИ с первого по третий, первые входы которых соединены с выходом первого элемента И и первым входом четвертого элемента ИЛИ, второй и третий входы которого подключены соответственно к выходам второго и третьего элементов И, а выход соединен со счетным входом первого счетчика, выход генератора тактовых импульсов подключен к тактовому входу блока управления, одни из выходов которого соединены соответственно с одними из входов блока выбора адреса строки и блока выбора адреса столбца, с упрл?»ляюп(имтт нходами перво". 0 с чет- ?(ка и мультиплексоров, с вторыми

Входами элементов ИЛИ с пер?»огс по третий, с третьими входами RTîðñгo и

Tретьего элементов И, одни из входон блока управления подключены соотнет— с тн енно к выходам элементов срлв нения, к выходам второго и тре ьего блоков памяти, другие входы и вьхо;!ь. :. !" i л у т) рл нлеi!,H?1 блока ??ыборл

lilEPc;l: трски> б..ока выбора адреса

1 0)lб}l;1 i ;.,е-. г„-,— Грэг» ?г?>фгрт ),-. циOHH},(FJ н 1,.",ы .: вь(ходы г Jp.чик )в Ii выходы е 1 i .I) Того б пока ллмя I H Являю ся с О отэ(>т("нсннэ упряаттяюц«1«ми входами и

1(ь(?(0;.Iлми ус Гройс-:вл, адрег ными вхо— цл; котopo) являются другие входы луп-;,, иплекгopoR

Изобретение относится к г>ьтчисли— тель(той технике и мо)кет быть исгользовлно при контроле функционирога—

Ilия злпоминчюц}(лх y cTpoHcтв Б част ности, для выявления неисправных эпементов кристаллов памяти с ре»срв

1 «ыми элементами, для технологичес; oI o анл.пиза дефектов выпускаемых устройств плмяти, для отбора микросхем г зада?«?ль«м количеством и распреде— лгнисм l«pH(.IpB?31«?,Ix ячеек, л так)ке ц pн Л?>ЛЛИ 3 С Ит«гфО!)" 1ацИИ > Х ЛНУ!ЮЕЙCЯ

I3 3 л по.".(?(?(л)ю«1«е((уг т ройс тв е .

I.(лт)ю H:30 бi) (TOHi(я явля ется

Ii!p. «ие тс чнос ти ко?«троля.

Е1л фи(. (т;) ив едена функ,иональнля хгмл 1(р(?1(?та(.ламого ъгтргйстнл ., I«:} фиг. ? Il 3 — функцис)нальнь?е схемы нлибо?(О(((ре;и о 1-. ительных Вариан Гон !

1, (поппе)«ия блока управ тcHия B блэка

13!)(()Ap;I лдрес l строки с?оотне "c THE . « и Э; ((Л фИГ. 4 — НрсмЕ:«НЛВ ДИЛГрЛМ— м,1, пояc?«Вю?«тля работу блока упра«»ленин .

У стро 1гт?)n содержит бпОК 1 у рлвления, ге?(оратор 2 тактовых импульсов, блок 3 выбора адрес-: строки, б:ток - i 1»ыбора адрега (тс — áö-, пе|)нь(и ) и H Горой 6 му(тьтиплексорь >, зпементы Ин1! 7 — 9 .с первого ?тo тр."-т (й> блоки !Гт-12 памяти с первого ттз третий, э.(е.(PHты И 13 15 с пе:— в эго по Tð(" I«13, четвертый элемент !6

И.1И, первь!й с-стчик 17, первый эле— и ..нт 18 срлвне «ия, 1«ервый регистр (9, ч.тнерть?й блок 20 памяти, Второй г Ioтчик 21, второй .»лемент ?2 срлнili>?III?(И В (01)<)1> PPI ИСТР

11;1 фиг, ()()() »нлчены (IpBRH?«Io(I(3(, х(1) I I> 1)ьi?: )тlьl 2 ) и 2 ) у(Гройс «R?1

i:, . H! i 3i Вхо,?о)3 H I«I>(".ioRo?3 26 блокя

1)л>?1:.):?«(ля > ад )ec?«I..ie 27 и 28 и ин—

) ).)i li li! )0 ННЬI> ? !. ВХОД?>1 У С ТРОИГ гва г

",.-Ок упрл -.лепин,ф?«1 . 2, содер— ) >К(;т )pi ИСтр;:1) ТрHГГЕрЫ 31- 36 > ЭЛЕие"-ь !! 37 --г 3 > !»ормиронл тели ((4 — 7?6

")д-:-nп ых Hмпульсон,. логический

4 H 3..(стм(»11т И)..;И Ц8 . -::loi ) выбOрл адреса строки ф>-;: 3 ) годе,>)кит ре.-истр 49 наг:,.?)ното знл-.ения> регистр 50 конечс з?)лче?пля . счетчик 51 адреса

-р:ки, элемент 82 сравнения, На фг ОбО. 3?та>((.НЬ(ВХОД И ВЫХОД ЭЗ

?Р;.; -;С? «HЯ, НХС-Гт -). ->>СЗ.ЯНОНК?Л ЛДPЕ— с трохи, »xo;i > увегичения лдре— гл - -роки. Выходь. 06 и 57 блока, .! лэк, Выбогл адреса столбца ана;..: ll (е?! блоку выбора адреса с "роки. с)Hг, т«показаны тактовые сиг -«а Rxoap элемента И 3 т 1, фиг. 2 ),.

::л :«фгрмлционном входе триггера 31, си IIB(. :> пр. У на выходе тригге;.игналы на выходе формирона— тслн --5 сигнал "!,„„ > с?игнллы на -:?.(Ходе форм «po?3 а-.ге. (я ц 6, cH? ?IE}JII)i Т 1 ? с() o TBO ò("-в е и?-о H;i выходах эле—

:! .; r, И 30 и 39 и тигнлл Стоп на гд: . м - з нь:хо IQL б.-;Ока (37. . ргдллглемое угтт OHcT;=0 )paботает, . (С 71 > 1!)Пт?(М О б р га З 0 М."с". рсйстно позно.тяе Г не только .. г 1-(T>II»BTЬ 0??H÷==.ñTRÎ дефектов г, г(Е ()Я (.?Ло>гЛ (?ЛМя ГИ HO ?) Гтт) ОВОЦИТЬ

>c:

Л) г«Л,:-?(=I РЛСПРЕ,(Е,(Е«» ЛЯ НЕИСПРЯННЫХ

Я -"Гг К . НЛХОД?3? (, НЕИСПРЛВНЫЕ ЭЛЕМЕНГы =)E.,}.»HHbie i» в!(де любых прямоугOJIb

)ь)х:)>: лстког ма -pH;1? строк и столб10?1 )-О КОЛИ>«С.ГВУ Н НИХ ДЕфЕКтНЬ)Х г? 1 1

;.- ., г ; -)(ОДГЧИ ГЫНа-. Ь КОЛИЧЕСТВО НЕ—! 11810 исправных элементов и запоминать их адреса, для чего предусмотрены paçличные режимы работы.

Режим записи информации используется для запоминания состояния ячеек диагностируемой памяти с одновременным проведением предварительного анализа неисправностей.

В этом режиме анализируемая информация поступает на вход 29 (фиг. 1), а адресная последовательность подается на входы 27, 28. Перед проведением записи данных в устройство с входов 24 загружается содержимое регистра 19, содержашего критерий регистра 23, содержащего количество неисправных элементов, счетчика 17, считающего неисправные ячейки, и счетчика 21, считающего неисправные элементы памяти. Адреса строки и столбца диагностируемой памяти поступают соответственно через мультиплексоры 5 и 6 на адресные входы соответственно блоков 11 и 12 памяти, хранящих неисправные строки, неисправные столбцы, а также на адресные входы блока 10,хранящего анализируемую информацию,и информационные входы блока 20. Из блока 10 счи— танная информация поступает на вход элемента И 13. Одновременно анализируемая информация подается на инфор— мационные входы блоков 10-12 и на второй вход элемента И 13. Если на указанные входы поступает сигнал а новой неисправности,т.е. не зарегистрированной еще по данному адресу,та выхода элемента И 13 через элементы

ИЛИ 7-9 поступает сигнал записи на соответствующие входы блоков 11 — 12.

Сигнал с выхода элемента И 13 поступает также через элемент ИЛИ 16 на счетный вход счетчика 17,увеличивая

его содержимое. При достижении содержимым счетчика 17 величины, хранящейся в регистре 19,элемент сравнения 18 формирует сигнал в блок l,а такжеимпульс на счетном входе счетчика 21 и на входе записи блока 20, при этом увеличивается количество зарегистрированных неисправных элементов по критерию, равному содержимому регистра 19, а адрес этого элемента записывается в блок 20. После этого сигналом обнуления от блока 1 содержимое счетчика 17 обнуляется, и подсчет дефектов продолжается. В случае, когда количество неисправньгх элементов становится равным предельному, 10

30 т, E . величине хранящейся в ppI" ècò ре 23, элемент ср, внения 22 формирует сигнал в блок 1, означающий, чта исследуемая память полностью неисправна и не подлежит дальнейшему анализу. Результаты циагнастики памяти в режиме записи могут быть считани через выходы 25, В блок 20 могут быть записаны адреса всех неисправных ячеек, а в счетчик 21 — их количество. Для этого необходимо установить содержимое регистра 19 равным единице.

Режим поиска предназначен для выявления в массе дефектных ячеек диагностируемой памяти неисправных строк и столбцов по заранее заданному критерию.

В этом режиме в регистр 19 записывается число, определяющее минимильное количество неисправных ячеек в строке или столбце, при котором строка или столбец должны быть классифицированы как неисправные. Аналогично регистр 23 определяет критерий неисправности всей памяти. Содержимое счетчика 21 заранее загружается через входы 24. Информационные входы блоков 10-12 остаются свободными, что соответствует уровню логическога нуля. Через входы 24 в регистры блоков 3 и 4 загружаются начальные и конечные значения адресов циагнастируемого участка матрицы памяти.

Предположим, чта проводится поиск неисправных строк. Блок 1 управления, работая на частоте, определяемой генератором 2 вырабатывает

40 управляющие воздействия поступаюУ щие на выходы 26. Наличие на входах элементов И 14 и 15 сигнала с первого выхода регистра 30, означающего, что проводится поиск строк, запрещает прохождение импульсов с выхода блока 10 через элемент И 14 и разрешает — через элемент И 15. Сигнал "упр. MA" управление мультиплексорами 5 и 6, поступающий с выхода триггера 31 (фиг. 2), обеспечивает подключение выходов блока 3 ,и блока 4 сооответственно через мультиплексоры 5 и 6 к адресным входам соответственно блоков 11 и 12, а также к адресным входам блока 10

55 и информационным входам блока 20.

В начале первого такта работы устройства блок 1 посылает сигнал обнуления "Обн. СНЯ" на вход сброса м а пи и . 0 тли ч ит ел г и о и о с о б н и о с:т i,ю явл я е т с я то, ч т о а н ал и з и 1) уем а я и пформация предварительно уже з а и и1 сана в блоки 10-12 и адресная последовательность задается с помощью блока 3 и блока 4. Подобно режиму поиска, обращение к ячейкам анализируемого участка памяти может осуществляться с порядком обхода вдоль строк или вдоль столбцов, при этом строки (столбцы), не имеющие неисправных ячеек или уже квалифицированные как неисправные элементы в режиме поиска, при анализе пропускаются. В отличие от режима поиска неисправных строк (столбцов) при переходе к последующей строке (столбцу) обнуление счетчика 17 и запись нуля в блок ll (или блок !2) не производится. При критерии, равном едив счетчике 21 фиксируется колич< ство неисправных ячеек, не вхо, ящих в состав неисправных строк или столбцов, Адреса этих ячеек будут записаны в блок 20.

Режим обнуления предназначен для записи нулевой информации заданного участка проверяемой памяти. Блоки 3

t0 и 4 обеспечивают последовательный перебор всех адресов от начального до конечного значения на адресных входах блоков 10-12. Блок 1 формирует сигналы записи на одних из выходов блока 47, которые поступают соответственно на входы элементов

ИЛИ 7-9, а затем — на входы записи блоков 10-12. Поскольку вход 29 остается свободным, то в ячейки записывается нулевая информация.

Фиг 1 1 f! i

;, «t

1-!

1 (!

0 !

Г ...2

i ! I ...,.„...

Г""""" 1 =- (! ) уь,;,7

erg Р / rrr

Уо/Пф

Ь 05

r ,, ч,:, г -1 ЬИЮ у у, :1 (! — -1

t у

/ ( ф ( (I ! 1 (! УПЫ"й7 Д-0ТТ(.

Ь, )1

Г ", ц, - (/0rf/.Ю д,7,1 j

Фкл;(л,п ППП "Пятен r .3 ,«

:" У} у,.лаГП7 ff-dmdп77 ; — "=3

1=. = 1

Устройство для диагностики памяти Устройство для диагностики памяти Устройство для диагностики памяти Устройство для диагностики памяти Устройство для диагностики памяти Устройство для диагностики памяти 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к импульсной технике и может быть использовано в устройствах вычислительной техники и системах управления

Изобретение относится к вычислительной технике, в частности, к устройствам хранения информации, и может найти приме нение в специализированных системах хранения и обработки изображений, в ассоциативных параллельных процессорах при решении информационно-логических задач, задач поиска и сортировки данных, в устройствах обработки сигналов в реальном масштабе времени

Изобретение относится к полупроводниковому запоминающему устройству, содержащему схему обнаружения и исправления множественных ошибок

Изобретение относится к способам записи в энергонезависимую память и может быть использовано в приборах, осуществляющих хранение и обновление оперативной информации в процессе своей работы

Изобретение относится к устройствам тестирования электронных элементарных схем и групповых линий соединений

Изобретение относится к средствам для программирования/стирания электрически стираемых программируемых полупроводниковых постоянных запоминающих устройств

Изобретение относится к области автоматики и вычислительной техники

Изобретение относится к электронным запоминающим устройствам (ЗУ) с электрически программируемыми ячейками
Наверх