Способ измерения разности фаз между двумя напряжениями
Класс 21е, 36о-.
Эй 127332
СССР
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
В. С. Голуб
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ РАЗНОСТИ ФАЗ МЕЖДУ ДВУМЯ
НАПРЯЖЕН ИЯМИ
Заявлено 1 апреля 1959 г. за ¹ 623940/24 в Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Опубликовано в «Бюллетене изобретений» ¹ 7 за 19611 г.
Предлагаемый способ измерения разности фаз между двумя напря НИ Я 1И, 110$00HO И 3HC .тп11. 1 О:Ци 1, „ ГP < ô 119." КИЗ1 C 110 063 M, 331 110 13 егся в том, что 1;а вход католного о цпллографа полают измеряемые напряжения через полупроводниковые диоды и искомую разность определяют по огибаюшей наложенных друг на друга полупериодов напряжений. Способ может применяться только при отсутствии разделительной емкости на входе осциллографа. Особенностью способа является наличие третьего полупроводникового диода, шунтирующего вход осциллографа.
Предлагаемый способ позволяет исключить влияние обратных -опротивлений полупроводниковых диодов, через которые подают измеряемые напряжения.
Сущность предлагаемого способа поясняется чертежом, на котором изображена схема устройства для определения разности фаз между дву— мя напряжениями.
На вход катодного осциллографа, у которого отсутствует разделительная емкость на входе, через кристаллические диоды Д и Д подают переменные напряжения с7„и О,-, разность фаз которых требуется измерить. В результате детектирования на экране осциллографа получаегся изображение огибающей наложенных друг на друга полупериодов обоих переменных напряжений, по которой определяется шкальная разность фаз.
Схема, показанная на чертеже, служит для исследования фазосдвигающего устройства Ф, получающего питание оТ источника О переменного напряжения U, и дающего на выходе напряжс1ше U„-.
Применение третьего диода Дз, вызывается тем, что конечная величина обратных сопротивлений кристаллических диодов Pi и Дв допускает просачивание искажающего напряжения отрицательных полупериодов, а наличие диода Дз обеспечивает шунтирование отрицательных напряж — ний на входе осциллографа, не влияя на форму напряжения положитеai.ных полупериодов. — 2— № 127332
Предмет изобретения
Комитет по пелам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Редактор В. М. Парнес Гр. 95
Поди. к пеи. 24,III 50
Тираж 050 Цена 25 коп
И формапиопно-издательский отдел.
Объем 0,17 п. л. Зак. 2а02 Типографии Комитета по делам изобретении и открытии прп Совете М:.r»петров ГОДАР
Москва, Петровка, 14.
Способ измерения разности фаз между двумя напряжениями, состоящий в том, что на вход катодного осциллографа, не имеющего входной разделительной емкости, подают измеряемые напряжения через полупроводниковые диоды и искомую разность определяют по огибающей наложенных друг на друга полупериодов напряжений, о т л и ч а ющийся тем, что, с целью исключения влияния обратных сопротивлений полупроводниковых диодов, вход катодного осциллографа шунтируют третьим полупроводниковым диодом, вк.почен ым встречно первым двум.
