Датчик для измерения параметров листовых материалов

Авторы патента:

G01N22 - Исследование или анализ материалов с использованием сверхвысоких частот (G01N 3/00- G01N 17/00,G01N 24/00 имеют преимущество)

ДАТЧИК ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ЛИСТОВЫХ МАТЕРИАЛОВ содержащий отрезок прямоугольного волновода , в серединах широких стенок которого прорезаны продольные щели, расположенные одна против другой, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений параметров листовых материалов в виде резистивных пленок на диэлектрической подложке, продольные щели имеют треугольную форму.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН (51)4 G 01 N 22 00

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3465821/24-09 (22) 07.07.82 (46) 07. 11 ° 85. Бюл. К -41 (72) И.М. Бравер, Х.Л. Гарб .и П.В. Николаев (53) 621. 317. 39 (088. 8) (56) Авторское свидетельство СССР

9 885868, кл. G 01 N 22/00, 1981.

Mair Н. G.,Ein Verfahren Zur

° It

1:.es sung der Koml exen Die 1 ektr iz >a t.szahl чоп Folien und dunen Platten

I It

im 4ikrowellenbereich. вЂ” Ггедиепк

1970, 24, К - 10, р. 303-307.

„„Я0„„1 90242 (54) (57) ДАТЧИК ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ЛИСТОВЫХ МАТЕРИАЛОВ, содержащий отрезок прямоугольного волновода, в серединах широких стенок которого прорезаны продольные щели, расположенные одна против другой, отличающийся тем, что, с целью повьппения точности измерений параметров листовых материалов в виде резистивных пленок на диэлектрической подложке, продольные щели имеют треугольную форму.

Изобретение относится к технике измерений на СВЧ и может использоваться для измерения поверхностного сопротивления резистивных пленок на диэлектрической подложке, в частности для контроля поверхностного сопротивления резистивного покрытия поглощающих пластин поляризационных аттенюаторов, фильтров типов волн, оконечных нагрузок и др. в процессе их изготовления.

Целью изобретения является повышение точности измерений параметров листовых материалов в виде резистивных пленок на диэлектрической подложке.

На фиг. 1 приведена структурная электрическая схема датчика для измерения параметров листовых материалов; на фиг. 2. вЂ” конструкция датчика для измерения параметров листовых материалов; на фиг. 3вЂ” график для определения поверхностного сопротивления.

Устройство для измерения параметров листовых материалов содержит источник 1 СВЧ-сигнала, направленный ответвитель 2 подающей волны, направленный ответвитель 3 отражен190242 г ной волны датчик 4 для измерения параметров листовых материалов, выполненный в виде отрезка прямоугольного волновода 5 с продольными щелями 6, направленный ответвитель 7 прошедший волны (или другой измери,тель ослабления), индикатор 8 (измеритель отношений).

Измерение параметров листовых мате

10 риалов осуществляется следующим образом.

Устройство для измерения параметров листовых материалов калибруется по отраженному и/или прошедшему сигналу без резистивной пленки на диэлектрической подложке. В отрезок прямоугольного волновода 5. через продольные щели 6 вводится диэлектрическая подложка с резистивной .пленкой, поверхностное сопротивление которой подлежит измерению.

Измеряется уровень отраженного и/или поглощенного сигнала, по которому вычисляются поверхностное со25 противление резистивной пленки с использованием рассчитанных заранее градиентов, зависимости коэффициента отражения и затухания от величины поверхностного сопротивления. фиг,2

1190242

LCD

f00

Pun.J

Заказ 6971/45

Тираж 896 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Иосква, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Составитель P.Кузнецова

Редактор:Л.Гратилло Техред О.Неце Корректор О.Луговая

Датчик для измерения параметров листовых материалов

Похожие патенты:

Автоматический свч-влагомер // 1188607

Устройство для измерения влажности // 1185200

Измеритель толщины диэлектрических и полупроводниковых материалов // 1185199

Спектрометр миллиметрового излучения // 1185198

Измерительная ячейка газового спектрометра и способ ее дегазации // 1183873

Способ определения параметров неоднородностей электронной концентрации ионосферы // 1182355

Устройство для обнаружения трещин // 1180765

Способ определения влажности // 1177760

Устройство для измерения влажности материалов // 1171704

Устройство для поиска биологически активных радиочастот // 1167483

Способ исследования подповерхностных слоев объектов // 2101694

Изобретение относится к радиолокации, а именно к способам исследования подповерхностных слоев различных объектов

Способ изменения свойств материалов и устройство для его осуществления - генератор "эмитоп" // 2102233

Изобретение относится к созданию материалов с заданными свойствами при помощи электрорадиотехнических средств, что может найти применение в химической, металлургической, теплоэнергетической, пищевой и других отраслях промышленности

Датчик поточного влагомера // 2102731

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам измерения влажности, и может быть использовано в тех отраслях народного хозяйства, где влажность является контролируемым параметром материалов, веществ и изделий

Способ определения диэлектрической проницаемости материала // 2103673

Изобретение относится к радиотехнике, а именно к технике измерений макроскопических параметров сред и материалов, и, в частности, может использоваться при неразрушающем контроле параметров диэлектрических материалов, из которых выполнены законченные промышленные изделия

Устройство для контроля электромагнитной сплошности поверхности изделий // 2103674

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для неразрушающего контроля состояния поверхности конструкционных материалов и изделий и может быть использовано в различных отраслях машиностроения и приборостроения

Устройство для контроля дефектов в изделиях из диэлектрических материалов // 2103700

Изобретение относится к технике измерений с помощью электромагнитных волн СВЧ диапазона и может использоваться для дефектоскопии строительных материалов различных типов с различной степенью влажности

Компьютерный томограф // 2103920

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля и может использоваться для томографического исследования объектов и медицинской диагностики при различных заболеваниях человека, а также для лечения ряда заболеваний и контроля внутренних температурных градиентов в процессе гипертермии

Способ определения границ фазовых переходов в полимерах // 2104515

Изобретение относится к области исследования свойств и контроля качества полимеров в отраслях промышленности, производящей и использующей полимерные материалы

Способ исследования объектов квч воздействием // 2108566

Изобретение относится к исследованию объектов, процессов в них, их состояний, структур с помощью КВЧ-воздействия электромагнитных излучений на физические объекты, объекты живой и неживой природы и может быть использован для исследования жидких сред, растворов, дисперсных систем, а также обнаружения особых состояний и процессов, происходящих в них, например аномалий структуры и патологии в живых объектах

Устройство для измерения сплошности потоков криопродуктов // 2108567

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения сплошности потоков диэлектрических неполярных и слабополярных сред, преимущественно криогенных