Фотометрический шар для абсолютных измерений
ФОТОМЕТРИЧЕСКИЙ ШАР ДЛЯ А СОЛЮТНЫХ ИЗМЕРЕНИЙ, содержащий по ходу излучения входное отверстие, верстия для исследуемого образца и приемника излучения, между которым установлен прозрачный экран, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений путем исключения влияния отвер тий независимо от длины волны излу чения, в свободном от отверстий участке поверхности шара выполнено дополнительное отверстие, причем коэффициент первого отражения поверхности шара, ограниченной диаметром пучка излучения и содержащей дополнительное отверстие, равен эффективному коэффициенту первого отражения всей внутренней поверхности фотометрического шарар , определяемому по формуле , ,.iL|S л Э; f площадь внутренней поверхности шара, в котором отсутствуют отверстия; коэффициент отражения свободного от отверстий участка его поверхности; площадь и коэффициент отражения j-ro отверстия в шаре.
СОЮЗ СОВЕТСНИХ
СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ
РЕСПУБЛИК
„„SU „„1187030 ()4 G 01 N 21/55
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР
ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ
Ф 1
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ, " /
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ чения, в свободном от отверстий участке поверхности шара выполнено дополнительное отверстие, причем коэффициент первого отражения поверхности шара, ограниченной диаметром пучка излучения и содержащей дополнительное отверстие, равен эффективному коэффициенту первого отражения всей внутренней поверхности фотометрического шара у, определяемому з 01 по формуле
I- )Б, 1
Р o = f o
° ( (21) 3485983/24-25 (22) 02.09.82 (46) 23.10.85. Бюл. ¹ 39 (72) M.A. Бухштаб (53) 535.242 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР
¹ 759863, кл. С 01 J 1/04, 1980.
Топорец А.С. Приспособление к спектрофотометру СФ-4 с интегрирующим шаром для измерения коэффициентов отражения и пропускания.
Оптика и спектроскопия, Т.Х, вып. 4, с. 528. (54)(57) ФОТОМЕТРИЧЕСКИЙ1 ШАР ДЛЯ АБСОЛЮТНЫХ ИЗМЕРЕНИЙ, содержащий по ходу излучения входное отверстие, отверстия для исследуемого образца и приемника излучения, между которыми, установлен прозрачный экран, о т— л и ч а ю шийся тем, что, с целью повышения точности измерений путем исключения влияния отверстий независимо от длины волны излугде Б — площадь внутренней поверхности шара, в котором отсутствуют отверстия; о — коэффициент отражения свого бодного от отверстий участка его поверхности; и у. — площадь и коэффициент отf
1 ) ражения j-го отверстия в шаре °
1187030
Изобретение относится к оптическому приборостроению, в частности фото- и спектрофотометрии, и может быть использовано в научных исследованиях, метрологии и промышлен- 5 ности °
Цель изобретения — повышение точности измерений путем исключения влияния отверстий независимо от длины волны излучения.
На чертеже изображены фотомет— рический шар с оптической системой, формующей излучение.
Система включает источник 1 .излу- чения, апертурную диафрагму 2, зеркало 3, а фотометрический шар содержит входное отверстие 4, отверстие с образцом 5, которое отделено от приемника 6 непрозрачным экраном 7, в свободной поверхности учась 20 ка шара 8 выполнено дополнительное отверстие 9.
Устройство работает следующим образом.
Когда зеркало 3 и экран 7 стоят 25 в показанном пунктиром положении, свет попадает на участок поверхности шара 8, в котором имеется дополнительное отверстие 9 такого размера, что выполняется следующее соотношение: о 54
Jc9 g =f 5 -Уо
S -5
Кф о 4 о у где К вЂ” коэффициент пропорциональности;
30 Ф вЂ” поток входящего в шар излучения; р — эффективный спектральный коэффициент отражения всей внутренней поверхности шара.
Когда свет направляют на исследуемый объект с коэффициентом отражения р, отсчет N равен о 4 о
S я- -Sy
«Ю
8о 4
6î
0 Уо
40 откуда
N и о поэтому для любой длины волны коэффициент отражени- будет определяться без систематической погрешности.
Составитель М. Стукова
Редактор Е. Папп Техред О.Неце Корректор С. Черни
Заказ 6539/47 Тираж 896 Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета СССР го делам изобретений и открытий
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д.4/5
Филиал ППП "Патент", r. Ужгород, ул. Проектная, 4 где S — площадь участка поверхности шара 8;
S — площадь внутренней поверхности шара;
Яя — площадь отверстия 9;
S4 — площадь входного отверстия 4.
В предлагаемой конструкции шара свет, первый раз отразившись от исследуемого образца, может потеряться только во входном отверстии, которое ничем не закрыто, поэтому где f > — спектральный коэффициент отражения покрытия внутренней поверхности шара; у „ вЂ” эффективный спектральный коэффициент первого отражения всей внутренней поверхности шара.
Следовательно где р — коэффйциент отражения с участка поверхности шара с дополнительным отверстием.
Отсчет приемника при освещении используемого вместо эталона участка поверхности шара равен

