Прецизионный спекторфотометр

 

1. ПРЕЦИЗИОННЫЙ СПЕКТРОФОТОМЕТР , содержащий оптически связанные между собой источник излучения, линзу, светоделительное устройство, модулятор и приемное устройство, отличающийся тем, что, с целью повышения т.очности изд ерений, светод(глительное устройство вьшолнено в виде интерферометра типа Жамена, модулятор выполнен в виде диска и расположен между пластинами интерферометра , причем диск модулятора имеет по крайней мере одну щель. 2. Спектрофотометр, по п.1, от личающийся тем, что, с це ,лью. повышения светосилы, на.передние i поверхности пластин интерферометра нанесены полупрозрачные покрытия. СЛ

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕаЪБЛИН

„„SU„„1173201 (и)4 G 0

ГОСУДАРСТЭЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

FlO ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 3562813/24.-25 (22) 14.03.83 (46) 15.08.85. Бюл. ¹ 30, (72) Л.И.Альперович и С.В.Сальников (71) Таджикский государственный университет им.В.И.Ленина (53) 535.853(088.8) (56) Sell D. А senvitive spectropho-.

tometer for optical reflectance measurements. — Appl. 0pt, 1970, 9, N- 10, 1976.

Патент CIUA ¹ 4092069, кл. G 01 J 3/42, 1978. (54) (57) 1. ПРЕЦИЗИОННЫЙ СПЕКТРОФОТОМЕТР, содержащий оптически связан ные между собой источник излучения, линзу, светоделительное устройство, модулятор и приемное устройство, отличающийся тем, что, с целью повьппения точности измерений, .светоделительное устройство выполнено в виде интерферометра типа Жамена, модулятор выполнен в виде диска и расположен между пластинами интерферометра, причем диск модулятора имеет по крайней мере одну щель.

2. Спектрофотометр, по п. 1, о т— л и ч а ю шийся тем, что, с це;лью. повышения светосилы, на передние

С2 поверхности пластин интерферометра щ нанесены полупрозрачные покрытия.

1 117320

Изобретение относится к оптическо. му спектральному приборостроению и предназначено для измерения оптических характеристик поглощающих сред и отражающих поверхностей. 5

Целью изобретения является повышение точности измерений.

На чертеже представлена блок-схема устройства.

На схеме показаны источник света 10

t, линза 2, плоскопараллельные пластины 3 с полупрозрачным покрытием 4, образец 5, эталон 6, модулятор 7, фотоприемник 8, электронные ключи

9 и 10 для разделения сигнала, датчи-15 ки 11 и 12 сигнала управления ключами, система 13 обработки сигнала, лучи 14 и 15 интерферометра, щели 16 и отверстия 17 и 18 в модуляторе.

Свет от источника 1 преобразует- 20 ся линзой 2 в параллельный световой луч и подается на первую пластину 3 интерферометра, где он с помощью полупрозрачного покрытия 4 разделяется на два луча 14 и 15. Далее луч 14 25 попадает на образец 5, а луч 15 — на эталон 6 и, поочередно проходя через отверстия 17 и 18 модулятора, они попадают на пластину 3, после чего сводятся на фотоприемнике 8. 30

Во время работы при вращении модулятора 7 лучи попадают на фотоприемник поочередно, поскольку отверстия

17 и 18 смещены одно относительно другого на некоторый-угол, .т.е. луч

1 2

15 проходит через образец 6 и через одно из отверстий 17 попадает на покрытие 4 второй пластины 3 и, отражаясь от нее, попадает на фотоприемник

8, который вырабатывает сигнаЛ, про-: порциональный величине светового потока. В этот же момент временной датчик 11 управления ключами формирует управляющий импульс, который открывает ключ 9, и сигнал с фотоприемника подается в систему 13 обработки сигнала. При дальнейшем повороте модулятора перекрывается луч 15 и открывается луч 14, который проходит через отверстие 18, через пластину 3 и попадает на фотоприемник 8. В этом случае датчик 12 выдает сигнал управления и сигнал пропускания в систему обработки 13 через ключ 10.

Юстировка устройства осуществляется получением на фотоприемнике 8 интерференционных полос бесконечной ширины, для чего в устройстве предусмотрена возможность плавного перемещения. пластин 3 и в модуляторе сделаны специальные щели 16, позволяющие пропускать одновременно оба луча.

Критерием идентичности обоих каналов является интерференционная картина при строго параллельном расположении пластин интерферометра. По нулевому максимуму интерференционной картины контролируют качество сведения лучей с точностью длины волны.

1173201

Составитель С.Иванов

Редактор M.Öèòêèíà Техред M.Ttàðoöàé КорректоР В.Синицкая

Заказ 5039/38 Тираж 897 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д;4/5

Филиал ППП "Патент", r.Óæãoðoä, ул.Проектная, 4